EINRICHTUNG FÜR MESSEN VON BESTIMMTEN PARAMETERN BELIEBIGER PROZESSE UND FÜR EVENTUELLES EINGREIFEN, FERNER FÜR DATENSPEICHERUNG UND -VERARBEITUNG - Patent 0141849

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EP 0 141 849 A1

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(43)	Veröffentlichungstag:
	22.05.1985 Patentblatt 1985/21

(21)	Anmeldenummer: 84902042.0

(22)	Anmeldetag: 04.05.1984

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Internationale Patentklassifikation (IPC):

G06F 17/ 40^{( . )}
G08B 23/ 00^{( . )}

G07C 5/ 08^{( . )}

(86)	Internationale Anmeldenummer:
	PCT/HU1984/000030

(87)	Internationale Veröffentlichungsnummer:
	WO 1984/004413 (08.11.1984 Gazette 1984/26)

(84)	Benannte Vertragsstaaten:
	AT BE CH DE FR GB LI LU NL SE

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Priorität:

05.05.1983 HU 19830001542

(71)	Anmelder: FINOMMECHANIKAI ES ELEKTRONIKUS MÜSZERGYARTO SZÖVETKEZET
	H-1111 Budapest (HU)

(72)	Erfinder:
	KARKOSAK, Zoltán H-1118 Budapest (HU) LUKACS, László H-1035 Budapest (HU) PARKANYI, Tamás H-1137 Budapest (HU) MESKO, György H-1118 Budapest (HU)

(74)	Vertreter: Bardehle, Heinz, Dipl.-Ing.
	Patent- und Rechtsanwälte Bardehle-Pagenberg-Dost-Altenburg & Partner Postfach 86 06 20 D-8000 München 86 D-8000 München 86 (DE)

(54)	EINRICHTUNG FÜR MESSEN VON BESTIMMTEN PARAMETERN BELIEBIGER PROZESSE UND FÜR EVENTUELLES EINGREIFEN, FERNER FÜR DATENSPEICHERUNG UND -VERARBEITUNG