Global Patent Index - EP 0629979 A2

EP 0629979 A2 19941221 - Coin tester.

Title (en)

Coin tester.

Title (de)

Münzprüfvorrichtung.

Title (fr)

Dispositif de contrÔle pour des pièces de monnaie.

Publication

EP 0629979 A2 19941221 (DE)

Application

EP 94107259 A 19940510

Priority

DE 4320123 A 19930618

Abstract (en)

The invention relates to a testing device for round discs (4, 11, 13), for example coins, in which the discs (4, 11, 13) run along at least one gauge on a guide (15, 23, 41) supporting them. The testing devices known hitherto have only a limited throughput on account of their construction. Moreover, they are very expensive in terms of production. The invention avoids these disadvantages by delivering the round discs (4, 11, 13) onto an inclined slip plane (6), down which they slip and over which extends at least one collecting rail (7, 10) which is inclined relative to the horizontal and which collects the discs (4, 11, 13) and diverts them to the side. The discs (4, 11, 13) are thereafter fed to an optoelectronic device for the measurement of diameter and/or thickness. This combination allows considerably higher throughputs than in the testing devices known hitherto. <IMAGE>

Abstract (de)

Die Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung für runde Scheiben (4,11,13), zum Beispiel Münzen, bei der die Scheiben (4,11,13) auf einer sie abstützenden Führung (15,23,41) an mindestens einer Lehre entlang laufen. Die bisher bekannten Prüfvorrichtungen haben aufgrund ihrer Konstruktion nur einen begrenzten Durchsatz. Außerdem sind sie von der Fertigung her recht teuer. Die Erfindung umgeht diese Nachteile, indem die runden Scheiben (4,11,13) auf eine geneigte Rutschebene (6) gegeben werden, die sie hinabrutschen und über die mindestens eine gegenüber der Waagerechten geneigte Auffangschiene (7,10) verläuft, die die Scheiben (4,11,13) auffängt und zur Seite hin ableitet. Danach werden die Scheiben (4,11,13) einer optoelektronischen Vorrichtung zur Durchmesser- und/oder Dickenmessung zugeführt. Diese Kombination ermöglicht erheblich höhere Durchsätze als bei den bisher bekannten Prüfvorrichtungen. <IMAGE>

IPC 1-7

G07D 3/04; B65G 47/14

IPC 8 full level

B65G 11/02 (2006.01); B65G 47/14 (2006.01); G07D 3/04 (2006.01); G07D 5/02 (2006.01)

CPC (source: EP US)

G07D 5/02 (2013.01 - EP US)

Designated contracting state (EPC)

AT BE CH DE DK ES FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE

DOCDB simple family (publication)

EP 0629979 A2 19941221; EP 0629979 A3 19950823; DE 4320123 A1 19950112; JP H07146965 A 19950606; US 5542520 A 19960806

DOCDB simple family (application)

EP 94107259 A 19940510; DE 4320123 A 19930618; JP 13474094 A 19940617; US 25942694 A 19940614