[0001] Die Erfindung bezieht sich auf einen Analysator für geladene Teilchen mit zwei der
Erzeugung eines axialsymmetrischen elektrischen Feldes dienenden Elektroden, die sich
gemeinsam mit den Bahnen der zu analysierenden Teilchen entlang eines zwischen den
Elektroden befindlichen Sollkreises erstrecken.
[0002] Analysatoren dieser Art werden überall dort eingesetzt, wo die Energie geladener
Teilchen untersucht bzw. gemessen werden soll. Als Beispiel sei die Untersuchung der
Oberfläche einer Probe erwähnt, bei der der zu untersuchende Bereich mit Primärteilchen
oder Quanten angeregt wird und diese Anregung zur Emission geladener Sekundärteilchen
führt. Die Energieverteilung der emittierten geladenen Teilchen läßt Rückschlüsse
auf die Zusammensetzung der Probe zu.
[0003] Analysatoren der betroffenen Art sind z. B. aus "Focussing of Charged Particles",
Vol·2, Chapter 4.1, 1967, Prof. H. Wollnik, und aus "Z.Naturforsch.", 10a, 872, 1955,
H.Ewald, H.Liebl, bekannt.
[0004] Die Funktion von Analysatoren der betroffenen Gattung beruht darauf, daß Teilchen
gleicher Masse, aber unterschiedlicher Energie, welche im Bereich des Sollkreises
in das von den Elektroden erzeugte elektrische Feld eintreten, verschieden stark abgelenkt
werden. Beim Arbeiten mit elektrostatischen Analysatoren wird in der Regel mit Hilfe
des elektrischen Feldes ein möglichst enges
[0005] Energiefenster gesetzt, so daß jeweils nur Teilchen mit einer bestimmten Energie
den Analysator im Bereich der Sollbahn oder des Sollkreises durchsetzen und den nachgeordneten
Detektor erreichen. Durch Veränderung des elektrischen Feldes erhält man die gewünschte
Energieverteilung. Es gibt auch die Möglichkeit, im Auslaßbereich des Analysators
ortsempfindliche Detektoren anzuordnen, so daß gleichzeitig geladene Teilchen verschiedener
Energie registriert werden können. Generell ist man bestrebt, bei den Messungen sowohl
eine möglichst große Energieauflösung als auch eine möglichst gute Transmission zu
erzielen.
[0006] Bei einer einfachen Ausführung eines Analysators der eingangs genannten Art - beim
Zylinderanalysator - haben die Ablenkelektroden und damit die erzeugten Äquipotentialflächen
die Form von Ausschnitten aus konzentrisch zueinander angeordneten Zylinderflächen,
die sich über einen Winkel von 127° erstrecken. Um mit einem Analysator dieser Art
eine ausreichend gute Energieauflösung zu erzielen, sollte die Passenergie, also die
Energie, die die Teilchen beim Durchtritt durch den Analysator in etwa haben sollten,
möglichst nicht höher als 20 eV sein. Mit wachsender Passenergie wird die Zeit, die
das zu untersuchende Teilchen im Analysator verbringt und in der die ablenkenden Kräfte
wirksam sind, zu kurz, um eine wirksame Dispersion von sich nur wenig in ihrer Energie
unterscheidenden Teilchen zu erzielen. Da z. B. bei den meisten Oberflächenanalyseverfahren,
bei denen die Energie von geladenen Sekundärteilchen untersucht wird, die Sekundärteilchenenergie
wesentlich höher als 20 eV liegt, ist es erforderlich, die Teilchen vor dem Eintritt
in den Analysator mit Hilfe einer geeigneten Elektronen- oder Ionenoptik auf die gewünschte
Passenergie abzubremsen. Eine solche Abbremsung geladener Teilchen hat aber den Nachteil
einer quadratisch mit dem Bremsfaktor abnehmenden Transmission. Zylinderanalysatoren
sind deshalb bei schwachen Intensitäten der zu analysierenden Sekundärteilchen entweder
wegen zu langer Meßzeiten oder wegen zu schlechter Meßergebnisse nicht einsetzbar.
