(19)
(11) EP 0 245 829 A3

(12) EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG

(88) Veröffentlichungstag A3:
07.03.1990  Patentblatt  1990/10

(43) Veröffentlichungstag A2:
19.11.1987  Patentblatt  1987/47

(21) Anmeldenummer: 87106829.2

(22) Anmeldetag:  12.05.1987
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)4: B23Q 1/00, G01R 1/04
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH DE FR GB IT LI LU NL SE

(30) Priorität: 12.05.1986 DE 3615941

(71) Anmelder: Willberg, Hans-Heinrich
D-83075 Bad Feilnbach (DE)

(72) Erfinder:
  • Willberg, Hans-Heinrich
    D-83075 Bad Feilnbach (DE)

(74) Vertreter: Schmidt-Evers, Jürgen, Dipl.-Ing. et al
Patentanwälte Mitscherlich & Partner, Postfach 33 06 09
80066 München
80066 München (DE)


(56) Entgegenhaltungen: : 
   
       


    (54) Gerät zum Prüfen von elektronischen Bauelementen, insbesondere IC's


    (57) Bei einem Gerät (4) zum Prüfen von elektronischen Bauele­menten, an dem eine Testvorrichtung (3) montierbar ist, wobei zur elektrischen Verbindung der vorhandenen elektrischen Leiter ein Verbindungsstecker und zur mechanischen Verbindung Kupplungen (64) mit jeweils einem starren und einem beweglichen Kupplungsglied (66, 67) vorgesehen sind, und wobei die Kupplungen (64) die Testvorrichtung (3) nach dem Prinzip der schiefen Ebene am Gerät (4) in einer zentrierten Position festle­gen, soll eine stabile Ankopplung der Testvorrichtung (3) am Gerät (4) möglich sein. Dies wird dadurch erreicht, daß wenigstens drei auf der zugehörigen Befestigungs­seite (63) sternförmig verteilte Kupplungen (64) angeord­net sind.







    Recherchenbericht