[0001] Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kontrolle von mittels elektronenstrahlgravierten
Druckformoberflächen gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs.
[0002] Es sind bereits Verfahren zur Herstellung von Druckformen mittels Elektronenstrahl
bekannt, bei denen das Material der Druckformoberfläche mittels des Elektronenstrahls
entfernt wird, siehe beispielsweise DDR-Patentschrift Nr. 55 965, in der das Prinzip
der Elektronenstrahlgravur beschrieben ist. Es ist aber wünschenswert, das Resultat
der Gravur, d. h., die in die Druckformoberfläche eingravierten Näpfchen zu kontrollieren,
d. h. sichtbar zu machen. Bei Geräten zur Materialbearbeitung, z. B. DE-PS 10 99 659,
ist zu diesem Zweck ein Stereomikroskop in dem elektronischen Strahlerzeuger eingebaut.
[0003] Bei der DE-PS 1299 498 ist ein separater Kontrollstrahlengang vorgesehen, der auf
einen Strahlungsempfänger 19 gerichtet ist. Als Strahlungsempfänger ist ein fotoelektrischer
Wandler vorgesehen, dem ein Anzeigegerät nachgeschaltet ist, aus dessen Ausschlag
direkt auf den Fokussierungszustand des Elektronenstrahls geschlossen werden kann.
Dieses Signal kann dann zur Intensitätssteuerung des Bearbeitungsstrahls verwendet
werden.
[0004] Diese Einrichtungen sind zur direkten optischen Kontrolle des gravierten Näpfchens
ungeeignet, weshalb der Erfindung die Aufgabe zugrundeliegt, ein Verfahren zum Herstellen
von Druckformen anzugeben, bei dem eine einfachere und sichere Kontrolle der erzeugten
Näpfchen möglich ist.
[0005] Die Erfindung erreicht dies durch die im Patentanspruch angegebenen Merkmale und
wird wie folgt näher erläutert.
[0006] Um den Elektronenstrahlerzeuger zur Materialbearbeitung auf Elektronenstrahlmikroskop-Betrieb
umzuschalten, wird erfindungsgemäß der Strahl auf ca. 1
/um Durchmesser gegenüber der Betriebsartgravur verkleinert. Außerdem erfährt der Strahl
eine x- und y-Ablenkung, um den darzustellenden Näpfchenbereich abzutasten. Die dabei
erzeugten Sekundärelektronen werden detektiert, und als Videosignal zur Ansteuerung
eines Monitors verwendet.
[0007] Ein großer Vorteil der vorliegenden Erfindung liegt darin, daß keine besondere optische
Kontrolleinrichtung oder ein separates Elektronenstrahlmikroskop vorgesehen werden
muß, sondern daß mit der Elektronenstrahlkanone, die für die Materialbearbeitung ausgelegt
ist, aufgrund der vorliegenden Erfindung auf einfache Weise ein Elektronenstrahlmikroskop-Betrieb
während der Gravurpausen ermöglicht wird. Elektronenstrahlmikroskope sind zwar an
sich bekannt, aber Elektronenstrahlmikroskope wiederum können nicht zur Materialbearbeitung
verwendet oder umgebaut werden. Bezüglich der bekannten Elektronenstrahlmikroskope
wird auf das Buch von L. Reimer und G. Pfefferkorn, Raster-Elektronenmikroskopie,
Springer Verlag Berlin, Heidelberg, New York 1977, Kapitel 1 Einführung, Seiten 1,
2 und 3 verwiesen, in dem in der Figur 1.1 mit dazugehöriger Beschreibung der schaltungstechnische
Aufbau für die Detektion der Sekundärelektronen sowie des Anschlusses des Monitors
angegeben ist.
[0008] Bei der vorliegenden Erfindung wird von einem Elektronenstrahlerzeugungssystem ausgegangen,
daß speziell für die Materialbearbeitung und Druckformherstellung entwickelt worden
ist. Die Erfindung wird im folgenden anhand der Figuren 1 und 2 näher erläutert. Es
zeigen:
Figur 1 den Aufbau einer Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens und
Figur 2 den Aufbau des Elektronenstrahlerzeugungssystems für Gravur- und Mikroskopbetrieb.