[0007] Eine Verbesserung des Zylinderanalysators ist der Kugelanalysator, der aus zwei Kugelflächenabschnitten
besteht. Er erstreckt sich über 180°, so daß sein Sollkreis etwas länger ist und damit
seine Eigenschaften etwas besser sind als beim Zylinderanalysator.
[0008] Über etwas mehr als 180° (über 1,057 π) erstreckt sich der Toroidanalysator, der
von zwei toroidförmigen Fokusflächenabschnitten gebildet wird. Der Toroidanalysator
besitzt nur für auf seiner Sollbahn fliegende Teilchen bessere Eigenschaften als die
übrigen Analysatoren. Er hat den prinzipiellen Nachteil, daß der Fokus der Teilchen
im Ausgangsbereich vom Einschußwinkel abhängt. Je größer der Einschußraumwinkel zum
Zwecke der Erhöhung der Transmission gewählt wird, desto schlechter ist seine Energieauflösung.
Für exakte Analysen, bei denen die zu registrierenden Teilchen geringe Intensitäten
haben, ist der Toroidanalysator deshalb ebenfalls nicht geeignet.
[0009] Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Analysator der eingangs
genannten Art zu schaffen, der bei bestimmten Energieauflösungen verbesserte Transmissionseigenschaften
hat.
[0010] Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß die Elektroden des Analysators
eine solche Form haben, daß das von ihnen erzeugte axialsymmetrische elektrische Feld
Äquipotentialflächen hat, die in einem zum Sollkreis senkrechten Schnitt zumindest
annähernd ellipsenabschnittförmig sind. In einem elektrischen Feld dieser Art, das
sich zweckmäßigerweise über einen Azimuthwinkel von etwa 23° erstreckt, ist der Fokus
der Teilchenbahnen im Ausgangsbereich weitestgehend unabhängig vom Einschußwinkel
und von der Teilchenenergie. Die Fähigkeit eines Feldes dieser Art, Teilchen mit unterschiedlichen
Energien voneinander zu trennen (Dispersion), ist deshalb wesentlich besser als bei
allen vorbekannten Analysatortypen. Dadurch wird es möglich, wesentlich höhere Passenergien
zuzulassen. Dieses hat zur Folge, daß dem Analysator vorgelagerte Linsensysteme die
auf ihre Energie zu untersuchenden Teilchen entweder nicht mehr oder nur noch mit
wesentlich kleinerem Bremsfaktor, als es bisher notwendig war, abbremsen müssen. Die
quadratisch vom Bremsfaktor abhängige Transmission kann dadurch erheblich gesteigert
werden.
[0011] Es gibt die verschiedensten Möglichkeiten, elektrische Felder der erfindungsgemäßen
Art zu erzeugen. Zweckmäßigerweise haben die Elektroden selbst die Form der jeweils
gewünschten Äquipotentialflächen.
[0012] Wenn z. B. die Elektroden die Form von zueinander korrespondierenden Abschnitten
einer Ellipsen-Torus-Schar haben, dann haben die von Elektroden dieser Art erzeugten
Äquipotentialflächen ebenfalls die Form von Ellipsen-Torus-Abschnitten. Die verschiedensten
Ellipsen-Torus-Scharen sind dabei denkbar. Die erzeugenden Ellipsen können z. B. einen
gemeinsamen Brennpunkt, gleiche Exzentrizität und/oder gleichen Brennpunktabstand
haben. Wesentlich ist nur, daß sich die einzelnen Ellipsen nicht schneiden.
[0013] Eine weitere Möglichkeit besteht darin, den Elektroden die Form von zueinander korrespondierenden
Abschnitten einer Sphäroidschar mit gemeinsamen Brennpunkten zu geben. In diesem Fall
sind die von den Elektroden dieser Form erzeugten Äquipotentialflächen sphäroidabschnittförmig.
