Title (en)

Method and device for measuring electron beam convergence in a colour cathode ray tube.

Title (de)

Verfahren und Vorrichtung zur Konvergenzmessung bei einer Farbbildröhre.

Title (fr)

Procédé et dispositif pour déterminer le convergence du faisceau d'électron d'un tube à rayons cathodique.

Publication

EP 0574837 A1 19931222 (DE)

Application

EP 93109342 A 19930611

Priority

DE 4219641 A 19920616

Abstract (en)

A method and a device are specified for measuring the position of an electron beam in a multi-beam colour cathode ray tube with respect to the field of view of an image converter whose electron beam produces a bright-up pattern (brightness pattern) on the screen of the tube, the screen having fluorescent strips for different colours, and a shadow mask being provided in front of it which has elongated slots in the direction of the fluorescent strips. On the basis of known methods, in the case of which an electron distribution pattern is produced and is converted into a charge pattern, with the aid of an image converter, for subsequent evaluation, the invention specifies that the electron distribution pattern which is produced has dimensions of a few millimetres and at least one edge of it is inclined with respect to the longitudinal direction of the mask slots, and that the bright-up pattern is imaged on the image converter such that it completely fits the image converter's field of view. The inclined pattern edges ensure that sudden changes in measured values (measurements) are avoided. <IMAGE>

Abstract (de)

Es wird ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen der Lage eines Elektronenstrahls einer Mehrstrahl-Farbbildröhre zum Gesichtsfeld eines Bildwandlers angegeben, deren Elektronenstrahl ein Helligkeitsmuster auf dem Bildschirm der Röhre erzeugt, wobei der Bildschirm Leuchtstoffstreifen für unterschiedliche Farben aufweist und vor ihm eine Schattenmaske mit langgestreckten Schlitzen in Richtung der Leuchtstoffstreifen vorhanden ist. Ausgehend von den bekannten Verfahren, bei welchen ein Elektronenverteilungsmuster erzeugt und mit Hilfe eines Bildwandlers zur späten Auswertung in ein Ladungsmuster gewandelt wird, wird erfinderisch angegeben, daß als Elektronenverteilungsmuster ein solches erzeugt wird, das Abmessungen von einigen Millimeter hat und bei dem mindestens eine Kante schräg zur Längsrichtung der Maskenschlitze steht, und daß das Helligkeitsmuster so auf dem Bildwandler abgebildet wird, daß er ganz in dessen Gesichtsfeld paßt. Durch die schrägen Musterkanten ist gewährleistet, daß sprunghafte Meßwertänderungen vermieden werden. <IMAGE>

IPC 1-7

H01J 9/44; H04N 17/04

IPC 8 full level

H01J 9/42 (2006.01); H01J 9/44 (2006.01); H04N 17/04 (2006.01)

CPC (source: EP US)

H01J 9/44 (2013.01 - EP US); H04N 17/04 (2013.01 - EP US)

Citation (search report)

• [AD] EP 0087652 A1 19830907 - INT STANDARD ELECTRIC CORP [US], et al
• [A] EP 0442685 A1 19910821 - SONY CORP [JP]

Designated contracting state (EPC)

DE FR IT NL

DOCDB simple family (publication)

EP 0574837 A1 19931222; EP 0574837 B1 19960515; DE 4219641 A1 19931223; DE 59302571 D1 19960620; JP H06169476 A 19940614; US 5404164 A 19950404

DOCDB simple family (application)

EP 93109342 A 19930611; DE 4219641 A 19920616; DE 59302571 T 19930611; JP 14517593 A 19930616; US 7331393 A 19930608