Global Patent Index - EP 0060378 A2

EP 0060378 A2 19820922 - Method and apparatus to give information about the localizations of flaws.

Title (en)

Method and apparatus to give information about the localizations of flaws.

Title (de)

Verfahren und Anordnung zum Ausgeben von Fehlerortsinformationen.

Title (fr)

Procédé et appareil pour donner des informations sur la localisation de défauts.

Publication

EP 0060378 A2 19820922 (DE)

Application

EP 82100213 A 19820114

Priority

DE 3109437 A 19810312

Abstract (en)

1. A method for marking the locations of flaws on an elongate testpiece wherein : - the testpiece (10) is moved in the longitudinal direction relative to a test region in which the surface of the testpiece is cyclically repeatedly scanned for flaws, transversely to the longitudinal direction of the testpiece, - a marking command is formed from the flaw signals (F) which are respectively obtained in the scanning operation, and from reference signals (V, R) associated with the respectively scanned surface region and the scanning cycle, said marking command causing marking of the testpiece, to indicate the location of a flaw in the longitudinal and the transverse directions, characterised in that to form the marking command, first and second marking signals are generated at times which are at a spacing from each other corresponding to the lateral displacement (a; g) of the respective flaw (60) from a reference line (34) extending in the longitudinal direction of the testpiece, and one of which is representative of the location of the flaw in the longitudinal direction of the testpiece, and the marking of the flaw is formed by two separate marker marks (56, 58; 106, 108) which are respectively applied in response to one of the marker signals, in such a way that one of the marker marks denotes the location of the flaw in the longitudinal direction of the testpiece and the spacing (b; h) of the marker marks from each other in the longitudinal direction denotes the lateral displacement (a; g) of the flaw from said reference line.

Abstract (de)

Bei der vorliegenden Erfindung geht es darum, die von einem zerstörungsfreien Fehlerprüfgerät gewonnenen zweidimensionalen Fehlerortsinformationen in geeigneter Weise durch Markierungen an der Prüfteiloberfläche auszugeben. Bisher wurde die Breite des abgetasteten Prüfteiles in eine mehr oder weniger grosse Anzahl von Abschnitten (bei Rohren: von Sektoren) aufgeteilt, jedem Abschnitt eine Markiereinrichtung zugeteilt und der in einem Abschnitt fallende Fehler durch eine Markierung im entsprechenden Abschnitt und am entsprechenden longitudinalen Ort bezeichnet. Nach der Erfindung kann mit nur zwei Markiereinrichtungen eine genauere Fehlerortsangabe bewirkt werden. Die erste Markiereinrichtung (44) gibt in bekannter Weise den longitudinalen Fehlerort an. Durch die zweite, nahe bei der ersten angebrachten Markiereinrichtung (46) wird in Verbindung mit der ersten der transversale Fehlerort in Längsrichtung des Prüfteils codiert angegeben. Das geschieht, indem man den Abstand b zwischen zwei Markierungen (56, 58) der Markiereinrichtungen (44 bzw. 46) ein Maß bilden läßt für die transversale Ablage des Fehlers (60) von einer definierten Referenzlinie (34) am Prüfteil (10).

IPC 1-7

G01N 37/00; G01N 27/90

IPC 8 full level

G01N 27/90 (2006.01); G01N 29/04 (2006.01)

CPC (source: EP)

G01N 27/9093 (2013.01); G01N 29/048 (2013.01)

Designated contracting state (EPC)

FR GB IT SE

DOCDB simple family (publication)

EP 0060378 A2 19820922; EP 0060378 A3 19830413; EP 0060378 B1 19850626; DE 3109437 A1 19820923; DE 3109437 C2 19851010

DOCDB simple family (application)

EP 82100213 A 19820114; DE 3109437 A 19810312