(19)
(11) EP 0 246 672 A3

(12) EUROPEAN PATENT APPLICATION

(88) Date of publication A3:
20.01.1988 Bulletin 1988/03

(43) Date of publication A2:
25.11.1987 Bulletin 1987/48

(21) Application number: 87110137

(22) Date of filing: 31.10.1984
(84) Designated Contracting States:
AT BE CH DE FR GB IT LI LU NL SE

(30) Priority: 07.11.1983 DE 3340183

(71) Applicant: Ueberreiter, Ekkehard
 ()

(72) Inventor:
  • Ueberreiter, Ekkehard
     ()

   


(54) Device for testing and sorting electronic components


(57) Bei einer Vorrichtung zum Weiterleiten von in einem Eingangsmagazin enthaltenen Bauteilen, insbesondere von integrierten Chips, zu einem Ausgangsmagazin (3) hin, welches mit dem Eingangsmagazin über eine Prüf­einrichtung verbunden ist, sind einzelnen Bauteile-­Aufnahmen (34) des Ausgangsmagazins (3) Speicher- und Anzeigeeinrichtungen (52) zugehörige, die jeweils eine einer Bauteile-Prüf- bzw. Meßklasse entsprechende Information speichern und anzeigen. Die Bauteile wer­den den Aufnahmen (34) des Ausgangsmagazins (3) unter Heranziehung der in den einzelnen Speicher- und An­zeigeeinrichtungen (52) gespeicherten Angaben so zugeführt, daß ein durch die Prüfeinrichtung als einer bestimmten Bauteile-Prüf- bzw. Meßklasse zuge­höriges Bauteil in die dieser Klasse zugehörige Auf­nahme (34) oder bei Fehlen einer solchen Aufnahme in eine noch freie Aufnahme (34) hinein gelangt, die dann als der betreffenden Prüf- bzw. Meßklasse zuge­hörig markiert wird.







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