In allen Beispielsfällen entstehen Äquipotentialflächen der erfindungsgemäßen Art,
also mit im zur Ebene des Sollkreises senkrechten Schnitt ellipsenabschnittförmiger
Gestalt.
[0014] Bei einer besonders vorteilhaften Ausführungsform sollten die Elektroden ein Feld
erzeugen, deren Äquipotentialflächen durch die folgende Gleichung gegeben sind:

[0015] Darin bedeuten:

Ein diese Bedingung erfüllendes elektrisches Feld weicht geringfügig von der exakten
Sphäroidform in Richtung Ellipsentoroidform ab. Ein exaktes Sphäroid entsteht z. B.
dadurch, daß eine Ellipse um ihre kürzere Achse rotiert. Der in eckigen Klammern befindliche
Term bedeutet, daß die Rotationsachse gegenüber der Ellipsenachse um einen geringen
Betrag (etwa 1 bis 3 %) parallel verschoben ist. Läßt man um diese Rotationsachse
den größeren Teil der Ellipse rotieren, dann entstehen Flächen der gewünschten und
die erwähnte Gleichung erfüllenden Form.
[0016] Aufgrund der guten Fokussierungseigenschaften des erfindungsgemäßen Analysators können
relativ große Einschußraumwinkel zugelassen werden. Dieses setzt einen relativ großen
Abstand der Elektroden voraus, damit die Flugbahnen von stärker vom Sollkreis abweichenden
Teilchen nicht durch die Elektroden gestört werden. Um Randfeldstörungen aufgrund
des relativ großen Abstandes der Elektroden zu vermeiden, ist es zweckmäßig, eine
Eingangs- und eine Ausgangsblende vorzusehen, die jeweils einen im Bereich des Sollkreises
liegenden, sich parallel zu den Äquipotentialflächen erstreckenden Schlitz aufweisen.
Haben diese Blenden das Potential der den Sollkreis durchsetzenden Äquipotentialfläche,
dann sind Randfeldstörungen stark reduziert.
[0017] Zusätzlich können zur weiteren Reduzierung von Feldstörungen zumindest im Einlaßbereich
weitere Korrekturelektroden vorgesehen sein, die sich parallel zum Sollkreis über
eine kurze Strecke in den Analysator hinein erstrecken und in ihrer Form mit Äquipotentialflächen
übereinstimmen. Auch ihr Potential ist diesen Potentialflächen angepaßt.
[0018] Weitere Vorteile und Einzelheiten der Erfindung sollen anhand der Figuren 1 bis 5
erläutert werden. Es zeigen:
- Fig. 1 und 2
- Ellipsenscharen, die Grundlage für die Formgebung der Elektroden sein können;
- Fig. 3
- einen Schnitt durch einen Analysator nach der Erfindung in der Ebene des Sollkreises
- Fig. 4
- Ansichten des Eintritts- und Austrittsbereiches und
- Fig. 5
- einen Fig. 3 entsprechenden Teilschnitt durch den Ausgangsbereich eines Analysators.
[0019] Fig. 1 zeigt eine Ellipsenschar 1 mit gemeinsamen Brennpunkten F₁ und F₂. Die Kurvenscharen
sind charakterisiert durch die Gleichungen:

Darin bedeuten:

Der Zusammenhang zwischen diesen Koordinaten ist:

Für den Fall x = const ergeben sich die ausgezogen dargestellten elliptischen Kurven.
Für den Fall ζ = const ergeben sich die gestrichelt dargestellten hyperbolischen Kurven.
