Title (en)

Method and device for measuring the electron density distribution of an electron beam.

Title (de)

Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Elektronendichteverteilung eines Elektronenstrahls.

Title (fr)

Procédé et dispositif pour déterminer le distribution de densité d'électron d'un faisceau d'électron.

Publication

EP 0574838 A1 19931222 (DE)

Application

EP 93109343 A 19930611

Priority

DE 4219627 A 19920616

Abstract (en)

The invention relates to measuring the electron beam density of electron beams in shadow mask tubes. For this purpose, the beam is displaced over the screen in accordance with a known method and pictures of the luminous spot regions are recorded which can be detected when masking means are effective when the beam is displaced. The pictures are then evaluated with respect to the luminance distribution. This method requires extremely intensive adjustment. For this reason, it is specified, according to the invention, that the pictures are recorded by an image converter camera, that luminous spots are generated in the entire field of view of the image converter which are used as simulated masking means in the detection of the luminous spot section, and that for determining the luminance distribution, the step length of displacement is selected in such a manner that the luminous spot sections which can be detected before a displacement step are just no longer detectable after the displacement step, that the camera takes a picture of the first displacement step and after each displacement step and that all pictures are stored and are assembled to form a total picture of the luminance distribution. <IMAGE>

Abstract (de)

Die Erfindung befaßt sich mit der Messung der Elektronenstrahldichte von Elektronenstrahlen bei Schattenmaskenröhren. Nach einem bekannten Verfahren wird dazu der Strahl über den Schirm verschoben und Bilder von den Leuchtfleckengebieten aufgenommen, wie sie bei Verschiebung des Strahls bei Wirkung von Blendmitteln erkennbar sind. Sodann werden die Bilder bezüglich der Leuchtdichteverteilung ausgewertet. Dieses Verfahren ist außerordentlich justageintensiv. Deshalb wird erfindungsgemäß angegeben, daß die Bilder von einer Bildwandlerkamera aufgenommen werden, daß im gesamten Gesichtsfeld des Bildwandlers Leuchtflecke erzeugt werden, die als simulierte Blendmittel bei der Leuchtfleckabschnittserkennung dienen, und daß zur Feststellung der Leuchtdichteverteilung die Verschiebeschrittweite so gewählt ist, daß die vor einem Verschiebeschritt erkennbaren Leuchtfleckabschnitte nach dem Verschiebeschnitt gerade nicht mehr erkennbar sind, daß die Kamera von dem ersten und nach jedem Verschiebeschritt ein Bild aufnimmt und daß alle Bilder gespeichert und zu einem Gesamtbild für die Leuchtdichteverteilung zusammengesetzt werden. <IMAGE>

IPC 1-7

H04N 17/04; H01J 9/44

IPC 8 full level

H01J 9/42 (2006.01); G01B 11/03 (2006.01); H01J 9/44 (2006.01); H04N 17/04 (2006.01)

CPC (source: EP US)

H01J 9/44 (2013.01 - EP US); H04N 17/04 (2013.01 - EP US)

Citation (search report)

• [A] US 4602272 A 19860722 - DUSCHL ROBERT A [US]
• [A] EP 0030259 A1 19810617 - IBM [US]
• [A] DISPLAYS Bd. 7, Nr. 1, Januar 1986, GUILDFORD GB Seiten 17 - 29 P KELLER 'Resolution measurement techniques for data display cathode ray tubes'
• [A] SID INTERNATIONAL SYMPOSIUM: DIGEST OF TECHNICAL PAPERS, Mai 1987, NEW ORLEANS,US Seiten 225 - 227 D BORTFELD ET AL 'Semi-automatic measurement of the two-dimensional intensity distribution of a color CRT electron-beam spot'

Designated contracting state (EPC)

DE FR IT NL

DOCDB simple family (publication)

EP 0574838 A1 19931222; EP 0574838 B1 19960814; DE 4219627 A1 19931223; DE 59303413 D1 19960919; JP 3472597 B2 20031202; JP H06162933 A 19940610; US 5323231 A 19940621

DOCDB simple family (application)

EP 93109343 A 19930611; DE 4219627 A 19920616; DE 59303413 T 19930611; JP 14517493 A 19930616; US 7801493 A 19930616