Global Patent Index - EP 0163679 A1

EP 0163679 A1 19851211 - METHOD FOR THE NON-DESTRUCTIVE TEST OF SURFACE DEFECTS.

Title (en)

METHOD FOR THE NON-DESTRUCTIVE TEST OF SURFACE DEFECTS.

Title (de)

VERFAHREN ZUR ZERSTÖRUNGSFREIEN PRÜFUNG VON OBERFLÄCHENDEFEKTEN.

Title (fr)

PROCEDE POUR L'EXAMEN NON DESTRUCTIF DE DEFAUTS DE SURFACE.

Publication

EP 0163679 A1 19851211 (DE)

Application

EP 84904130 A 19841116

Priority

DE 3342855 A 19831126

Abstract (en)

[origin: WO8502464A1] In a method for the non-destructive test of surface defects, there is applied to the surface a solution with one or a plurality of dyes which do not emit any radiation under the effect of ultra-violet light. The solution in excess after penetration of the latter into the surface defects is wiped away and the surface is covered with a day light-sensitive developer layer which contains from 0.02 to 2.0% by weight of one or a plurality of clearing agents. The coating layer absorbs the colour remaining in the surface defects which appear as black traces under the effect of ultra-violet light.

Abstract (fr)

Dans un procédé pour l'examen non destructif de défauts de surface, on applique sur la surface une solution avec un ou plusieurs colorants qui n'émettent aucun rayonnement sous l'effet de la lumière ultra-violette. La solution superflue après pénétration de celle-ci dans les défauts de surface est essuyée et la surface est recouverte d'une couche de révélateur sensible à la lumière du jour qui contient en poids 0,02 à 2,0% en poids de un ou plusieurs agents éclaircissants. La couche de revêtement absorbe les couleurs demeurées dans les défauts de surface, et ces défauts apparaissent sous forme de traces noires sous l'effet de la lumière ultra-violette.

IPC 1-7

G01N 21/91

IPC 8 full level

G01N 21/91 (2006.01)

CPC (source: EP US)

G01N 21/91 (2013.01 - EP US)

Designated contracting state (EPC)

AT BE CH DE FR GB LI NL SE

DOCDB simple family (publication)

WO 8502464 A1 19850606; BR 8407191 A 19851105; DE 3342855 A1 19850605; DE 3342855 C2 19890209; DK 324485 A 19850717; DK 324485 D0 19850717; EP 0163679 A1 19851211; ES 537861 A0 19870101; ES 8702655 A1 19870101; FI 83912 B 19910531; FI 83912 C 19910910; FI 852799 A0 19850717; FI 852799 L 19850717; IT 1177320 B 19870826; IT 8423732 A0 19841126; JP S61500507 A 19860320; NO 852919 L 19850723; US 4641518 A 19870210

DOCDB simple family (application)

EP 8400362 W 19841116; BR 8407191 A 19841116; DE 3342855 A 19831126; DK 324485 A 19850717; EP 84904130 A 19841116; ES 537861 A 19841122; FI 852799 A 19850717; IT 2373284 A 19841126; JP 50421784 A 19841116; NO 852919 A 19850723; US 76206585 A 19850725