(19)
(11) EP 0 151 078 A3

(12) EUROPEAN PATENT APPLICATION

(88) Date of publication A3:
20.08.1986 Bulletin 1986/34

(43) Date of publication A2:
07.08.1985 Bulletin 1985/32

(21) Application number: 85400127

(22) Date of filing: 25.01.1985
(84) Designated Contracting States:
DE FR GB IT NL SE

(30) Priority: 27.01.1984 FR 8401332

(71) Applicants:
  • OFFICE NATIONAL D'ETUDES ET DE RECHERCHES AEROSPATIALES(O.N.E.R.A.)
     ()
  • UNIVERSITE DE PARIS-SUD
     ()

(72) Inventors:
  • Slodzian, Georges
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  • Costa de Beauregard, François
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  • Daigne, Bernard
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  • Girard, François
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(54) High intensity mass spectrometer with simultaneous multiple detection


(57) @ Entre le secteur électrostatique (SE 23) et le secteur magnétique (SM 30) d'un spectromètre de masse, est prévu un quadrupôle (QP 26), qui applique au secteur magnétique des faisceaux parallèles, dont l'inclinaison dépend de la dispersion énergétique des particules. Une lentille à fentes (LF 27) corrige la divergence du quadrupôle dans le plan perpendiculaire. Une relation convenable entre l'angle de la face d'entrée du secteur magnétique (SM 30) et l'angle de déviation qu'il procure permet de corriger ses propres.aberrations d'ouverture du second ordre. Les aberrations chromatiques peuvent être corrigées à l'aide d'un hexapôle (HP 25) centré sur le foyer du quadrupôle (QP 26). Un autre hexapôle (HP 22), placé en amont du secteur électrostatique (SE 23) au niveau d'une striction (non visible) en section verticale, permet la correction des aberrations d'ouverture du second ordre liées au secteur électrostatique (SE 23).






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