Global Patent Index - EP 0457819 A1

EP 0457819 A1 19911127 - FAULT MASKING IN SEMICONDUCTOR MEMORIES.

Title (en)

FAULT MASKING IN SEMICONDUCTOR MEMORIES.

Title (de)

FEHLERMASKIERUNGEN IN HALBLEITERSPEICHERN.

Title (fr)

MASQUAGE DES DEFAILLANCES DANS DES MEMOIRES A SEMI-CONDUCTEURS.

Publication

EP 0457819 A1 19911127 (EN)

Application

EP 90903208 A 19900213

Priority

GB 8903180 A 19890213

Abstract (en)

[origin: WO9009634A1] A random access memory device with a memory addressable by row and column is addressed by a source of binary addresses defining a linear address space via row and column decoders responsive to respective groups of bits from the address source to address individual rows and columns respectively of the memory. The bits are permuted between the address source and the decoders so that at least the higher order bits from the address source are applied to row and column decoders alternately. The memory is thus accessed in rectangular blocks, called tiles, which, by virtue of the interleaving of bits are arranged in a tiling pattern shifting alternately in the row direction and the column direction.

Abstract (fr)

Une mémoire à accès sélectif, adressable par ligne et colonne, est adressée par une source d'adresses binaires définissant un espace d'adresses linéaire via les décodeurs de lignes et de colonnes sensibles à des groupes respectifs de bits de la source d'adresse pour adresser respectivement des lignes et colonnes individuelles de la mémoire. Les bits sont permutés entre la source d'adresse et les décodeurs de sorte qu'au moins les bits de poids fort de la source d'adresse soient appliqués en alternance à des décodeurs de ligne et de colonne. L'accès à la mémoire se fait ainsi dans des blocs rectangulaires appelés carreaux, qui, en raison de l'imbrication des bits, sont disposés en une configuration à carreaux se décalant en alternance dans le sens des lignes et dans le sens des colonnes.

IPC 1-7

G06F 11/20; G06F 12/06

IPC 8 full level

G11C 29/00 (2006.01); G06F 11/00 (2006.01)

CPC (source: EP)

G11C 29/88 (2013.01); G11C 29/006 (2013.01); G11C 29/86 (2013.01)

Citation (search report)

See references of WO 9009634A1

Designated contracting state (EPC)

DE FR GB

DOCDB simple family (publication)

WO 9009634 A1 19900823; EP 0457819 A1 19911127; GB 8903180 D0 19890330

DOCDB simple family (application)

GB 9000228 W 19900213; EP 90903208 A 19900213; GB 8903180 A 19890213