[0020] Ein erfindungsgemäß gestalteter Analysator entsteht, wenn man den zwei Elektroden
in einem zum Sollkreis senkrechten Schnitt die Form von zwei zueinander korrespondierenden
Ellipsenabschnitten gibt, die sich im Bereich der Hauptachse und symmetrisch dazu
erstrecken, und diese um die x₃-Achse rotieren läßt. Zwei solche Ellipsenabschnitte
sind im linken Teil der Fig. 1 durch verstärkte Linien angedeutet und mit 2 und 3
bezeichnet. Zwischen den Elektroden 2 und 3 (mittig) liegt der Sollkreis des Analysators,
der dem eingezeichneten Punkt x
o entspricht. Wenn der Sollkreisradius ρ
o = 1 ist, gilt für x
o:

wobei c die Exzentrizität derjenigen Ellipse ist, die dem Sollkreis entspricht. Die
von Elektroden dieser Art erzeugten Äquipotentialflächen haben dann ebenfalls in einem
zum Sollkreis senkrechten Schnitt ellipsenabschnittförmige Gestalt. Die Richtung des
elektrischen Feldes ist gegeben durch die jeweils gestrichelt dargestellten hyperbolischen
Kurvenabschnitte.
[0021] Läßt man die Ellipsenabschnitte 2 und 3 nach Fig. 1 um die x₃-Achse rotieren, dann
entstehen Elektroden, die exakt die Form von Sphäroid-Flächenabschnitten haben. Um
jedoch Äquipotentialflächen zu erzeugen, die die in Anspruch 6 angegebene Gleichung
erfüllen, dann ist es erforderlich, die Rotationsachse etwas zu verschieben, und zwar
derart, daß der Abstand zwischen der Rotationsachse und den Ellipsenabschnitten 2
und 3 etwas größer wird (um ca. 1 bis 3 %). Diese Rotationsachse ist gestrichelt dargestellt
und mit 4 bezeichnet. Mit einem Analysator dieser Art läßt sich bei einer Teilchenenergie
von 1 keV eine Auflösung von wenigen Zehntel Volt erzielen, und zwar bei einer Passenergie
von 100 eV. Gegenüber dem Kugelkondensator stellt das eine Intensitätsverbesserung
um den Faktor 5 dar.
[0022] Fig. 2 zeigt im linken Bereich die Ellipsenschar 1 nach Fig. 1. Diese Schar ist dadurch
gekennzeichnet, daß alle Ellipsen identische Brennpunkte F₁ und F₂ besitzen. Vergleichbare
Ellipsenscharen, die ebenfalls für die Formgebung der Elektroden des erfindungsgemäßen
Analysators herangezogen werden können, sind z. B. durch gleiche Exzentrizität gekennzeichnet.
Der Abstand der Brennpunkte bei einer derartigen Ellipsenschar würde mit steigenden
Radien zunehmen.
[0023] Der rechte Teil der Fig. 2 zeigt eine Ellipsenschar 5, die dadurch gekennzeichnet
ist, daß bei allen Ellipsen der Brennpunktabstand gleich ist, der Ort der Brennpunkte
aber mit steigenden Radien nach rechts verschoben wird. Eine ähnliche Ellipsenschar
entsteht, wenn alle Ellipsen einen Brennpunkt gemeinsam besitzen, gleiche Exzentrizität
haben und der zweite Brennpunkt mit steigenden Radien nach außen wandert. Alle diese
Ellipsenscharen können für die Formgebung der Elektroden des erfindungsgemäßen Analysators
herangezogen werden. In der Ellipsenschar 5 sind zwei einander korrespondierende Ellipsenabschnitte
verstärkt dargestellt und mit 6 und 7 bezeichnet. Läßt man diese in der zur Fig. 1
beschriebenen Weise um die x₃-Achse oder eine andere dazu parallele Achse rotieren,
dann entstehen Flächen, die die gewünschte Elektrodenform bilden können.
[0024] Fig. 3 zeigt ein Ausführungsbeispiel für einen Analysator nach der Erfindung, und
zwar in der Ebene des Sollkreises 10 geschnitten. Der Analysator umfaßt die Hauptelektroden
8 und 9, die zwischen sich den Sollkreis 10 mit dem Radius x
oeinschließen. Die Innenflächen der Elektroden 8 und 9 haben in einem zur Sollkreisebene
senkrechten Schnitt die Form von Ellipsenabschnitten. Die Elektroden 8 und 9 und damit
das von ihnen erzeugte elektrische Feld erstreckt sich über einen Azimuthwinkel φ
von 230°.
