Verfahren und Anordnung zum Einhalten eines vorgegebenen Potentialverhältnisses bei der Belichtung von elektrostatisch aufgeladenen lichtempfindlichen Schichten

Abstract

 Die lichtempfindliche Schicht einer Druckplatte wird auf ein vorgegebenes Oberflächenpotential aufgeladen, das mittels eines ortsfesten oder eines beweglichen Potentialdetektors gemessen wird. Das während der Belichtung sich ändernde Potentialverhältnis wird laufend mit einem vorgegebenen Sollwert verglichen und bei Übereinstimmung des sich ändernden Potentialverhältnisses mit dem vorgegebenen Sollwert die Belichtung beendet. Die Messung des Oberflächenpotentials und des Potentialverhältnisses erfolgt in einem Hellbereich der lichtempfindlichen Schicht, der außerhalb des Bereichs des latenten elektrostatischen Bildes liegt.
Der Potentialdetektor (3) ist über einen Signalwandler (16) und einen Verstärker (17) mit einer Mikroprozessorsteuerung (19₁ verbunden, die über eine Digitalausgabe (20) einen Verschluß (14) betätigt. Im Mikroprozessor (19) ist ein Programm für die Steuerung einer Koronaelektrode (24) und einer Entwicklerelektrode (25) gespeichert, das über eine Digital/Analogausgabe und Hochspannungsverstärker (22, 23) die Koronasteuerung und die Entwicklerelektrodensteuerung betätigt.

Beschreibung

[0001] Verfahren und Anordnung zum Einhalten eines vorgegebenen Potentialverhältnisses bei der Belichtung von elektrostatisch aufgeladenen lichtempfindlichen Schichten

[0002] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Einhalten eines konstanten Potentialverhältnisses bei der Belichtung von elektrostatisch aufgeladenen lichtempfindlichen Schichten auf Trägern, auf denen ein elektrostatisch latentes Bild einer Vorlage während der Belichtung ausgebildet wird.

[0003] Eine auf Dauer gleichmäßige Qualität von Druckplatten, auf deren aufgeladenen lichtempfindlichen Schichten elektrostatisch latente Bilder durch Belichten erhalten und mit Toner entwickelt werden, erfordert ein genaues Einhalten der Potentialverhältnisse von Aufladung, Restladung und Gegenspannung zueinander. Um dies zu erreichen, muß die elektrofotografische Schicht in engen Toleranzen gefertigt werden und eine Belichtungseinrichtung, beispielsweise eine Kamera, den eventuell von Druckplatte zu Druckplatte unterschiedlichen Arbeitsbedingungen angepaßt werden. Die Belichtungssteuerung herkömmlicher Kameras besteht im allgemeinen aus einer Zeituhr, die den Verschluß und die Lichtquelle nach einer vorgewählten Zeit ausschaltet. Eine verbesserte Steuerung ist mit sogenannten Lichtdosimetern möglich, von denen das ankommende Licht im Vorlagenbereich gemessen und danach die Belichtungszeit korrigiert wird. So werden unterschiedliche Lampenleistungen, die durch Alterung oder Netzspannungsschwankungen und Verschmutzungen der Reflektoren zustande kommen, teilweise ausgeglichen. Die für eine gewünschte Restspannung der belichteten Druckplatte notwendige Einstellung kann erst mit Hilfe von Probeplatten gefunden werden, die unterschiedlich lang belichtet werden und sosit der Belichtungsvorgang bei unterschiedlichen Restspannungen dieser Probeplatten beendet wird. Diejenige der Probeplatten, die einen zufriedenstellenden Druck ermöglicht, liefert auch die erforderliche Einstellung für die. anzustrebende Restspannung am Ende der Belichtung. Die dadurch gewonnene Einstellung kann jedoch nicht beibehalten werden, da sich die bei gleichbleibender Einstellung ergebende Restspannung mit der Aufladung und der Empfindlichkeit der lichtempfindlichen Schicht der Druckplatte ändert. Diese Parameter sind abhängig von Herstellungstoleranzen, Plattentyp, Luftfeuchtigkeit, Temperatur, Vorbelichtung, Koronaverschmutzung u.dgl.

[0004] Aus der DE-OS 30 49 339 ist eine elektrostatische Aufzeichnungseinrichtung mit einer Meßeinrichtung in Form eines Elektrometers zum Messen des Oberflächenpotentials einer lichtempfindlichen Schicht bekannt. Es wird das Oberflächenpotential eines latenten Bildes auf der lichtempfindlichen Schicht gemessen, wobei das Oberflachenpotential als Wechselspannungssignal festgestellt wird und aufgrund des gemessenen Oberflächenpotentials werden verschiedene Bedingungen zur Bilderzeugung, wie beispielsweise die Aufladungsspannung und die Entwicklungsvorspannung, gesteuert. Dazu enthält eine erste Steuereinrichtung ein gespeichertes Programm für eine Folgesteuerung der das latente Bild erzeugenden Einrichtung und eine zweite Steuerung ein gespeichertes Programm, um die Bedingungen zur Ausbildung des latenten Bildes mittels der das latente Bild erzeugenden Einrichtung oder um Bedingungen zum Entwickeln durch die Entwicklungseinrichtung mittels Ausgangssignalen von der Oberflächenpotential-Meßeinichtung zu steuern.

[0005] Aus der DE-PS 28 57 218 ist ein Verfahren zum Konstanthalten optimaler Bedingungen bei der elektrofotografischen Vervielfältigung bekannt, bei dem zur Ausbildung eines elektrostatischen latenten Bildes auf einem lichtempfindlichen Träger der Träger elektrostatisch aufgeladen und belichtet wird und neben dem elektrostatischen Bild der Vorlage auf dem Träger ein elektrostatisches latentes Bezugsbild ausgebildet wird, dessen Potential gemessen und nach Maßgabe des gemessenen Potentials des Bezugsbildes ein einstellbarer Parameter für die Vervielfältigung eingestellt wird. Das Bezugsbild wird durch Ausbildung von Hell-und Dunkelbereichen auf dem lichtempfindlichen Träger erzeugt und weist dementsprechend Bereiche niedrigen und hohen Potentials auf. Die Potentiale beider Bereiche werden gemessen und bei Abweichen der Potentiale des Bezugsbildes von vorgegebenen Sollwerten wird der dem jeweiligen Bereich zugeordnete Einstellparameter für die Vervielfältigung geändert, bis die Potentiale des elektrostatischen latenten Bezugsbildes auf die vorgegebenen Sollwerte gebracht sind. Ist die Belichtung des lichtempfindlichen Trägers ungenügend, es liegt dann im allgemeinen das Potential zu hoch, so werden Signale erzeugt, um automatisch die Spannung der Beleuchtungseinrichtung, die Breite der Schlitzöffnung usri. zu korrigieren oder eine entsprechende Korrekturangabe für das Potential zu liefern. Ist die Aufladung des lichtempfindlichen Trägers ungenügend, d.h. das Potential liegt insgesamt zu niedrig, so werden Signale geliefert, um automatisch die Spannung der Aufladeeinrichtung zu erhöhen oder um eine entsprechende Korrektur des Potentials vorzunehmen. Sind sowohl die Belichtung wie die Aufladung ungenau, so werden Signale geliefert, um beide Parameter zu korrigieren, so daß nach einigen Kopierdurchgängen die vorgegebenen Sollwerte erreichbar sind. Es erfolgt somit ein Nachsteuern der Spannung der Aufladeeinrichtung und/oder eine Erhöhung der Belichtungsstärke, wobei Ausgangspunkt für diese Korrekturen die Messung des Oberflächenpotentials eines elektrostatischen latenten Bezugsbildes auf dem lichtempfindlichen Träger ist.

