(19) |
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(11) |
EP 0 068 443 A3 |
(12) |
EUROPEAN PATENT APPLICATION |
(88) |
Date of publication A3: |
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04.07.1984 Bulletin 1984/27 |
(43) |
Date of publication A2: |
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05.01.1983 Bulletin 1983/01 |
(22) |
Date of filing: 24.06.1982 |
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(84) |
Designated Contracting States: |
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AT BE CH DE FR GB IT LI NL SE |
(30) |
Priority: |
27.06.1981 DE 3125335
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(71) |
Applicant: BAYER AG |
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() |
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(72) |
Inventors: |
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- Benninghoven, Alfred, Prof. Dr.
()
- Kämpf, Günther, Prof. Dr.
()
- Holm, Reimer, Dr.
()
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(54) |
Method for the selective analysis of traces of individual components in gases and
liquids |
(57) Das Analysenverfahren beruht darauf, daß die gesuchte Komponente durch eine Vortrennung
angereichert und anschließend massenspektrometrisch identifiziert wird. Die Vortrennung
geschieht dadurch, daß eine im wesentlichen ebene, nicht poröse Festkörperoberfläche
mit dem zu untersuchenden Gas oder der Flüssigkeit in Kontakt gebracht wird und die
gesuchte Komponente aus der gasförmigen oder flüssigen Phase direkt oder als Folgeprodukt
im Bereich einer Monolage, vorzugsweise in der obersten Monolage, an der Festkörperoberfläche
niedergeschlagen wird. Die Anreicherung kann in der Weise erfolgen, daß die Festkörperoberfläche
mit einem Reagenz präpariert wird, das die gesuchte Komponente direkt oder als Folgeprodukt
selektiv bindet. Ein anderer Weg besteht darin, daß die gesuchte Komponente zunächst
kollektiv mit anderen Komponenten an der Festkörperoberfläche ausgefällt wird und
anschließend die anderen Komponenten durch ein Lösungsmittel extrahiert werden. Für
den massenspektrometrischen Nachweis sind Geräte geeignet, die oberflächenspezifisch
arbeiten und eine hohe Nachweisempfindlichkeit besitzen. Bewährt haben sich vor allem
Sekundärionenmassenspektrometer und laserangeregte Mikromassenanalysatoren.
