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(11) | EP 0 270 968 A3 |
(12) | EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG |
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(54) | Röntgen-Mikroskop |
(57) Bei einem Röntgenmikroskop wird das Objekt (3) uber einen Kondensor (2) mit quasi
monochromatischer Röntgenstrahlung (1) kohärent oder teilkohärent beleuchtet und mittels
eines hochauflösenden Röntgenobjektivs (5) vergrößert in die Bildebene (6) abgebildet.
Um einen möglichst hohen Bildkontrast zu erreichen ist in der Fourierebene (7) des
Röntgenobjektivs ein Element (8) angeordnet, das einer vorgewählten Beugungsordnung
der Strahlung eine Phasenverschiebung erteilt. Das Element erstreckt sich über den
Flächenbereich in der Fourierebene, der hier von der zu beeinflußenden abgebeugten
Strahlung beaufschlagt wird. Die Ausnutzung der Phasenverschiebung einer vorgewählten Beugungsordnung der Strahlung gegenüber der unbeeinflußten Strahlung ermöglicht es, Untersuchungen, insbesondere biologischer Strukturen mit geringer Strahlendosis durchzuführen und dennoch einen hohen Bildkontrast zu erzeugen. Außerdem wird es möglich den zu verwendeten Wellenlängenbereich der Röntgenstrahlung zu kürzeren Wellenlängen hin zu verschieben, bei denen infolge der geringen Absorption bisher Röntgenmikroskopie nicht sinnvoll möglich war. |