[0006] In der europäischen Patentanmeldung 0 098 509 ist ein Verfahren zur Steuerung der elektrostatischen Aufladung einer Fotoleiteroberfläche durch eine Koronaaufladeeinrichtung beschrieben. Hierbei wird die aufgeladene Fotoleiteroberfläche teilweise durch Belichten entladen und es werden Signale gemessen, die einen Vergleich der belichteten und unbelichteten Bereiche der Fotoleiteroberfläche ermöglichen. Entsprechend diesen Vergleichssignalen wird die Aufladeeinrichtung gesteuert. Die Vergleichssignale dienen auch dazu, die Lichtintensität einer Belichtuneslam_De und die Belichtungsdauer zu regeln. Hierzu wird bei Übereinstimmung des Meßsignals mit einem gespeicherten Sollwert des unbelichteten Bereichs des Fotoleiters die Koronaaufladespannung auf einen Wert entsprechend den übereinstimmenden Pegeln von Meßsignal und Sollwert geregelt. Das zu dieser Koronaaufladespannung gehörende Meßsignal im belichteten Bereich des Fotoleiters regelt die Belichtungslampe in Übereinstimmung mit gespeicherten Daten der Lampencharakteristik, welche die Alterung der Lampe, nichtlineare Einflüsse durch Spannungsschwankungen, Verschiebung der Farbtemperatur der Belichtungslampe in bezug auf die Fotoleiterempfindlichkeit, u.dgl. berücksichtigen, um die belichteten Flächenabschnitte des Fotoleiters auf die gewünschte Oberflächenspannung aufzuladen. Bei diesem Verfahren werden die Koronaaufladespannung, die Belichtungsstärke und die Belichtungsdauer so geregelt, daß zu Beginn der Betonerung des Fotoleiters eine vorgegebene Spannung in den belichteten Flächenabschnitten besteht. Eine fortlaufende Messung der absinkenden Spannung des Fotoleiters und des Belichtungsvorgangs in den belichteten Flächenabschnitten erfolgt nicht.

[0007] In dem US-Patent 3,438,705 ist eine Belichtungs- und Entwicklungsvorrichtung beschrieben, bei der die Hintergrunddichte einer Kopie automatisch mit Hilfe einer fotoempfindlichen Einrichtung gesteuert wird, die das zu kopierende Material abtastet. Das während der Abtastung des Hintergrundes erhaltene Potential wird während der Belichtung an die Entwicklungsplatte angelegt, uc ein Überladen der Platte zu verhindern. Bei dieser Vorrichtung wird die Belichtung gemessen, welche die zu entwickelnde Platte in einer Hintergrundfläche empfängt. Aus diesem gemessenen Belichtungswert und de- Anfangspotential der zu entwickelnden Platte wird ein neues Potential gewonnen, das gleich dem Potential ist, das aus der Belichtung der Platte resultiert, und dieses Potential wird während der Entwicklung an die Entwicklungselektrode und die Platte angelegt. Eine Steuerung der Belichtungsdauer aufgrund des Spannungskontrastes zwischen belichteten und unbelichteten Flächen der zu entwickelnden Platte ist nicht vorgesehen. Es wird vielmehr das Potential des latenten Bildes auf der Druckplatte festgestellt und mittels des diesem Potential entsprechenden Signals die Bedingungen gesteuert, die zur Bilderzeugung notwendig sind. Nach der Messung erfolgt somit ein Nachsteuern solange, bis die gewünschten Sollwerte erreicht sind.

[0008] Den bekannten Verfahren und Vorrichtungen ist gemeinsam, daß sie eventuelle Veränderungen in den lichtempfindlichen Schichten von Träger zu Träger bei der Belichtungsdauer nicht ausreichend berücksichtigen und eine Steuerung über die Restladung der belichteten Schicht des Trägers bzw. der belichteten Platte nicht vornehmen.

[0009] Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren der eingangs beschriebenen Art so zu gestalten, daß die Belichtungsdauer einer lichtempfindlichen Schicht eines Trägers anhand von fest vorgegebenen Potentialen, bzw. -differenzen auf der durch die Belichtung in den Hellbereichen entladenen lichtempfindlichen Schicht bestimmt wird. Im Rahmen dieser Aufgabe soll auch eine Anordnung für die Durchführung des Verfahrens gegeschaffen werden.

[0010] Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren nach den Merkmalen des Oberbegriffs des Anspruchs 1 in der Weise gelöst, daß die lichtempfindliche Schicht auf ein vorgegebenes Oberflächenpotential aufgeladen wird, das mittels eines elektrostatischen Potentialdetektors gemessen wird, daß das während der Belichtung sich ändernde Potentialverhältnis laufend mit einem bestimmten Sollwert verglichen wird und daß bei Übereinstimmung des sich ändernden Potentialverhältnisses mit dem vorgegebenen Sollwert die Belichtung beendet wird.

[0011] Die Messung des Oberflächenpotentials wird zweckmäßigerweise in einem Hellbereich der lichtempfindlichen Schicht außerhalb des Bereichs des latenten elektrostatischen Bildes vorgenommen. Für diese Messung sind elektrostatische Meßsonden in verschiedenen Ausführungen bekannt, die jedoch im allgemeinen den Nachteil aufweisen, daß sie keine Transparentsonden sind und somit während der Belichtung den unter ihnen liegenden Teil der lichtempfindlichen Schicht abdecken und dieser nicht entladen wird und daher das Potential einer Restladung nicht gemessen werden kann. Weiterhin gibt es ein Verfahren der Ladungsmessung mittels einer leitend beschichteten Glasplatte und einem Coulombmeter, bei dem jedoch von Nachteil ist, daß der Abstand zwischen der Meßfläche und der Druckplatte direkt das Meßergebnis beeinflußt, daß durch verminderte Transmission gegenüber der nicht von der Meßsonde abgedeckten Druckplatte das resultierende Ergebnis nur einen Relativwert, nicht jedoch einen Absolutwert liefert und daß durch Verstauben der Glasplatte eine Änderung der Transmission auftritt, die das Meßergebnis beeinflußt.

[0012] In vorteilhafter Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens wird der Sollwert entsprechend dem Restpotential der lichtempfindlichen Schicht nach der Entladung der Hellbereiche des latenten Bildes bzw. entsprechend dem vorgegebenen Potentialunterschied zwischen den Hell- und Dunkelbereichen des belichteten latenten Bildes vorgegeben. Vorteilhafterweise ist zu jedem vorgegebenen Oberflächenpotential einer Aufladung ein bestimmtes Restpotential gespeichert bzw. einlesbar und es wird das während der Belichtung absinkende Oberflächenpotential laufend mit dem bestimmten Restpotential verglichen, das dem vorgegebenen Oberflächenpotential zu Beginn der Belichtung zugeordnet ist.

[0013] Sobald die Größe des absinkenden Oberflächenpotentials gleich oder kleiner als das Restpotential ist, wird die Belichtung beendet.

