(19)
(11) EP 0 154 590 A3

(12) EUROPEAN PATENT APPLICATION

(88) Date of publication A3:
13.08.1986 Bulletin 1986/33

(43) Date of publication A2:
11.09.1985 Bulletin 1985/37

(21) Application number: 85400380

(22) Date of filing: 28.02.1985
(84) Designated Contracting States:
DE FR GB SE

(30) Priority: 29.02.1984 FR 8403127

(71) Applicant: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS)
 ()

(72) Inventors:
  • Le Beyec, Yvon
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  • Della-Negra, Serge
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(54) Time-of-flight mass spectrometer


(57) Le spectromètre comprend une source d'ions (10), un miroir ionique (14) recevant les ions issus de la source, un premier détecteur (15) placé de manière à recevoir les ions réfléchis par le miroir et un second détecteur (16) disposé derrière le miroir, les éléments ci-dessus formant un ensemble de symétrie axiale. Un spectre "reflex" d'ions réfléchis par le miroir (14) et reçus par le premier détecteur (15) peut être obtenu en même temps qu'un spectre de neutres provenant de décomposition en vol d'ions métastables et reçus par le deuxième détecteur (16). Cette disposition est particulièrement adaptée à l'étude d'ions métastables, des moyens de traitement (20) étant prévus pour produire des spectres reflex corrélés dans lesquels les contributions des fragments ioniques correspondant à des fragments neutres reçus sont mises en évidence.






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