[0025] Im Eingangsbereich des dargestellten Analysators ist eine Blende 11 mit einem im
Bereich des Sollkreises 10 vorgesehenen Eingangsschlitz 12 angeordnet.
[0026] Diese Platte hat zweckmäßigerweise das Potential der den Sollkreis durchsetzenden
Äquipotentialfläche. Der Eingangsschlitz 12 erstreckt sich parallel zu dieser Äquipotentialfläche
und hat deshalb ebenfalls ellipsenförmige Gestalt (vgl. Fig. 4).
[0027] Im Bereich des Ausganges des Analysators ist eine entsprechende Blende 13 mit dem
Austrittsschlitz 14 angeordnet. Unmittelbar dahinter befindet sich der Auffänger 15
des, nachgeordneten, im einzelnen nicht dargestellten Detektors für die austretenden
geladenen Teilchen.
[0028] Dem Eintrittsschlitz 12 vorgelagert ist ein Linsensystem 17, das aus vier Elektroden
18 bis 21 besteht. Der Eintrittsöffnung 22 des Linensystems 17 vorgelagert ist die
zu untersuchende Probe 23. Von der Probe 23 ausgehende Teilchen werden mit Hilfe des
Linsensystems auf den Eintrittsschlitz 12 fokussiert und auf die gewünschte Passenergie
gebracht. Teilchen, deren Energie dem eingestellten Analysator-Potential entspricht,
durchsetzen den Analysator und werden auf dem Austrittsschlitz 14 abgebildet. Zwei
Teilchenbahnen 24 und 25 sind beispielsweise dargestellt.
[0029] Fig. 3 zeigt weiterhin sowohl im Einlaß als auch im Auslaßbereich des dargestellten
Analysators angeordnete Korrekturelektroden 26, 27 bzw. 28, 29. Diese Elektroden entsprechen
sowohl in ihrer Form als auch in ihrem Potential den Äquipotentialflächen an dem jeweiligen
Ort. Sie stellen praktisch einen Ersatz der zugehörigen Äquipotentialflächen dar und
bewirken damit eine weitere Beseitigung von Feldstörungen im Ein- und Auslaßbereich
des Analysators. Ihr Abstand zum Eintrittsschlitz 12 bzw. Austrittsschlitz 14 soll
einerseits möglichst nah sein, andererseits soll aber die Transmission nicht beeinträchtigt
sein. Zweckmäßigerweise beträgt ihr jeweiliger Abstand vom Sollkreis 10 etwa die Hälfte
des Abstandes Sollkreis - Hauptelektrode, wobei sie sich um jeweils 10° in den Analysator
hinein erstrecken.
[0030] Fig. 4 zeigt Ansichten des Eintrittsbereichs und des Austrittsbereichs des in Fig.
3 dargestellten Analysators. Die diesen Bereichen jeweils vorgelagerten Herzog-Platten
11 und 13 sind gestrichelt dargestellt. Die Form des Eintritts- bzw. Austrittsschlitzes
12, 14 ist ersichtlich. Ihre langen Seiten erstrecken sich parallel zu den Äquipotentialflächen.
Ihre kurzen Seiten stimmen mit der Richtung des elektrischen Feldes überein.
[0031] Die beiden Elektroden 8 und 9 sind jeweils aus vollem Material hergestellt. Ein einfacheres
Verfahren der Herstellung der Elektroden besteht darin, daß in vorgedrückte und spannungsfrei
geglühte Teile die gewünschte Elektrodenform eingedreht wird.