[0014] Die Anordnung zur Durchführung des Verfahrens, die mit einem Potentialdetektor zum Messen des Oberflächenpotentials einer lichtempfindlichen Schicht eines Trägers ausgerüstet ist, zeichnet sich dadurch aus, daß der Potentialdetektor mit einem Signalwandler verbunden ist, der die Wechselspannungsausgangssignale des Potentialdetektors in Gleichspannungssignale umwandelt und in eine Steuereinrichtung einspeist, die mit einem Verschluß im Strahlengang einer Belichtungseinrichtung verbunden ist und deren Ausgabesignal den Verschluß bei Erreichen eines vorgegebenen Sollwertes für die Potentialverhältnisse auf der lichtempfindlichen Schicht des Trägers schließt.

[0015] Die weitere Ausgestaltung der Anordnung ergibt sich aus den Merkmalen der übrigen Vorrichtungsansprüche.

[0016] Bei dem Potentialdetektor der Einrichtung handelt es sich um einen Detektor, der für den Durchlichtbetrieb mit schrägem Lichteinfall ausgerüstet ist. Selbstverständlich kann auch ein Detektor für senkrechten Lichteinfall verwendet werden, jedoch mit dem Nachteil, daß der Detektor sich in der Bildfläche abbildet oder bei Gebrauch am Plattenrand der Meßwert durch den Schatten im Meßfeld verfälscht ist. Der Potentialdetektor arbeitet nach dem an und für sich bekannten Kompensationsprinzip, das noch erläutert werden wird.

[0017] Mit der Erfindung werden die Vorteile erzielt, daß die Steuerung der Belichtungsdauer durch Überwachen der Entladungskurve der lichtempfindlichen Schicht bzw. des Spannungskontrastes zwischen den Hell- und Dunkelflächen der belichteten lichtempfindlichen Schicht erfolgt, wodurch eine gleichmäßige Qualität des Druckbildes der entwickelten lichtempfindlichen Schicht erhalten wird und größere Toleranzen in den physikalischen Eigenschaften der lichtempfindlichen Schicht der Druckplatten ausgeglichen werden können.

[0018] Die Erfindung wird im folgenden anhand der Zeichnungen näher beschrieben.

[0019] Es zeigen:

Fig. 1 eine schematische Seitenansicht eines ortsfesten Potentialdetektors für die Messung des Oberflächenpotentials der lichtempfindlichen Schicht einer Druckplatte,

Fig. 2 eine Draufsicht auf einen schematisch dargestellten, entlang einer Kante einer Druckplatte verfahrbaren Potentialdetektor,

Fig. 3 die Änderung des Oberflächenpotentials eines Hellbereichs im latenten elektrostatischen Ladungsbild auf einer Druckplatte in Abhängigkeit von der Belichtungszeit, gemessen mit einem ortsfesten Potentialdetektor,

Fig. 4 die Entladungskurven und die Potentialdifferenz zwischen Dunkel- und Hellbereichen im latenten elektrostatischen Ladungsbild auf einer Druckplatte in Abhängigkeit von der Belichtungszeit, gemessen mit einem bewegten Potentialdetektor,

Fig. 5 den Verlauf der Oberflächenpotentiale in einem Streifenmuster im Randbereich einer Druckplatte während der Belichtung

Fig. 6 ein Blockschaltbild einer Anordnung zur Belichtungssteuerung aufgrund der Messung des Restladungspotentials einer belichteten Druckplatte,

Fig. 7 ein Blockschaltbild einer Anordnung zur Belichtungs-, Koronaspannungs- und Entwicklerspannungssteuerung aufgrund der Messung der Potentialdifferenz zwischen Hell- und Dunkelbereichen einer belichteten Druckplatte,

Fig. 8 ein Ablaufdiagramm für ein Programm zur Steuerung der Schaltungsanordnung nach Fig. 6,

Fig. 9 ein Ablaufdiagramm eines in einem Mikroprozessor der Schaltungsanordnung nach Fig. 7 gespeicherten Programms, und

Fig. 10 Schaltungseinzelheiten des Blockschaltbilds nach Fig. 6.

[0020] Fig. 1 zeigt schematisch eine Druckplatte 1, die auf einen Belichtungstisch 2 aufliegt und beispielsweise durch Saugluft festgehalten ist. Die Druckplatte 1 ist in an sich bekannter Weise zuvor durch eine nicht gezeigte Koronaaufladeeinrichtung auf ein bestimmtes Potential aufgeladen und auf den Belichtungstisch 2 befördert worden. Ein Randstreifen von beispielsweise 20 mm Breite der Druckplatte steht über den Belichtungstisch 2 über und liegt unterhalb einer Abschirmung 4 eines Potentialdetektors 3. Dieser Potentialdetektor ist im allgemeinen ortsfest am Rande des Belichtungstisches 2 angeordnet, jedoch ist es auch möglich, den Potentialdetektor 3 schwenkbar anzubringen und jeweils für die Messung über den Rand der Druckplatte 1 zu schwenken. Im Bereich der Abschirmung 4 des Potentialdetektors 3 ist schematisch eine Meßelektrode 6 eingezeichnet. Die eine Seitenwand der Abschirmung 4 ist gegenüber der Horizontalen geneigt, um einen schrägen Lichteinfall 5 zu berücksichtigen und dadurch eine Schattenbildung durch die Seitenwände der Abschirmung 4 auf dem zu belichtenden Meßfeld, das innerhalb der nach unten und oben hin offenen Abschirmung 4 liegt, zu vermeiden. Die Wände der Abschirmung 4 werden zweckmäßigerweise sehr dünn gestaltet, so daß ihre eventuelle Abbildung auf den Randbereich der Druckplatte die Messung kaum beeinflußt. Die unter der Abschirnung 4 liegende Meßfläche beträgt beispielsweise 11 mm x 15 mm, so daß das Verhältnis der gemessenen belichteten Fläche zu der unbelichteten Fläche unmittelbar unter den Seitenwänden der Abschirmung 4 eine Größenordnung aufweist, bei der ein Fehler in der Potentialmessung, verursacht durch die Schattenbildung der Seitenwände der Abschirmung 4, minimal gehalten werden kann. Untersuchungen haben gezeigt, daß die Schattenzonen, verursacht durch die Abbildung der Seitenwände der Abschirmung 4 eines herkömmlichen Potentialdetektors auf den Randbereich der Druckplatte 1 während der Belichtung, unterschiedliche Ladungszonen unterhalb der Abschirmung 4 ergeben, die zusammen mit dem durch Gleit- oder Distanzstücke an dem Potentialdetektor eingehaltenen Abstand zwischen der Meßelektrode und der Druckplatte 1, der 0,2 bis 1,5 mm, insbesondere 1,2 mm beträgt, um Berührungen während des Transportes der Druckplatte 1 bis in ihre endgültige Lage auf dem Belichtungstisch 2 auszuschließen, das elektrische Feld zwischen den Schattenzonen und der Meßelektrode und somit das Meßergebnis verfälschen. Dies kann dazu führen, daß bei Einsatz eines herkömmlichen, auf dem Markt befindlichen Potentialdetektors mit kleiner Abschirmungsöffnung, die etwa nur ein Drittel der voranstehend angegebenen Abschirmungsöffnung von 11 mm x 15 mm beträgt, anstelle eines tatsächlich vorhandenen Restladungspotentials von 65 V, ausgehend von einem Oberflächenpotential von 400 V nach der Aufladung und vor der Belichtung, ein Restladungspotential von 100 V gemessen wird.