[0009] Figur 1 zeigt einen Druckzylinder (1) mit eingravierten Näpfchen (2), welche von
einem Elektronenstrahl (3) hergestellt worden sind. Solche Druckzylinder werden als
Druckformen im Tiefdruck verwendet, wobei beim Druckprozeß die Näpfchen, die je nach
zu druckendem Tonwert unterschiedliches Volumen haben, mit Druckfarbe gefüllt und
die Druckfarbe beim Drucken auf den Bedruckstoff übertragen wird.
[0010] In Figur 1 sind im einzelnen die Elektronenoptik und der Strahlengang eines Elektronenstrahlerzeugers
dargestellt, mittels dessen die Erfindung durchgeführt werden kann. Der Elektronenstrahl
(3) geht von einer beheizten Kathode (4), welche in einem Heizstromkreis (41) liegt,
der eine Spannungsquelle V
k (z. B. 6 Volt) aufweist. Der Strahl durchläuft den Wehnelt-Zylinder (5) und die Anode
(6) und kommt zu einem ersten Linsensystem (7), das in Figur 2 näher dargestellt ist.
Der Wehnelt-Zylinder (5) liegt im Stromkreis (51) mit der Spannungsquelle V (z. B.
100 Volt) und die Anode (6) in einem Stromkreis (61) mit einer Spannungsquelle V für
die Anodenspannung (5 bis -50 KV).
[0011] Weiterhin ist eine Aperturblende (8) vorgesehen und der von der Blende durchgelassene
Strahl durchläuft eine Ablenkeinheit (9) und ein zweites Linsensystem (10), bevor
er auf den Gravurzylinder (1) auftrifft. Die Ablenkeinheit (9) dient dazu, den Ablenkstrahl
zeilenförmig über die abzutastenden Näpfchen (2) zu bewegen. Diese Abtastbewegung
wird gleichzeitig vom Elektronenstrahl (11) einer Bildröhre (12) mittels einer zweiten
Ablenkeinheit (13) durchgeführt. Die Erzeugung der entsprechenden Ablenkströme erfolgt
in einem Rastergenerator (14), und die beiden Ablenkeinheiten (9) und (13) sind über
eine Einheit (15) zur Variation der Vergrößerung miteinander verbunden. Im Vakuum
befindet sich seitlich der gravierten Näpfchen eine Sonde (16), welche die von der
Druckformoberfläche ausgehenden Sekundärelektronen und reflektierten Elektronen auffängt
und an einen Videoverstärker (17) weitergibt, von dem aus die Helligkeitssteuerung
der Bildröhre (12) erfolgt. Das Abtastraster ist auf dem Bildschirm der Bildröhre
(12) dargestellt.
[0012] Figur 2 zeigt in detaillierterer Form das Elektronenstrahlerzeugungssystem und den
Strahlengang für die verschiedenen Betriebsarten, Gravur- und Mikroskopbetrieb, wobei
das eigentliche Elektronenstrahlerzeugungssystem aus Kathode, Wehnelt und Anode sowie
die Ablenkspulen der Übersichtlichkeit halber weggelassen wurden. Das erste Linsensystem
(7), das eine erste Verkleinerung herbeiführt, besteht in der Praxis aus zwei Linsen
(71) und (72), und für die Betriebsart Gravur ist eine weitere Linse (73) innerhalb
der Linse (71) vorgesehen. Im folgenden werden anhand der eingezeichneten Strahlengänge
(30), (31) und (32) drei Betriebsfälle erläutert nämlich, Strahlengang (30), Gravur
eines großen Näpfchens, Strahlengang (31), Gravur eines kleinen Näpfchens und Strahlengang
(32), Mikroskopbetrieb.
l. Gravurbetrieb
[0013] Das Linsensystem (71), (72) und (73) bildet eine variable
Verkleinerungsstufe, wobei die schematisch dargestellte Strahlungsquelle bei maximaler
Anspannung der Linse 12mal und bei nicht angespannter Linse (73) 3mal verkleinert
wird. Die Aperturblende 8 wird so dimensioniert, daß ein Winkel α
0 von 0,08 rd gegeben ist, wodurch sich ein Öffnungsfehlerscheibchen von 25
/um Durchmesser ergibt. Die Linse (10) macht eine 4fache Verkleinerung, und die Linse
(101) dient zur Fokussierung und Defokussierung des Strahls, wodurch Näpfchen erzeugt
werden.
