EP 2099095 A1 20090909 - Use of a device for two-dimensional imaging of scenes using microwaves
Title (en)
Use of a device for two-dimensional imaging of scenes using microwaves
Title (de)
Verwendung einer Vorrichtung zur zweidimensionalen Abbildung von Szenen durch Mikrowellen-Abtastung
Title (fr)
Utilisation d'un dispositif de représentation bidimensionnelle de scènes à l'aide d'un balayage à micro-ondes
Publication
Application
Priority
DE 102008013066 A 20080306
Abstract (en)
The device has a primary radiator (3) e.g. multi frequency feed horn radiator, and a rotation symmetric main reflector (1). Focusing parameters and moving speeds of drive units e.g. small motor (8) and eccentric disk (18), are adjusted, so that complete continuous microwave scanning of a scene is done by a focusing mark. A receiver-sided evaluation device is formed such that image data, which are synchronous in a position, are received and stored, combined to an image and represented or reprocessed on-line or off-line, based on determination of trajectory of the mark.
Abstract (de)
Zur zweidimensionalen Szenenabbildung durch kontinuierliche, passive oder aktive Mikrowellen-Abtastung dient eine vollmechanische Richtantennenanordnung mit Hauptreflektor (1), Primärstrahleranordnung (3) und einem relativ zum Hauptreflektor klein bemessenen Subreflektor (2), der bezüglich der optischen Achse (7) der Richtantennenanordnung geneigt ist. Erste Antriebsmittel (8) sorgen für eine Rotation des Subreflektors um die optische Achse und zweite Antriebsmittel (17, 18) für eine Bewegung der gesamten Richtantennenanordnung in einer Richtung zumindest angenähert senkrecht zur optischen Achse. Die Bewegungsgeschwindigkeit des Subreflektors ist zu derjenigen der gesamten Richtantennenanordnung sehr hoch. Hauptreflektorform, Subreflektorform, Primärstrahler, Abstand Primärstrahler-Subreflektor und Abstand Subreflektor-Hauptreflektor sind als Fokussierungsparameter so aufeinander abgestimmt, dass sich für einen bestimmten Szenenabstand eine optimale Fokussierung und Gesichtsfeldgröße einstellt. Die Fokussierungsparameter und die Bewegungsgeschwindigkeiten der beiden Antriebsmittel sind so eingestellt, dass sich eine lückenlose kontinuierliche Szenenabtastung durch den sich im Szenenabstand bewegenden Fokussierungsfleck (12) ergibt. Anwendung bei Fernerkundung, insbesondere Erdbeobachtung und Sicherheitstechnik.
IPC 8 full level
H01Q 3/10 (2006.01); G01S 13/42 (2006.01); G01S 13/89 (2006.01); H01Q 3/16 (2006.01); H01Q 3/20 (2006.01)
CPC (source: EP US)
G01S 13/426 (2013.01 - EP US); G01S 13/89 (2013.01 - EP US); H01Q 3/10 (2013.01 - EP US); H01Q 3/16 (2013.01 - EP US); H01Q 3/20 (2013.01 - EP US)
Citation (applicant)
- WO 2005085903 A1 20050915 - ELEOTECH LTD [GB], et al
- WO 2005017559 A2 20050224 - TREX ENTPR CORP [US]
- US 6943742 B2 20050913 - HOLLY SANDOR [US]
- WO 2007028427 A1 20070315 - XELLA TROCKENBAU SYSTEME GMBH [DE], et al
- EP 0514886 A1 19921125 - HUGHES AIRCRAFT CO [US]
- EP 0002982 A1 19790711 - THOMSON CSF [FR]
- MARTIN C.A ET AL.: "High-resolution passive millimeter-wave security screening using few amplifiers", SPIE DEFENSE & SECURITY SYMPOSIUM, PASSIVE MMW IMAGING TECHNOLOGY X, vol. 6548, 13 April 2007 (2007-04-13), pages 654806
Citation (search report)
- [Y] WO 2007028472 A1 20070315 - SMITHS HEIMANN GMBH [DE], et al
- [Y] US 2006017605 A1 20060126 - LOVBERG JOHN A [US], et al
- [DA] EP 0514886 A1 19921125 - HUGHES AIRCRAFT CO [US]
- [A] WO 02066998 A2 20020829 - QINETIC LTD [GB], et al
- [A] WO 9617403 A1 19960606 - ALENIA SPAZIO SPA [IT], et al
- [DA] C.A. MARTIN, J.A. LOVBERG ET AL.: "High resolution passive millimeter-wave security screening using few amplifiers", PASSIVE MILLIMETER-WAVE IMAGING TECHNOLOGY X, vol. 6548, 13 April 2007 (2007-04-13), Orlando, FL, USA, pages 654806-1 - 654806-10, XP002529862
- [PX] DATABASE COMPENDEX [online] ENGINEERING INFORMATION, INC., NEW YORK, NY, US; DILL S ET AL: "Study of passive MMW personnel imaging with respect to suspicious and common concealed objects for security applications", XP002529863, Database accession no. E20085111799383 & PROCEEDINGS OF SPIE - THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING - MILLIMETRE WAVE AND TERAHERTZ SENSORS AND TECHNOLOGY 2008 SPIE US, vol. 7117, 2008
Designated contracting state (EPC)
AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO SE SI SK TR
Designated extension state (EPC)
AL BA RS
DOCDB simple family (publication)
EP 2099095 A1 20090909; EP 2099095 B1 20131120; EP 2099095 B8 20140326; DE 102008013066 B3 20091001; US 2009224993 A1 20090910; US 8009116 B2 20110830
DOCDB simple family (application)
EP 09002939 A 20090302; DE 102008013066 A 20080306; US 38096209 A 20090305