[0032] Fig. 5 zeigt nochmals den Ausgangsbereich des Analysators gemäß Fig. 3. An Stelle
der Herzog-Platte 13 und des Auffängers 15 ist dem Analysator ein Vielkanaldetektor
31 nachgeordnet. Dadurch besteht die Möglichkeit, gleichzeitig größere Energiebereiche
verarbeiten zu können.
[0033] Im folgenden ist noch eine Tabelle wiedergegeben, die zweckmäßige Werte für ein Ausführungsbeispiel
enthält.

[0034] Darin bedeuten x die Polarkoordinate, c die Exzentrizität der den Sollkreis x
o durchsetzenden Äquipotentialfläche, V das Potential der jeweiligen Elektrode in Einheiten
der Passenergie E
o.
[0035] Gibt man zur Verwirklichung eines Analysators der erfindungsgemäßen Art den Sollbahnradius
x
o mit z. B. 100 mm, 150 mm oder Zwischenwerten vor, dann lassen sich die übrigen Daten
aus der Tabelle berechnen.
[0036] Die Innenwandungen der Elektroden 8, 9 sind zweckmäßigerweise in einem sich über
30° bis 60° erstreckenden mittleren Bereich zur Vermeidung von störenden Reflektionen
aufgerauht. Vorzugsweise sind sägezahnartige, sich senkrecht zur Sollkreisebene erstreckende
Riefen vorgesehen. Aus Rev.Sci.Instrum.,Vol.46,No.10, October 1975, sind solche Maßnahmen
an sich bekannt.
1. Analysator für geladene Teilchen mit zwei der Erzeugung eines axialsymmetrischen elektrischen
Feldes dienenden Elektroden, die sich gemeinsam mit den Bahnen der zu analysierenden
Teilchen entlang eines zwischen den Elektroden befindlichen Sollkreises erstrecken,
dadurch gekennzeichnet, daß die Elektroden (8, 9) eine solche Form haben, daß das von ihnen erzeugte axialsymmetrische
elektrische Feld Äquipotentialflächen hat, die in einem zur Ebene des Sollkreises
(10) senkrechten Schnitt zumindest annähernd ellipsenabschnittförmig sind.
2. Analysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,daß das erzeugte elektrische Feld ellipsen-torus-förmige Äquipontentialflächen hat.
3. Analysator nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,daß die Elektroden (8, 9) selbst ellipsen-torus-förmige Gestalt haben.
4. Analysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,daß die Äquipotentialflächen des elektrischen Feldes sphäroidförmig gestaltet sind.
5. Analysator nach Anspruch 1 oder 4, dadurch gekennzeichnet,daß die Elektroden (8, 9) selbst sphäroidförmig gestaltet sind.
6. Analysator nach Anspruch 1, 4 oder 5,
dadurch gekennzeichnet,daß die Elektroden (8, 9) ein Feld erzeugen, das durch die folgende Gleichung gegeben
ist:

7. Analysator nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß er sich über einen Azimuthwinkel φ von etwa 230° erstreckt.
8. Analysator nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eingangsseitig und vorzugsweise auch ausgangsseitig Schlitzblenden (11, 13) mit
zentral angeordneten Schlitzen (12, 14) vorgesehen sind, daß sich die Schlitze(12,14)
parallel zu den Äquipotentialflächen erstrecken und daß das Potential der Blenden
(11, 13) dem Potential der den Sollkreis durchsetzenden Äquipotentialfläche entspricht.
9. Analysator nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eingangsseitig und vorzugsweise auch ausgangsseitig Korrekturelektroden (26,
27 bzw. 28, 29) vorgesehen sind, die in ihrer Form und in ihrem Potential den Äquipotentialflächen
an ihrem Ort entsprechen.
10. Analysator nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektroden (8, 9) vorzugsweise in einem sich über 30 bis 60° erstreckenden
mittleren Bereich aufgerauht oder mit sägezahnförmigen, sich etwa senkrecht zur Ebene
des Sollkreises erstreckenden Riefen ausgerüstet sind.
