EP 1253717 A2 20021030 - Capacitive keyboard with evaluation circuit
Title (en)
Capacitive keyboard with evaluation circuit
Title (de)
Kapazitive Tastatur mit Auswerteschaltung
Title (fr)
Clavier capacitif avec circuit d'évaluation
Publication
Application
Priority
DE 10121008 A 20010428
Abstract (en)
The key pad can have one or more keys behind a protective cover which carries on the inner surface a dielectric material. The individual keys are formed of a central key section (6) encircled by a reference section (7), both of conductive material. With the aid of changeover switches (11,21), amplifier (13), evaluator (5), and dc supply (23) tests can be carried out by comparison of reference and key sections, to determine whether or not the keys are functioning correctly, e.g., correctly by finger or incorrectly by wet cloth.
Abstract (de)
Die Erfindung betrifft also eine kapazitive Tastatur mit mindestens einer Auswerteschaltung, beinhaltend mindestens eine kapazitive Tastenfläche, welche mit der mindestens einen Auswerteschaltung elektrisch leitend verbunden ist und welche mindestens eine kapazitive Tastenfläche auf und/oder in einer Isolierplatte angeordnet ist, und welche mindestens eine kapazitive Tastenfläche durch Annäherung und/oder Berührung eines beweglichen Dielektrikums seine Kapazität verändert, welche Kapazitätsänderung in der Auswerteschaltung auswertbar ist, wobei die mindestens eine Tastenfläche mindestens zwei, voneinander elektrisch isolierte und elektrisch auf- und entladbare Kapazitätsflächen beinhaltet und deren jeweilige Ent- und/oder Aufladeströme durch die mindestens eine Auswerteschaltung derart ausgewertet werden können, dass mindestens zwischen einem Ruhezustand und einem beabsichtigten Schaltzustand der Tastenfläche unterschieden werden kann, wobei die mit den jeweiligen Kapazitätsflächen zusammenwirkenden Kapazitätsflächen des jeweiligen kapazitiven Schalters über das angenäherte und/oder kontaktierte bewegliche Dielektrikum mit der Auswerteschaltung elektrisch leitend verbunden ist. Vorteil hierbei ist, dass nicht die Entladung oder Aufladung einer einzigen Kapazität am Tastenfeld untersucht wird, sondern dass das Verhalten von mindestens zwei voneinander elektrisch isolierten Kapazitäten miteinander verglichen wird, wobei es offen bleibt, wie und wo diese Kapazitäten angeordnet sind. Hierdurch können gewollte Schaltvorgänge von unbeabsichtigten Schaltvorgängen und von Verschmutzungen etc. sicher unterschieden werden. <IMAGE>
IPC 1-7
IPC 8 full level
H03K 17/96 (2006.01); H03K 17/95 (2006.01)
CPC (source: EP)
H03K 17/9622 (2013.01); H03K 17/9502 (2013.01); H03K 2217/94026 (2013.01); H03K 2217/94031 (2013.01); H03K 2217/96058 (2013.01); H03K 2217/960705 (2013.01); H03K 2217/960715 (2013.01)
Citation (examination)
- DE 3036050 A1 19810416 - BFG GLASSGROUP [FR]
- DE 10121008 B4 20040401 - RAWE ELEKTRONIK GMBH [DE], et al
- WO 0042628 A1 20000720 - TOUCHSENSOR TECH LLC [US]
- WO 8504994 A1 19851107 - BINSTEAD RONALD PETER [GB]
- US 4736191 A 19880405 - MATZKE KARL E [US], et al
Designated contracting state (EPC)
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR
DOCDB simple family (publication)
EP 1253717 A2 20021030; EP 1253717 A3 20051116; DE 10121008 A1 20021031; DE 10121008 B4 20040401
DOCDB simple family (application)
EP 02009405 A 20020425; DE 10121008 A 20010428