[0021] Die Messung des Oberflächenpotentials der belichteten Druckplatte 1 erfolgt mit dem Potentialdetektor 3 außerhalb des eigentlichen Bildbereichs der Druckplatte 1, so daß auch eine eventuelle Abbildung der Konturen der Abschirmung 4 innerhalb des Randbereichs der Druckplatte 1 nicht stört, da die fertig entwickelte Druckplatte 1 üblicherweise in einer Druckmaschine auf einen Zylinder gespannt wird und im Regelfall an mindestens einer Seite der Randbereich von etwa 20 mm der Druckplatte 1 außerhalb der Druckzone liegt.

[0022] In Fig. 2 ist schematisch ein verfahrbarer Potentialdetektor 3 dargestellt, der entlang einer Kante einer Druckplatte 1 bewegt wird. Der Potentialdetektor 3 ist in einer Halterung 7 angeordnet, die entlang einer Führung 8 in Richtung des Pfeils A verschiebbar ist.

[0023] Die Halterung 7 wird beispielsweise mittels eines nicht dargestellten Seilzugs verfahren. Eine andere Lösungsmöglichkeit sieht für die Führung 8 eine Schraubspindel vor, die sich dreht und dadurch die mit der Spindel im Eingriff stehende Halterung 7 verschiebt. Mit dem Beginn der Belichtung wird der Potentialdetektor 3 in jedem Fall motorisch entlang der Führung 8 über einen Randbereich der Druckplatte 1 geführt. In dem Randbereich ist eine für die Hell-Dunkelverteilung in der Vorlage als Vergleichsnormal dienende Oberflächenpotentialverteilung durch die schraffierten Dunkelbereiche 9^I bis 9^X und die dazwischen liegenden Hellbereiche 10 in einem Streifenmuster angedeutet. Die unterschiedlich dichten Schraffuren der Dunkelbereiche 9^I bis 9^X zeigen die verschiedenen Oberflächenpotentiale in den entsprechenden Dunkelbereichen an. Das Verhältnis der Breiten der Dunkelbereiche zu den Hellbereichen ist 1 : 1 und die Bereichsbreite wird der Auflösung des Potentialdetektors angepaßt und liegt in der Praxis zwischen 1 und 8 mm. Das Streifenmuster wird durch Abbildung eines Balkenmusters zusammen mit der Vorlage erhalten, das an die Vorlage angrenzt und dessen Schwärzungsdichten in den Dunkelbereichen bekannt sind.

[0024] Das Streifenmuster aus Hell- und Dunkelbereichen befindet sich im Randbereich der Druckplatte 1, der beim Aufspannen der Druckplatte auf den Druckzylinder außerhalb der Druckzone liegt, so daß diese durch das Streifenmuster nicht beeinträchtigt wird. Das Streifenmuster ermöglicht es, die Belichtungszeit bzw. -dauer aufgrund eines vorgegebenen Potentialunterschieds zwischen Hell- und Dunkelbereichen zu steuern, was gegenüber der Belichtungszeitsteuerung durch Erreichen eines festgelegten Restladungspotentials der Oberfläche der Druckplatte für günstiger angesehen wird, da die lichtempfindlichen Schichten der Druckplatten in den Dunkelbereichen, d.h. den nichtbelichteten Bereichen, im allgemeinen ein nicht gleichmäßiges Verhalten zeigen. Das liegt einerseits an ungleichen fotochemischen und/oder physikalischen Eigenschaften der lichtempfindlichen Schichten der Druckplatten selbst, die auch innerhalb der gleichen Charge von Druckplatten auftreten können, wie beispielsweise unterschiedliche Dunkelabfallgeschwindigkeiten und Lichtempfindlichkeitsmaxima der Schichten, und andererseits an den unterschiedlichen Schwärzungsdichten der

[0025] Dunkelbereiche der Vorlagen, am Streulicht durch Verschmutzung der Abbildungsoptik, Schwankungen der Aufladungsspannung und verschieden langen Belichtungszeiten der einzelnen Druckplatten.

[0026] In Fig. 3 ist schematisch die Änderung des Oberflächenpotentials eines Hellbereichs einer aufgeladenen Druckplatte in Abhängigkeit von der Belichtungszeit dargestellt. Die Messung des Potentials geschieht mit einem ortsfesten Potentialdetektor. Zunächst wird die Druckplatte auf das Oberflächenpotential U_a aufgeladen und zum Einschaltzeitpunkt t_E mit der Belichtung begonnen. Die Entladung des Hellbereichs im latenten elektrostatischen Ladungsbild erfolgt während der Belichtung gemäß der dargestellten Kurve, wobei das Oberflächenpotential exponentiell abnimmt. Das jeweilige kontinuierliche gemessene Oberflächenpotential wird fortlaufend mit einem vorgegebenen Sollwert des Oberflächenpotentials U_R der Restladung der fotoleitfähigen Schicht der Druckplatte verglichen, und sobald das gemessene Oberflächenpotential mit dem vorgegebenen Oberflächenpotential U_R übereinstimmt, das ist zum Zeitpunkt t_A, wird die Belichtung durch Ausschalten der Belichtungsquelle beendet.

[0027] In Fig. 4 sind schematisch Hellentladungskurven U_E1, U_E2, U_E3, ... und die Dunkelentladungskurve U_S eines elektrostatischen Ladungsbildes in Abhängigkeit von der Belichtungszeit dargestellt, wobei diese Messungen mit einem entlang der Druckplatte bewegten Potentialdetektor vorgenommen wurden. Es sind mehrere Entladungskurven der Hellbereiche für unterschiedlich hohe Aufladungen der Druckplatte eingezeichnet. Beispielsweise können die Druckplatten auf Werte U₀₁ = -580 V, U₀₂ = -520 V und U_{03 =} - 480 V aufgeladen werden. Im Idealfall dürfte keine Entladung der Dunkelbereiche auftreten, so daß das Potential U_D der Dunkelbereiche auf einer parallelen Geraden zu der Zeitachse durch das Oberflächenpotential U_o der Aufladung liegen sollte. In der Praxis kommt es jedoch auch zu einer gewissen Entladung der Dunkelbereiche, so daß der tatsächliche Potentialverlauf durch die Dunkelentladungskurve U_s der Dunkelbereiche gegeben ist. Diese Entladung in den Dunkelbereichen kommt durch Streulicht an der Optik, das in den Dunkelbereich gelangt, durch unterschiedliche Schwärzungsdichten der Dunkelbereiche in den Vorlagen und unterschiedlichen Dunkelabfallgeschwindigkeiten zustande. Der Potentialabfall im Dunkelbereich gegenüber dem Oberflächenpotential U_o der Aufladung liegt in der Größenordnung von etwa 80 V. Die zu den Aufladungspotentialen U_0i gehörenden Oberflächenpotentiale U_Ri der Restladungen betragen beispielsweise U_R1 = -160 V, U_{R2 =} -130 V und U_R3 = - 115 V.

[0028] Zum Einschaltezeitpunkt t_E der Belichtungsquelle beginnt in den Hellbereichen des elektrostatischen Ladungsbildes auf -der Druckplatte der Abfall des Oberflächenpotentials entsprechend der zu dem jeweiligen Aufladungspotential gehörenden Entladungskurve. Von dem entlang der Druckplatte bewegten Potentialdetektor wird fortlaufend zu jedem Zeitpunkt die Potentialdifferenz ΔU_i = U_S - U_Ei mit einem vorgegebenen Sollwert ΔU_ideal verglichen, der im Zusammenhang mit Fig. 5 näher erläutert wird.

