Global Patent Index - EP 0196310 A1

EP 0196310 A1 19861008 - INTEGRATED CIRCUIT TESTER AND REMOTE PIN ELECTRONICS THEREFOR.

Title (en)

INTEGRATED CIRCUIT TESTER AND REMOTE PIN ELECTRONICS THEREFOR.

Title (de)

PRÜFGERÄT FÜR INTEGRIERTE SCHALTUNGEN MIT SEPARATEM PRÜFSTIFTKOPF.

Title (fr)

CONTROLEUR DE CIRCUITS INTEGRES ET TELECIRCUITS ELECTRONIQUES A BROCHES.

Publication

EP 0196310 A1 19861008 (EN)

Application

EP 85904562 A 19850909

Priority

US 65681084 A 19841001

Abstract (en)

[origin: WO8602167A1] Electronic and measuring circuits located remotely from the test head. A low device count circuit (20) at each pin (21) performs the necessary high speed switching. The force and measure lines are relatively long, but the signal rates are low enough to be accurately transmitted. The only high rate signals are on lines coupled to the gates of FET switches (25, 26, 30, 31, 35, 36) at the test head. Thus, multiple pin, high speed testing can be accomplished using relatively small and inexpensive test heads.

Abstract (fr)

Des circuits électroniques et de mesure se situent à distance de la tête de contrôle. Un circuit de comptage (20) de dispositif bas effectue la commutation rapide nécessaire au niveau de chaque broche (21). Les lignes de force et de mesure sont relativement longues, mais les débits de signaux sont assez bas pour être transmis avec précision. Les seuls signaux à débit élevé sont ceux transmis par des lignes couplées aux circuits de porte de commutateurs de TEC (25, 26, 30, 31, 35, 36) au niveau de la tête de contrôle. Il devient ainsi possible de procéder à des contrôles de broches multiples et à haute vitesse en utilisant des têtes de contrôle relativement petites et économiques.

IPC 1-7

G01R 31/28

IPC 8 full level

G01R 31/28 (2006.01); G01R 31/319 (2006.01)

CPC (source: EP KR)

G01R 31/28 (2013.01 - KR); G01R 31/31924 (2013.01 - EP)

Citation (search report)

See references of WO 8602167A1

Designated contracting state (EPC)

DE FR GB IT

DOCDB simple family (publication)

WO 8602167 A1 19860410; EP 0196310 A1 19861008; JP S62500319 A 19870205; KR 880700274 A 19880222; KR 930000545 B1 19930125

DOCDB simple family (application)

US 8501712 W 19850909; EP 85904562 A 19850909; JP 50398885 A 19850909; KR 860700321 A 19860531