Global Patent Index - EP 3154427 A4

EP 3154427 A4 20180314 - IMPEDANCE MEASUREMENT DEVICES, SYSTEMS, AND METHODS

Title (en)

IMPEDANCE MEASUREMENT DEVICES, SYSTEMS, AND METHODS

Title (de)

IMPEDANZMESSVORRICHTUNGEN, -SYSTEME UND -VERFAHREN

Title (fr)

DISPOSITIFS, SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE MESURE D'IMPÉDANCE

Publication

EP 3154427 A4 20180314 (EN)

Application

EP 15806117 A 20150610

Priority

  • US 201462011466 P 20140612
  • US 201414332140 A 20140715
  • US 201414335360 A 20140718
  • US 201414338261 A 20140722
  • US 201414338266 A 20140722
  • US 2015035027 W 20150610

IPC 8 full level

A61B 5/053 (2006.01)

CPC (source: EP KR US)

A61B 5/02125 (2013.01 - KR); A61B 5/02444 (2013.01 - EP US); A61B 5/0245 (2013.01 - EP US); A61B 5/0295 (2013.01 - EP US); A61B 5/0535 (2013.01 - EP US); A61B 5/1102 (2013.01 - EP KR US); A61B 5/25 (2021.01 - KR); A61B 5/318 (2021.01 - KR); A61B 5/6829 (2013.01 - EP KR US); A61B 5/7225 (2013.01 - EP KR US); G01G 19/50 (2013.01 - EP KR US); A61B 5/02125 (2013.01 - EP US); A61B 5/0531 (2013.01 - EP US); A61B 5/4023 (2013.01 - EP US); A61B 2562/046 (2013.01 - EP KR US)

Citation (search report)

Designated contracting state (EPC)

AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR

DOCDB simple family (publication)

EP 3154427 A1 20170419; EP 3154427 A4 20180314; JP 2017517373 A 20170629; KR 20170028359 A 20170313

DOCDB simple family (application)

EP 15806117 A 20150610; JP 2017517199 A 20150610; KR 20177000952 A 20150610