EP 0911846 A1 19990428 - Method for high precision determination of a leak rate in an encapsulated electrical apparatus
Title (en)
Method for high precision determination of a leak rate in an encapsulated electrical apparatus
Title (de)
Verfahren zur hochgenauen Bestimmung von Leckraten in die Verkapselung eines elektrisches Gerätes
Title (fr)
Procédé pour déterminer avec une grande précision un taux de fuite d'une enveloppe d'appareillage électrique
Publication
Application
Priority
FR 9713289 A 19971023
Abstract (en)
A set of parameter values are taken over a period of time allowing correlation to be made between the values providing a more accurate escape index indication.
Abstract (fr)
Selon le procédé des couples de pression et de température sont enregistrés à l'aide d'un capteur de pression et d'un capteur de température fixés sur l'enveloppe par l'extérieur et communiquant avec le gaz diélectrique, pour calculer une valeur de densité du gaz diélectrique pour chaque couple. Simultanément à la pression et à la température, le courant électrique traversant l'appareillage électrique disposé à l'intérieur de l'enveloppe et un paramètre climatique du milieu environnant l'enveloppe, sont enregistrés pour assigner un index à chaque valeur de densité, ce qui permet de déterminer le taux de fuite avec une précision améliorée, à partir de taux de fuite indexés qui sont obtenus à l'aide de valeurs de densité de même index. <IMAGE>
IPC 1-7
IPC 8 full level
G01M 3/16 (2006.01); H01H 33/56 (2006.01)
CPC (source: EP US)
H01H 33/563 (2013.01 - EP US)
Citation (search report)
- [A] EP 0726630 A1 19960814 - GEC ALSTHOM T & D SA [FR]
- [A] EP 0637114 A1 19950201 - CONS ELECTRONICS INC [US]
- [A] US 5502435 A 19960326 - RALSTON DOUGLAS E [US]
Designated contracting state (EPC)
AT CH DE ES GB IT LI SE
DOCDB simple family (publication)
EP 0911846 A1 19990428; CA 2250335 A1 19990423; FR 2770294 A1 19990430; FR 2770294 B1 19991203; ID 21713 A 19990715; JP H11201857 A 19990730; US 6205846 B1 20010327
DOCDB simple family (application)
EP 98402639 A 19981023; CA 2250335 A 19981022; FR 9713289 A 19971023; ID 981401 A 19981023; JP 30122998 A 19981022; US 17676898 A 19981022