[0029] Bei Beginn der Belichtung wird der Potentialdetektor 3 über das Streifenmuster verfahren und die Verteilung der Oberflächenpotentiale gemessen, die in etwa den in Fig. 5 schematisch gezeigten, gestrichelt eingezeichneten theoretischen Verlauf aufweisen. Der diesem Verlauf angenäherte praktische Verlauf ist mit durchgehenden eingezeichnet. In der Zeichnung ist oberhalb des Streifenmusters der zugehörige Verlauf der Oberflächenpctentiale in den einzelnen Hell- und Dunkelbereichen während der Belichtung eingetragen. Im ersten Abschnitt erfolgt die Aufladung der Druckplatte auf ein Oberflächenpotential U_o und die mit der Belichtung beginnende Entladung im ersten Hellbereich der Druckplatte. Sobald der erste Dunkelbereich 9¹ abgetastet wird, steigt das Oberflächenpotential von U_E1 auf U_S1 an. Entsprechend dem Schwärzungsgrad im Dunkelbereich und den übrigen, voranstehend beschriebenen Einflußgrößen, sinkt das Oberflächenpotential innerhalb des Bereichs 9¹ nur geringfügig bis auf einen Wert U_S2 ab. Im nachfolgenden zweiten Hellbereich erfolgt ein starkes Absinken des Oberflächenpotentials auf U_E3, um zu Beginn des anschließenden zweiten Dunkelbereichs 9^II auf U_S3 anzusteigen und am Ende des Dunkelbereichs geringfügig auf U_S4 abzusinken. Im anschließenden Hellbereich sinkt das Oberflächenpotential auf U_E5 ab, um anschließend wieder auf U_S5 im nachfolgenden Dunkelbereich anzusteigen. Dieser Verlauf setzt sich durch die übrigen Hell-und Dunkelbereiche in analoger Weise fort. Aus den Oberflächenpotentialen mit gleichen Indices für i wird jeweils die Potentialdifferenz ΔU_i = U_Si - U_Ei gebildet und mit einem zugehörigen vorgegebenen Sollwert LU_ideal verglichen. Bei Übereinstimmung zwischen der Potentialdifferenz und dem Sollwert bzw. Überschreiten des Sollwertes wird die Belichtung beendet. Das Restladungspotential U_R des zuletzt gemessenen Hellbereichs vor dem Ende der Belichtung ergibt die Grundlage für die Ermittlung der Gegenspannung für die Entwickelelektrode, während das Aufladungspotential U_o für die Bestimmung der erforderlichen Aufladespannung für die nächste Druckplatte herangezogen wird.

[0030] Da das Balkenmuster während der Belichtung als Streifenmuster unter gleichen Bedingungen wie die Vorlage auf die gleichmäßig aufgeladene Druckplatte abgebildet wird, folgt die Entladung bzw. der Verlauf der Oberflächenpotentiale im Streifenmuster dem Verlauf der Oberflächenpotentiale im elektrostatisch latenten Ladungsbild, so daß die Messung der Potentialdifferenz im Streifenmuster stellvertretend für die direkte Messung der Potentialdifferenz im latenten elektrostatischen Ladungsbild vorgenommen werden kann, ohne daß das elektrostatisch latente Ladungsbild durch die Abbildung des Potentialdetektors während des Meßvorgangs beeinflußt wird.

[0031] Der Sollwert ΔU_ideal ist in erster Linie abhängig vom jeweiligen Toner, ob Flüssig- oder Trockentoner, der Konstanz seiner triboelektrischen Aufladung und von dem Betonerungs- bzw. Entwicklungsverfahren und in zweiter Linie vom Druckplattentyp. Dabei spielt im Rahmen des Betonerungsverfahrens die Geschwindigkeit der Betonerung eine ausschlaggebende Rolle. Für eine herkömmliche Druckplatte vom Elfasol^(R)-Typ beträgt der Absolutwert der Potentialdifferenz ΔU_ideal beispielsweise 330 V ∓ 100 V für Trockentonerentwicklung und 230 V ∓+ 100 V für Flüssigtonerentwicklung. Die Potentialdifferenz ΔU_ideal für optimalen Kontrast zwischen den Hell- und Dunkelbereichen nach der Entwicklung wird für die Parameter Toner, Entwicklung und Druckplatte vorab bestimmt und abrufbar gespeichert.

[0032] Fig. 6 zeigt ein prinzipielles Blockschaltbild einer Anordnung zur Belichtungssteuerung anhand der Messung des Restladungspotentials von belichteten Druckplatten. Der Potentialdetektor 3, dessen Funktionsweise noch später beschrieben werden wird, liefert als Ausgangssignal ein Wechselspannungssignal, das einem Signalwandler 11 eingespeist wird und in diesem in ein Gleichspannungssignal umgesetzt wird. Dieses Gleichspannungssignal wird einem Impedanzwandler eingespeist, der dafür sorgt, daß das Gleichspannungssignal niederohmig an den einen Eingang eines Komparators 13 weitergeleitet wird, dessen anderer Eingang mit einer einstellbaren Vergleichsspannung, die durch eine Einrichtung 15, wie z.B. einen Speicher oder einen Zehngangpotentiometer, geliefert wird und die gleich dem gewünschten Restladungspotential der belichteten Druckplatte ist, beaufschlagt wird. Die Schaltschwelle des Komparators 13 ist frei wählbar und es wird im Komparator die tatsächliche Aufladung nach einer bestimmten Belichtungszeit mit dem Sollwert entsprechend dem gewünschten Restladungspotential zum Zeitpunkt der Beendigung der Belichtung verglichen. Solange das Oberflächenpotential der tatsächlichen Aufladung als Absolutwert größer als der Sollwert ist, wird die Belichtung fortgesetzt. Sobald das gemessene Oberflächenpotential gleich oder kleiner als der Sollwert ist, gibt der Komparator 13 ein Ausgangssignal an einen Verschluß 14 im Belichtungsweg ab, der geschlossen wird und somit die Belichtung der Druckplatte beendet. Der Impedanzwandler 12, der Komparator 13 und die Sollwert-Einstelleinrichtung 15 bilden eine Steuereinrichtung 51, die gestrichelt eingezeichnet ist.

[0033] Erfolgt die Belichtung der Druckplatte in einer Belichtungskamera, so handelt es sich bei dem Verschluß 14 um den Kameraverschluß. Anstelle des Verschlusses 14 kann auch ein Relais betätigt werden, das beispielsweise die Speisespannung zu einer Belichtungsquelle unterbricht. Nach Beendigung der Belichtung wird die Druckplatte zu einer nicht dargestellten Entwicklervorrichtung transportiert, in der sie betonert wird.

[0034] Bei der Anordnung nach Fig. 6 kann, obgleich dies nicht gezeigt ist, eine Mikroprozessorsteuerung verwendet werden, die dann den Impedanzwandler 12, den Komparator 13 und den Speicher 15 ersetzt. Das Ausgangssignal des Signalwandlers 11 wird dann direkt dem Mikroprozessor eingespeist, der ein Digitalsignal über die Digitalausgabe an den Verschluß 14 bzw. an einen Schalttransistor zur Betätigung eines Relais liefert, das beispielsweise die Speisespannung zu einer Belichtungsquelle unterbricht.

