(19)
(11) EP 0 276 731 A3

(12) EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG

(88) Veröffentlichungstag A3:
24.01.1990  Patentblatt  1990/04

(43) Veröffentlichungstag A2:
03.08.1988  Patentblatt  1988/31

(21) Anmeldenummer: 88100724.9

(22) Anmeldetag:  20.01.1988
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)4H01J 49/06, H01J 49/44
(84) Benannte Vertragsstaaten:
CH DE FR GB IT LI

(30) Priorität: 30.01.1987 DE 3702696

(71) Anmelder: FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH GMBH
52425 Jülich (DE)

(72) Erfinder:
  • Ibach, Harald
    D-5100 Aachen (DE)
  • Bruchmann, Heinz-Dieter
    D-5173 Aldenhoven (DE)
  • Lehwald, Sieghart
    D-5170 Jülich (DE)


(56) Entgegenhaltungen: : 
   
       


    (54) Verfahren zur Elektronenstrahl-Führung mit Energieselektion und Elektronenspektrometer


    (57) Hohe Energieauflösung bei hohem Elektronenstrom an der Probe bzw. am Detektor erhält man durch eine Elektronenstrahl-Führung mit fokussierender Energieselek­tion, insbesondere in einem Elektronenspektrometer mit Emissionssystem und zumindest einem energiedis­persiven System mit unterschiedlicher Fokussierung in zwei zueinander senkrechten Richtungen, durch ein dem energiedispersiven System nach- bzw. vorge­schaltetes nicht zirkular symmetrisches Linsensystem (4-10), das die unterschiedliche Fokussierung der Elektronen in den beiden zueinander senkrechten Richtungen derart korrigiert, daß entweder die virtuelle oder reelle Eingangsblende des energiedispersiven Systems auf einer vorgegebenen Bildebene außerhalb des energiedisper­siven Systems oder ein Gegenstand außerhalb des energie­dispersiven Systems auf der virtuellen oder reellen Ausgangsblende desselben abgebildet wird.







    Recherchenbericht