(19)
(11)EP 0 586 795 A1

(12)EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG

(43)Veröffentlichungstag:
16.03.1994  Patentblatt  1994/11

(21)Anmeldenummer: 93109096.3

(22)Anmeldetag:  07.06.1993
(51)Internationale Patentklassifikation (IPC)5G01B 11/30
(84)Benannte Vertragsstaaten:
DE ES FR GB IT

(30)Priorität: 09.09.1992 DE 4230068

(71)Anmelder: TZN Forschungs- und Entwicklungszentrum Unterlüss GmbH
D-29345 Unterlüss (DE)

(72)Erfinder:
  • Giet, Johannes, Dr.
    W-3104 Unterlüss (DE)
  • Meyer, Walter
    W-3104 Unterlüss (DE)

(74)Vertreter: Behrend, Rainer et al
Rheinmetall GmbH, Patentabteilung, Pempelfurtstrasse 1
40880 Ratingen
40880 Ratingen (DE)


(56)Entgegenhaltungen: : 
  
      


    (54)Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Überprüfung der Oberflächenrauhigkeit von Materialien


    (57) Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur berührungslosen Überprüfung der Oberflächenrauhigkeit von Materialien (1) im Hinblick auf Abweichungen von einer vorgegebenen Soll-Oberflächenrauhigkeit.
    Um eine möglichst reproduzierbare Überprüfung der Oberflächenrauhigkeit einer Vielzahl unterschiedlicher Materialien (1) zu gewährleisten, wird vorgeschlagen, aus den gemessenen ortsabhängigen Intensitätswerten mit Hilfe einer Fouriertransformation das diesen Werten zugeordnete Ortsfrequenzspektrum zu ermitteln, dann die durch die Rauhigkeit des Materials (1) bedingten charakteristischen Spektralanteile im Ortsfrequenzspektrum zu analysieren und mit den vorgegebenen Werten des Ortsfrequenzspektrums zu vergleichen.
    Besonders vorteilhaft eignet sich das erfindungsgemäße Verfahren zur Beurteilung der Narbtiefe von Echt- oder Kunstleder sowie zur Kontrolle der Porengröße von Schaumstoff und von Schmirgelpapier.




    Beschreibung


    [0001] Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur berührungslosen Überprüfung der oberflächenrauhigkeit von Materialien, wie es durch die Merkmale des Gattungsbegriffs des Anspruchs 1 näher charakterisiert ist. Die Erfindung bezieht sich ferner auf eine optische Reflektionsmeßvorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens sowie auf verschiedene Verwendungen des Verfahrens.

    [0002] Optische Verfahren zur Messung und Überprüfung der Oberflächenrauhigkeit sind seit langem bekannt. Insbesondere ist es bekannt, zur Rauhigkeitsmessung von Papieroberflächen beim jeweiligen Glanzwinkel die Intensität des reflektierten und gestreuten Lichtes zu messen und diese als Maß für die Oberflächenrauhigkeit heranzuziehen. Bei einem anderen Verfahren wird als charakteristischer Wert für die Oberflächenrauhigkeit die Halbwertsbreite des gestreuten Lichtes herangezogen.

    [0003] Alle diese Verfahren besitzen den Nachteil, daß sie relativ ungenau arbeiten und nicht ohne weiteres zur Messung anderer Materialien (Leder, Schaumstoff, Schmirgelpapier etc.) herangezogen werden können.

    [0004] Bekanntgeworden sind ferner Verfahren zur Oberflächenrauhigkeitsprüfung, die mit berührenden Prüfgeräten arbeiten. Derartige Verfahren weisen den Nachteil auf, daß sie sehr zeitintensiv arbeiten und nur zur Stichprobenprüfung -nicht aber zu einer kontinuierlichen Prüfung der Oberflächenrauhigkeit- geeignet sind.

    [0005] Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein berührungslos arbeitendes optisches Verfahren zur Bestimmung der Oberflächenrauhigkeit anzugeben, welches reproduzierbare Meßwerte ergibt und weitgehend universell zur Prüfung der Oberflächenrauhigkeit unterschiedlicher Materialien benutzt werden kann. Ferner soll eine Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens offenbart werden.