[0035] Fig. 7 zeigt ein Blockschaltbild einer Anordnung, die auch zur Belichtungs-, Korona- und Entwickelelektrodensteuerung aufgrund der Messung der Potentialdifferenz zwischen Hell- und Dunkelbereichen einer belichteten Druckplatte benutzt werden kann. Das von dem Potentialdetektor 3 gemessene Oberflächenpotential ergibt ein Wechselspannungsausgangssignal, das einem Signalwandler 16 eingespeist wird, der das Wechselspannungssignal in ein Gleichspannungssignal umwandelt. Das Vorzeichen der Gleichspannung richtet sich nach der Phasenlage des Wechselspannungssignals in der Anfangslage der Meßelektrode des Potentialdetektors. Ist die Anfangslage der Meßelektrode derart, daß ein Maximum durchlaufen wird, d.h. die Phase positiv ist, so wird im Signalwandler ein positives Gleichspannungssignal erzeugt. Ist umgekehrt die Anfangslage der Meßelektrode derart, daß ein Minimum des Wechselspannungssignals durchlaufen wird, d.h. die Phase negativ ist, so wird im Signalwandler 16 ein negatives Gleichspannungssignal erzeugt. Das Ausgangssignal des Signalwandlers 16 wird einer gestrichelt eingezeichneten Steuereinrichtung 52 eingespeist, die einen Verstärker 17 sowie einen Analog-Digitalwandler 18, der mit einem Mikroprozessor 19, einer Digitalausgabe 20 und einem Digital/Analogwandler 21 zu einer Einheit zusammengefaßt ist, aufweist. Die Steuerung des Mikroprozessors 19 ist derart programmiert, daß das von dem Potentialdetektor 3 gelieferte Meßsignal, das der Potentialdifferenz aus dem Dunkelentladungspotential und dem Hellentladungspotential entspricht, mit einem gespeicherten Sollwert verglichen wird und bei Übereinstimmung der beiden Werte einerseits die Digitalausgabe 20 ein Signal an den Verschluß 14 liefert, um diesen-zu schließen und die Belichtung zu beenden, und andererseits der Digital/Analogwandler 21 zwei Ausgangssignale erzeugt, die in Hochspannungsverstärkern 22 und 23 verstärkt einer Koronaversorgung 24 bzw. einer Entwickelelektrodenversorgung 25 zugeführt werden.

[0036] Die Fig. 8 und 9 zeigen die Ablaufdiagramme für die Schaltungsanordnungen nach den Fig. 6 und 7, wobei davon ausgegangen wird, daß beide Schaltungsanordnungen mit einem Mikroprozessor ausgerüstet sind. Nach dem Start der Belichtung wird das von dem Potentialdetektor gemessene Oberflächenpotential U_a der aufgeladenen Druckplatte im Speicher mit variablem Zugriff des Mikroprozessors gespeichert und das dazu gehörende Restladungspotential U_R ermittelt. In dem Mikroprozessor sind zusammengehörende Paare von Aufladungspotentialen U_o und Restladungspotentialen U_R in Tabellenform gespeichert. Im nächsten Schritt wird das von dem Potentialdetektor gemessene Oberflächenpotential U mit dem Restladungspotential U_R verglichen. Solange das Potential U größer als das Restladungspotential U_R ist, wird dieser Vergleich fortgeführt. Sobald das gemessene Potential U kleiner oder gleich dem Restladungspotential U_R ist, wird die Belichtung ausgeschaltet. Des weiteren wird im Mikroprozessor das Aufladungspotential U₀ mit einem vorgegebenen Sollwert U_0ideal verglichen und bei einer Verknüpfung der beiden Werte in der Art, daß U_a größer als U_0ideal ist, die Aufladungskorona so gesteuert, daß die Koronaspannung U_Korona um eine Stufe verringert wird. Im Ablaufdiagramm ist das durch den Ausdruck U_Korona-1 angedeu- _tet. Ist das Oberflächenpotential U₀ kleiner U_0ideal, so wird die Spannung der Aufladekorona um eine Stufe höhergestellt, was im Ablaufdiagramm durch U_Korona⁺¹ angedeutet ist. Des weiteren wird die Spannung U_{Gegenspannung} der Entwickelelektrode gemäß der _Be-^{ziehung U}Gegenspannung ⁼ U_R ⁺ U_X bestimmt, mit dem Restpotential U_R und einer Größe U_x, bei der es sich um einen Erfahrungswert zwischen 10 und 120 V handelt. Beträgt beispielsweise das Restladungspotential -100 V, so wird der Betrag U_x = -50 V gewählt, so daß an die Entwickelelektrode eine Gegenspannung U_Geg_en--spannung von -150 V angelegt wird, die sicherstellt, daß die Entwicklung hintergrundfrei erfolgt. Als letzter Schritt im Ablaufdiagramm nach Fig. 8 erfolgt von dem Mikroprozessor die Ausgabe der Gegenspannung U_{Gegenspannung} für die Entwickelelektrodensteuerung und der Koronaspannung U_Korona für die Koronasteuerung. Bei dem Ablaufdiagramm nach Fig. 8 erfolgt die Steuerung mit einem feststehenden Potentialdetektor.

[0037] Das in Fig. 9 gezeigte Ablaufdiagramm ist in Verbindung mit der Schaltungsanordnung nach Fig. 7 zu lesen und betrifft die Mikroprozeßsteuerung einer Schaltungsanordnung mit bewegtem Potentialdetektor. Nach dem Start wird die Belichtung und der Antrieb für den Potentialdetektor eingeschaltet und das Aufladungspotential U_o im Speicher mit variablem Zugriff des Mikroprozessors gespeichert. Während der Bewegung des Potentialdetektors werden fortlaufend die vom Potentialdetektor gemessenen Oberflächenpotentiale entlang der Dunkelentladungskurve U_S und die zugehörigen Oberflächenpotentiale der Hellentladungskurve U_E in den Speicher mit variablem Zugriff eingelesen. Im Mikroprozessor wird die Potentialdifferenz ΔU = U_s - U_E gebildet und mit einem vorgegebenen Sollwert ΔU_ideal verglichen. Solange die Potentialdifferenz ΔU kleiner als ΔU_ideal ist, wird dieser Vergleich fortgeführt und jede neu gebildete Potentialdifferenz mit ΔU_ideal verglichen. Sobald die Potentialdifferenz ΔU größer oder gleich ΔU_ideal ist, wird die Belichtung beendet und der Potentialdetektor in seine Ausgangsstellung verfahren. Gleichzeitig wird das Aufladepotential U_o mit einem vorgegebenen Wert U_0ideal ver^gli- chen und je nachdem ob U_o größer U_0ideal oder kleiner als U_0ideal ist, die ^{Koronaspannung U}Korona um eine Stufe verringert oder um eine Stufe erhöht, was im Ablaufdiagramm durch U_Korona-1 bzw. U_Korona^{+1 angedeu-} tet ist. Die an die Entwickelelektrode anzulegende Ge^gens^paⁿnun^g U_Geg_ensp_annung ergibt sich aus U_R ⁺ U_x, mit dem Restladungspotential U_R der Druckplatte bei Beendigung der Belichtung und der Größe U_x, einem Erfahrungswert im Bereich von 10 bis 120 V, der dem Restladungspotential zuaddiert wird, um sicherzustellen, daß bei der Tonerentwicklung ein hintergrundfreies Bild erhalten wird. Zuletzt erfolgt die Ausgabe der Gegenspannung U_Geg_ensp_annung und der Koronaspannung U_Korona zur Steuerung der Entwicklerelektrode und der Aufladekorona.