1. Analyser for charged particles with two electrodes serving to generate an axially
symmetrical electric field and which extend, together with the paths of the particles
to be analysed, along a reference circle between the electrodes, characterized in
that the electrodes (8, 9) have a shape such that the axially symmetrical electric
field generated by them has equipotential surfaces which have at least approximately
the form of an ellipse section in a cross-section perpendicular to the plane of the
reference circle (10).
2. Analyser according to claim 1, characterized in that the electric field generated
has equipotential surfaces of an elliptical torus shape.
3. Analyser according to claim 2, characterized in that the electrodes (8, 9) themselves
have an elliptical torus shape.
4. Analyser according to claim 1, characterized in that the equipotential surfaces of
the electric field are spheroidal in shape.
5. Analyser according to claim 1 or 4, characterized in that the electrodes (8, 9) themselves
are spheroidal in shape.
7. Analyser according to one of the above claims, characterized in that it stretches
over an azimuth angle of approximately 230 degrees.
8. Analyser according to one of the above claims, characterized in that on the input
and preferably also the output side there are slot apertures (11, 13) with central
slots (12, 14), that the slots (12, 14) run parallel to the equipotential surfaces
and that the potential of the apertures (12, 13) corresponds to the potential of the
equipotential surface passing through the reference circle.
9. Analyser according to one of the above claims, characterized in that on the input
side and preferably also on the output side there are correction electrodes (26, 27
or 28, 29 respectively) which in their form and potential correspond to the equipotential
surfaces at their location.
10. Analyser according to one of the above claims, characterized in that the electrodes
(8, 9) are preferably roughened in a central area extending over 30 to 60 degrees
or are provided with sawtooth shaped grooves which run approximately perpendicular
to the plane of the reference circle.
1. Analyseur pour particules chargées avec deux électrodes servant à la production d'un
champ électrique axisymétrique, qui s'étendent en commun avec les trajectoires des
particules à analyser le long d'un cercle théorique se trouvant entre les électrodes,
caractérisé en ce que les électrodes (8, 9) ont une forme telle que le champ électrique
axisymétrique produit par celles-ci a des surfaces équipotentielles qui sont au moins
approximativement en forme de section d'ellipse dans une coupe perpendiculaire au
plan du cercle théorique (10).
2. Analyseur selon la revendication 1, caractérisé en ce que le champ électrique produit
a des surfaces équipotentielles en forme de tore d'ellipse.
3. Analyseur selon la revendication 2, caractérisé en ce que les électrodes (8, 9) ont
elles-mêmes une configuration en forme de tore d'ellipse.
4. Analyseur selon la revendication 1, caractérisé en ce que les surfaces équipotentielles
du champ électrique sont configurées en forme de sphéroïde.
5. Analyseur selon la revendication 1 ou 4, caractérisé en ce que les électrodes (8,
9) sont elles-mêmes configurées en forme de sphéroïde.
7. Analyseur selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il s'étend
au-dessus d'un angle azimutal φ de 230° environ.
8. Analyseur selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que du côté
de l'entrée et de préférence aussi du côté de la sortie, des diaphragmes à fentes
(11, 13) avec des fentes disposées centralement (12, 14) sont prévus, les fentes (12,
14) s'étendent parallèlement aux surfaces équipotentielles et le potentiel des diaphragmes
(11, 13) correspond au potentiel de la surface équipotentielle traversant le cercle
théorique.
9. Analyseur selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que du côté
de l'entrée et de préférence aussi du côté de la sortie, des électrodes de correction
(25, 27 et 28, 29) sont prévues, qui dans leur forme et dans leur potentiel correspondent
aux surfaces équipotentielles à leur endroit.
10. Analyseur selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que les électrodes
(8, 9) sont de préférence rendues rugueuses dans une zone médiane s'étendant sur 30
à 60° ou équipées de rainures en forme de dents de scies, s'étendant sensiblement
perpendiculairement au plan du cercle théorique.