    [0006] Erfindungsgemäß wird die vorstehend erwähnte Aufgabe durch die Merkmale des kennzeichnenden Teiles des Anspruchs 1 gelöst. Eine erfindungsgemäße Vorrichtung offenbart Anspruch 2. Die Ansprüche 5 bis 7 offenbaren bevorzugte Verwendungen des erfindungsgemäßen Verfahrens.

    [0007] Im wesentlichen liegt der Erfindung also der Gedanke zugrunde, einen frequenzselektiven Bereich der Bildenergie als Maß für die Oberflächenrauhigkeit zu verwenden. Dabei werden zur Rauhigkeitsbestimmung nicht die gemessenen Intensitätswerte direkt herangezogen, sondern das mit Hilfe einer Fouriertransformation aus diesen Werten ermittelte Ortsfrequenzspektrum bzw. bestimmte aussagekräftige Bereiche des Ortsfrequenzspektrums. Es hat sich nämlich gezeigt, daß sich für vorgegebene Referenzmuster charakteristische Ortsfrequenzspektren ergeben, so daß Abweichungen von diesen (Soll-) Spektren sehr genau gemessen werden können. Vor allem, wenn die Oberfläche des Materials ausgeprägte Kanten aufweist, erhält man charakteristische Spektrallinien im höheren Frequenzbereich.

    [0008] Weitere Einzelheiten und Vorteile der Erfindung werden im folgenden anhand von in Figuren dargestellten Ausführungsbeispielen beschrieben. Es zeigen:
    Fig.1
    eine Reflektionsmeßvorrichtung mit Seitenlichtbeleuchtung; und
    Fig.2
    eine entsprechende Meßvorrichtung mit Ringlichtbeleuchtung.


    [0009] In Fig.1 wird mit 1 eine auf ihre Oberflächenrauhigkeit zu überprüfende Materialbahn, z. B. aus Kunstleder, bezeichnet, die sich in die mit dem Bezugszeichen 2 angedeutete Richtung bewegen möge. Über der zu überprüfenden Materialbahn 1 befindet sich eine optische Reflektionsvorrichtung, welche im wesentlichen aus einer Lichtquelle 3, einer Sensoreinheit 4, einer Auswerteeinheit 5 und einer Ein-/Ausgabevorrichtung 6 besteht.

    [0010] Das von der Lichtquelle (Seitenlichtquelle) 3 erzeugte Lichtbündel 7 gelangt über eine Optik 8 auf einen vorgegebenen Bereich 9 der zu überprüfenden Materialbahn 1, wird dort reflektiert und gestreut, und das entsprechende reflektierte und gestreute Lichtbündel 10 gelangt über eine weitere Optik 11 in die Sensoreinheit 4. Dabei kann als Sensoreinheit 4 beispielsweise ein CCD-Zeilen- oder CCD-Matrixsensor verwendet werden.

    [0011] Die Sensorsignale werden anschließend über eine elektrische Leitung 12 der Auswerteeinheit 5 zugeführt. In dieser werden die Signale zunächst in einem Verstärker 13 verstärkt, dann in einem Analog-/Digitalwandler 14 in entsprechende digitale Werte transformiert, schließlich in einem Mikrorechner 15 weiterverarbeitet und das Ergebnis von der Ein-/Ausgabevorrichtung angezeigt.

    [0012] Zur Verarbeitung der digitalisierten Meßwerte werden die ortsabhängigen Intensitätswerte f(x,y) (wobei x und y die Ortskoordinaten und f(x,y) die entsprechende von diesen Koordinaten abhängige Intensitätsfunktion bedeuten) mit Hilfe des Rechners 15 über eine 2-dimensionale Fouriertransformation in entsprechende Werte des Ortsfrequenzspektrums |U(fX,fy)|² (wobei mit fx die Ortsfrequenz in x-Richtung und mit fy die Ortsfrequenz in y-Richtung bezeichnet ist) transformiert und mit den entsprechenden Werten einer Oberfläche vorgegebener Rauhigkeit verglichen. Da bei einer idealen Oberflächenstruktur ein für die Rauhigkeit charakteristisches Ortsfrequenzspektrum vorliegt, lassen sich Abweichungen der Rauhigkeit von der Sollwertoberfläche sehr genau ermitteln.