[0038] Um ein hintergrundfreies Bild nach der Tonerentwicklung zu erhalten, werden die Druckplatte und die Meßanordnung auch mit einer Lichtintensität ausgeleuchtet, die der Hintergrunddichte bei ungünstigsten Bedingungen entspricht, wie sie zum Beispiel im Schattenbereich einer Schnittkante eines Satzteiles vorliegen. Um diese Bedingungen zu simulieren bzw. herzustellen, kann an oder über dem Vorlagenrand ein Graufeld entsprechender Dichte in opaker oder transparenter Form angebracht oder der Kopf des Potentialdetektors mit einem Graufilter der gewünschten Dichte abgedeckt werden. Die Dichte des Graufeldes liegt dabei im Bereich von 0,05 - 0,5, insbesondere bei einem Wert von 0,26. Wird dann die Gegenspannung der Entwickelelektrode auf die gleiche Spannungshöhe wie das Restpotential der Druckplatte in dem durch den Potential- detector gemessenen, belichteten Bereich bzw. durch das Abbild des Graufeldes belichteten Bereich der DrucKplatte gelegt, so werden die Abbildungen aller Bildflächen bis zu dieser optischen Dichte nicht betonert. Von Vorteil ist dabei auch der geringere Einfluß verschiedener Fehlerquellen, wie z.B. des Nullpunktsdriftes und des Miterfassens von Schattenpotentialen der Meßsonde, auf das Meßergebnis.

[0039] Anhand von Fig. 10 werden Schaltungseinzelheiten der Schaltungsanordnung nach Fig. 6 beschrieben. Der an sich bekannte Potentialdetektor 3 ist von einem Metallgehäuse 35 mit einer Öffnung 36 abgeschlossen, das die Meßeinrichtung umgibt und gegen äußere elektrische Felder abschirmt. Die Öffnung 36 bildet eine Meßöffnung für die Meßelektrode 6. Eine Stimm- bzw. Schwinggabel 31 im Metallgehäuse wird über einen frequenzmäßig abstimmbaren Antrieb 32 von einem Oszillator 28 in mechanische Schwingungen, wie durch die beiden Doppelpfeile B,B angedeutet, versetzt und ist elektrisch mit dem Metallgehäuse 35 verbunden. Die aufeinander zu- und voneinander wegschwingenden Arme der Schwinggabel 31 arbeiten als Zerhacker, der das Meßfenster 6 periodisch öffnet und schließt. Die von dem Oberflächenpotential des latenten elektrostatischen Ladungsbildes auf der Druckplatte ausgehenden elektrischen Kraftlinien verlaufen durch die Meßöffnung hindurch auf die Meßelektrode 6 und werden durch die hin- und hergehenden Arme der Schwinggabel 31, die sich quer zu den Kraftlinien bewegen, unterbrochen.

[0040] Dadurch wird eine zerhackte Wechselspannung in der Meßelektrode 6 induziert, deren Amplitude.der Spannungsdifferenz zwischen dem Oberflächenpotential auf der Druckplatte und dem.Potential der Schwinggabel proportional ist, die elektrisch mit dem Metallgehäuse 35 verbunden ist. Die Phase der induzierten Wechselspannung wird durch die Polarität der Gleichspannung bestimmt, die an der Meßelektrode 6 bzw. an dem Metallgehäuse 35 des Potentialdetektors 3 anliegt. Das in der Meßelektrode 6 induzierte Wechselspannungssignal hoher Impedanz wird in dem Signalwandler 11, der in Fig. 10 gestrichelt eingezeichnet ist, in ein Gleichspannungssignal umgewandelt.

[0041] Das induzierte Wechselspannungssignal hoher Impedanz wird durch einen Impedanzvorverstärker 26 in ein Signal niedriger Impedanz umgeformt und einem Signalverstärker 27 eingespeist, dessen Ausgangssignal über einen Opto- bzw. Fotokoppler, bestehend aus einer lichtemittierenden Diode 29 und einem Fototransistor 37, einem Phasendetektor 30 zugeführt wird. Die Amplitude und Polarität des Gleichspannungsausgangssignals des Phasendetektors 30 werden durch die Amplitude und Phase des induzierten Wechselspannungssignals relativ zu dem Referenzsignal, das an der Meßelektrode 6 anliegt, vorgegeben. Dem Phasendetektor 30 wird über einen Opto- bzw. Fotokoppler, bestehend aus einem Fototransistor 39 und einer lichtemittierenden Diode 38 ein Signal des Oszillators 28 eingespeist, demgegenüber die Anfangslage der Meßelektrode 6 bestimmt wird. öffnet die Schwinggabel 31 das Fenster zwischen Meßelektrode und Druckplatte, so sind die Phase und das Gleichspannungsausgangssignal positiv, anderenfalls die Phase und das Gleichspannungsausgangssignal negativ. Das Gleichspannungsausgangssignal des Phasendetektors 30 wird durch einen Integrator 33 für niedere Gleichspannungen integriert. Die Polarität des Ausgangssignals des Integrators 33 wird auf die Polarität des zu messenden Oberflächenpotentials der Druckplatte invertiert. Das Ausgangssignal des Integrators 33 wird einerseits über ein Voltmeter V angezeigt und andererseits einem Hochspannungsverstärker 34 zugeführt.Das Ausgangssignal des Hochspannungsverstärkers 34 ist einerseits an das Metallgehäuse 35 des Potentialdetektors 3 zurückgekoppelt, um diesen auf das gleiche Potential wie dasjenige der zu messenden Plattenoberfläche zu bringen und wird andererseits über einen Spannungsteiler 40, der einen regelbaren Widerstand und zwei Festwiderstände umfaßt, dem Impedanzwandler 12 der Steuerschaltung zum Bestimmen des Restladungspotentials bei Beendigung der Belichtung der Druckplatte zugeführt.

[0042] Im Impedanzwandler 12 wird die Impedanz des Gleichspannungsmeßsignals verringert. Der Ausgang des Impedanzwandlers 12 ist mit dem einen Eingang eines Komparators 13 verbunden, dessen anderer Eingang mit einem Zehngangpotentiometer 41 zum Einstellen und Einspeisen des jeweils gewünschten Sollwertes des Restladungspotentials in Verbindung steht. An das Zehngangpotentiometer 41 wird eine Referenzspannung einer lichtemittierenden Diode 42 angelegt, die zusammen mit einem Widerstand 43 einen Spannungsteiler bildet. Die lichtemittierende Diode 42 dient auch zur Anzeige, ob eine Spannung an das Zehngangpotentiometer 41 gelegt ist oder nicht. Zwischen dem Ausgang des Impedanzwandlers 12 und dem einen Eingang des Komparators 13 liegt ein Siebkondensator 44, der noch eventuell vorhandene Wechselspannungssignalkomponenten in Gleichspannungsmeßsignal aussiebt. Der Ausgang des Komparators 13 ist widerstandsmäßig auf den Eingang rückgekoppelt, an dem der Sollwert des Restladungspotentials anliegt. Das Sollwertsignal wird gegenüber dem Meßsignal invertiert. Ein Digitalvoltmeter 45 mißt, je nach Stellung eines Tasters 46a,46b, das Meßsignal an dem einen Eingang oder das Sollwertsignal an dem anderen Eingang des Komparators 13. Stimmen Meßsignal und Sollwertsignal überein, so liefert der Komparator 13 ein Ausgangssignal, das einen Schalttransistor 47 für eine Schaltquelle 48 betätigt, der einen Schalter 49 umschaltet, wodurch beispielsweise der Verschluß 14 in der Anordnung nach Fig. 6 geschlossen und die Belichtung beendet wird.

[0043] Mit dem Schalter ist eine lichtemittierende Diode 5C als Anzeige verbunden.