[0014] Bei fokussiertem Strahl tritt ein Bearbeitungseffekt auf, bei defokussiertem Strahl
nicht. Wie bereits erwähnt, wird zur Gravur großer Näpfchen der Strahlengang (30)
eingestellt, wobei der Strahl am Auftreffpunkt einen Durchmesser von etwa 100
/um hat und einen Strahlstrom im Bearbeitungsfleck von 50 mA aufweist.
[0015] Der Strahlengang (31) dient zur Herstellung kleiner Näpfchen. Der Strahl hat am Auftreffpunkt
einen Durchmesser von etwa 20
/um, und der Strom im Fleck beträgt 3 mA. Durch unterschiedliche Anspannung der dynamischen
Linse (73) wird die tonwertabhängige Variation der Näpfchengröße vorgenommen.
[0016] Bei der Betriebsart Gravur erzeugt das in Figur 1 dargestellte Ablenksystem (9) eine
Strahlmitführung zur Zylinderrotation, damit der Strahl bei rotierendem Zylinder immer
auf die gleiche Stelle trifft.
[0017] Beim Gravurbetrieb und auch beim Mikroskopbetrieb wird mit einer Beschleunigungsspannung
von 50 KV gearbeitet, und der aus der Kathode austretende Strahl hat eine Stromstärke
von ca. 50 mA.
2. Mikroskopbetrieb
[0018] Die dynamische Linse (73) ist abgeschaltet. Die statische Linse (71) ist stärker
erregt, und die Verkleinerung der Strahlungsquelle beträgt ca. 250 W.
[0019] Es wird mit einer kleineren Aperturblende (8
1), die in der Figur gestrichelt gezeichnet ist, gearbeitet, welche zu diesem Zweck
in den Strahlengang geschwenkt wird. Die Apertur dieser Blende beträgt α
1 = 0,025 rd. Dies ergibt ein Öffnungsfehlerscheibchen von ca. 1
/um.
[0020] Die Linse (10) bleibt nahezu unverändert, und die dynamische Fokuslinse (101) ist
abgeschaltet.
[0021] Durch diese Modifikation ergibt sich der Strahlengang (32), wobei die Linse (10)
lediglich zur Scharfstellung dient. Der Sondendurchmesser auf der Zylinderoberfläche
beträgt 1 bis 1,5 µm.
[0022] Das in Figur 1 gezeigte Ablenksystem (9) dient zur Erzeugung des Abtastrasters entsprechend
der Zeilen-und Bildfrequenz der Bildröhre (12). Das abgetastete Feld beträgt etwa
1 mm2. Wie in Figur 1 beschrieben, ist für den Mikroskopbetrieb ein Sekundärelektronendetektor
(16) vorgesehen, der beim Mikroskopbetrieb ebenfalls wie die Blende (8') eingeschwenkt
wird. Die Abbildung des Näpfchens auf der Bildröhre erscheint so, als ob die Näpfchen
von der Seite beleuchtet worden seien, da der Detektor (16) von einer Seite her auf
die Näpfchen der Druckformoberfläche gerichtet ist und die Elektronen, die auf der
im Detektor gegenüberliegenden Innenseite der Näpfchen reflektiert werden, am Detektor
(16) eine bessere Ausbeute ergeben.
[0023] Bei der Durchführung des Verfahrens kann mit stillstehenden Druckformzylindern gearbeitet
werden, wobei die gesamte x- und y-Ablenkung für den Scan-Vorgang durch die Ablenksysteme
des Elektronenstrahlerzeugungssystems erzeugt werden. Es liegt auch im Rahmen der
Erfindung, daß die Abtastung der zu untersuchenden Näpfchen bei rotierendem Druckzylinder
erfolgt. Hierbei wird ebenfalls der Elektronenstrahl feinfokussiert, und die sich
durch die Drehung des Druckformzylinders und den Vorschub ergebenden einzelnen Bildlinien
werden zwischengespeichert und ebenfalls zur Ansteuerung des Monitors benutzt. Solche
Zwischenspeicher sind als Bildwiederholspeicher oder sogenannte Refresh-Memories bekannt.