    [0013] Um die Lichtquelle 3 und die Sensoreinheit 4, je nach Aufgabe, auch spektral selektiv der zu überprüfenden Materialbahn anpassen zu können, ist zwischen Auswerteeinheit 5 und Lichtquelle eine entsprechende elektrische Steuerleitung 17 vorgesehen.

    [0014] Die in Fig.2 dargestellte Reflektionsmeßvorrichtung unterscheidet sich von der in Fig.1 dargestellten Vorrichtung lediglich dadurch, daß als Lichtquelle eine Ringlichtquelle (mit nicht dargestellter Optik) benutzt wird.

    [0015] Das erfindungsgemäße Verfahren hat sich besonders zur Beurteilung der Narbtiefe von Echt- oder Kunstleder sowie zur Kontrolle von Schmirgelpapier in der Fließfertigung, aber z.B. auch bei der Kontrolle der Porengröße von Schaumstoffen, bewährt.

    Bezugsliste



    [0016] 
    1
    zu untersuchende Materialbahn
    2
    Richtungspfeil
    3
    Lichtquelle, Seitenlichtquelle
    4
    Sensoreinheit
    5
    Auswerteeinheit
    6
    Ein-/Ausgabevorrichtung
    7
    Lichtbündel
    8
    Optik
    9
    bestrahlter Bereich
    10
    gestreutes Lichtbündel
    11
    Optik
    12
    elektr. Leitung
    13
    Verstärker
    14
    Analog-/Digitalwandler
    15
    Mikrorechner ( µC)
    16
    elektr. Leitung
    17
    elektr. Leitung
    18
    elektr. Leitung
    19
    Ringlichtquelle



    Ansprüche

    1. Verfahren zur berührungslosen Überprüfung der Oberflächenrauhigkeit von Materialien (1) im Hinblick auf Abweichungen von einer vorgegebenen Soll-Oberflächenrauhigkeit mit Hilfe einer optischen Reflektionsmeßvorrichtung, dadurch gekennzeichnet, daß aus den gemessenen ortsabhängigen Intensitätswerten mit Hilfe einer Fouriertransformation das diesen Werten zugeordnete Ortsfrequenzspektrum ermittelt wird, und daß dann die durch die Rauhigkeit des Materials (1) bedingten charakteristischen Spektralanteile im Ortsfrequenzspektrum analysiert und mit den vorgegebenen, für die Soll-Oberflächenrauhigkeit charakteristischen Werten verglichen werden.
     
    2. Optische Reflektionsmeßvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, mit einer Lichtquelle (3,19) zur Beleuchtung des zu untersuchenden Materials (1), einer Sensoreinheit (4) zum Empfang eines von dem Material (1) gestreuten Lichtbündels (10) und einer Auswerteeinheit (5) zur Ermittlung der Rauhigkeit, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswerteeinheit (5) einen Rechner (15) enthält, welcher aus den empfangenen Intensitätswerten entsprechende Ortsfrequenzwerte ermittelt, diese Werte mit vorgegebenen Werten vergleicht und die aufgrund dieses Vergleichs ermittelten Ergebnisse an eine Ein-/Ausgabevorrichtung (6) weiterleitet.
     
    3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Lichtquelle (3,19) eine Kaltlichtquelle verwendet wird.
     
    4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß als Lichtquelle eine Ringlichtquelle (19) verwendet wird.
     
    5. Verwendung des Verfahrens nach Anspruch 1 zur Beurteilung der Narbtiefe von Echt-oder Kunstleder.
     
    6. Verwendung des Verfahrens nach Anspruch 1 zur Kontrolle von Schmirgelpapier in der Fließfertigung.
     
    7. Verwendung des Verfahrens nach Anspruch 1 zur Kontrolle der Porengröße von Schaumstoffen.
     




    Zeichnung










    Recherchenbericht