[0044] Wie schon im Zusammenhang mit Fig. 6 erwähnt wurde, kann anstelle der Steuerschaltung aus Impedanzwandl<r 12, Komparator 13, Sollwert-Einstelleinrichtung 15 eine Mikroprozessorsteuerung vorgesehen werden.

Ansprüche

1. Verfahren zum Einhalten eines vorgegebenen Potentialverhältnisses bei der Belichtung von elektrostatisch aufgeladenen lichtempfindlichen Schichten auf Trägern, auf denen ein elektrostatisch latentes Bild einer Vorlage während der Belichtung ausgebildet wird, dadurch gekennzeichnet, daß die lichtempfindliche Schicht auf ein vorgegebenes Oberflächenpotential aufgeladen wird, das mittels eines elektrostatischen Potentialdetektors gemessen wird, daß das während der Belichtung sich ändernde Potentialverhältnis laufend mit einem bestimmten Sollwert verglichen wird_' und daß bei Übereinstimmung des sich ändernden Potentialverhältnisses mit dem vorgegebenen Sollwert die Belichtung beendet wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Messung des Oberflächenpotentials in einem Hellbereich der lichtempfindlichen Schicht außerhalb des Bereichs des latenten elektrostatischen Bildes vorgenommen wird.

3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Sollwert entsprechend dem Restpotential der lichtempfindlichen Schicht nach der Entladung der Hellbereiche des latenten Bildes bzw. entsprechend dem Potentialunterschied zwischen den Hell- und Dunkelbereichen des belichteten latenten Bildes vorgegeben wird.

4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß zu jedem vorgegebenen Oberflächenpotential einer Aufladung ein bestimmtes Restpotential gespeichert bzw. einlesbar ist und daß das während der Belichtung absinkende Oberflächenpotential laufend mit dem bestimmten Restpotential verglichen wird, das dem vorgegebenen Oberflächenpotential zu Beginn der Belichtung zugeordnet ist.

5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß bei einer Größe des absinkenden Oberflächenpotentials gleich oder kleiner als das Restpotential die Belichtung beendet wird.

6. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß zu jedem vorgegebenen Oberflächenpotential einer Aufladung eine bestimmte Potentialdifferenz, gebildet aus dem Oberflächenpotential der belichteten Dunkelbereiche, vermindert um das Oberflächenpotental der belichteten Hellbereiche des latenten Bildes in einer Steuereinrichtung gespeichert bzw. einstellbar ist, und daß die während der Belichtung sich ändernde Potentialdifferenz fortlaufend mit der bestimmten Potentialdifferenz verglichen wird, die dem vorgegebenen Oberflächenpotential zu Beginn der Belichtung, zugeordnet ist.

7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß bei einer Größe der laufend gemessenen Potentialdifferenz gleich oder größer als die bestimmte Potentialdifferenz die Belichtung beendet wird.

8. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß an dem oder über dem Vorlagenrand ein Graufeld mit einer Dichte im Bereich von 0,05 bis 0,50 argebracht wird und daß die Gegenspannung der Entwickelektrode auf die gleiche Spannungshöhe wie das Restpotential der Druckplatte in dem durch das Abbild des Graufeldes belichteten Bereich der Druckplatte gelegt wird.

9. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Kopf des Potentialdetektors mit einem Graufilter vorgegebener Dichte im Bereich von 0,05 bis 0,50 abgedeckt wird und daß die Gegenspannung der Entwickelelektrode auf die gleiche Spannungshöh wie das Restpotential der Druckplatte nach der Belichtung in dem durch den Potentialdetektor gemessenen Bereich der Druckplatte gelegt wird.

10. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach den Ansprühen 1 bis 7, mit einem Potentialdetektor zum Messen des Oberflächenpotentials einer lichtempfindlichen Schicht eines Trägers, dadurch gekennzeichnet, daß de Potentialdetektor (3) mit einem Signalwandler (11 6) verbunden ist, der die Wechselspannungsausgangssignale des Potentialdetektors (3) in Gleichspannugssignale umwandelt und in eine Steuereinrichtung 51;52) einspeist, die mit einem Verschluß (14) im Strarlengang einer Belichtungseinrichtung verbunden ist un' deren Ausgabesignal den Verschluß (14) bei Erreichen eines vorgegebenen Sollwertes für die Potentialverhältnisse auf der lichtempfindlichen Schicht des Trägers schließt.

11. Anordnung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuereinrichtung (51) einen Impedanzwandler (12), einen Komparator und eine Sollwert-Einstelleinrichtung (15) aufweist, und daß der Ausgang des Impedanzwandlers (12) mit dem einen Eingang des Komparators (13) verbunden ist, dessen anderer Eingang mit dem Ausgangssignal der angeschlossenen Sollwert-Einstelleinrichtung (15) beaufschlagt wird, wobei die Größe des Ausgangssignals entsprechend dem Sollwert der Potentialverhältnisse eingestellt ist.

12. Anordnung nach Anspruch 11, dadurch gekennze:ch- net, daß die Einstelleinrichtung (15) einen Speicher aufweist, in dem Potentialwerte gespeichert sind, die Restpotentialen der belichteten lichtempfindlichen Schicht in den Hellbereichen entsprechen und die den zu Beginn der Belichtung durch die Höhe der Aufladung vorgegebenen Oberflächenpotentialen zugeordnet sin:.

13. Anordnung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuereinrichtung (51;52) einen Mikioprozessor enthält, in dem ein Ablaufprogramm für die Steuerung des Schließens des Verschlusses (14) gespeichert ist.

14. Anordnung nach Anspruch 13, dadurch gelennzeichnet, daß die Steuereinrichtung (52) einen Verstärker

(17), dem ein A/D-Wandler (18) nachgeschaltet ist, einen Mikroprozessor (19), eine Digitalausgabe (20) und einen D/A-Wandler (21) umfaßt und daß der D/A-Wandler (21) zwei Ausgänge aufweist, die über Hochspannungsverstärker (22,23) mit einer Koronasteueerung (24) für die Spannung einer Aufladungskorona und mit einer Entwickelelektrodensteuerung (25) für die Spannung einer Entwickelelektrode verbunden sind.

15. Anordnung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß in der Steuereinrichtung (51) die Potentialwerte vorbestimmter Oberflächenpotentiale (U_Oi) sowie die zugehörigen Restladungspotentiale (U_Ri) mit i gleich einer ganzen Zahl gespeichert sind, deren Differenz (ΔU_{i =}U_ni - U_Ri) gebildet und mit der Differenz aus dem gemessenen Oberflächenpotential des Potentialdetektors (3) und dem zugehörigen Restladungspotential verglichen wird, um bei gleichgroßen Differenzen den Verschluß (14) im Strahlenweg der Belichtungseinrichtung zu schließen.

16. Anordnung nach den Ansprüchen 8 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß der Potentialdetektor (3) außerhalb des Bereichs des latenten elektrostatischen Bildes in einem Abstand von 0,2 bis 1,5 mm von der lichtempfindlichen Schicht des Trägers ortsfest über dem Randbereich der Druckplatte (1) angeordnet ist.

17. Anordnung nach den Ansprüchen 8 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß der Potentialdetektor (3) in einem Abstand von 0,2 bis 1,5 mm von der lichtempfindlichen Schicht des Trägers in einer Halterung (7) angeordnet ist, die entlang einer Führung (8) während der Belichtung über den Randbereich der Druckplatte (1) verfahrbar ist.

Zeichnung