Verfahren und Einrichtung zur kontrollierten Auftragung von Klebepunkten

(19)

(11)

EP 0 314 012 A3

(12)	EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG

(88)	Veröffentlichungstag A3:
	20.12.1989 Patentblatt 1989/51

(43)	Veröffentlichungstag A2:
	03.05.1989 Patentblatt 1989/18

(21)	Anmeldenummer: 88117573.1

(22)	Anmeldetag: 21.10.1988

(51)	Internationale Patentklassifikation (IPC)⁴: B05D 1/26, B05C 11/10

(84)	Benannte Vertragsstaaten:
	CH DE FR GB IT LI

(30)

Priorität:

29.10.1987 DE 3736725

(71)	Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
	80333 München (DE)

(72)	Erfinder:
	Martin, Bernhard, Dipl.-Ing. D-8031 Wessling (DE) Rampp, Franz D-8282 Huglfing (DE) Strigl, Erwin D-8000 München 80 (DE)

(56)

Entgegenhaltungen: :

(54)	Verfahren und Einrichtung zur kontrollierten Auftragung von Klebepunkten

(57) Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum kontrollierten Auftragen von Klebstoffpunkten auf einen Gegenstand (11)- aus einer Dosiereinrichtung (1). Dabei wird in einer ersten Position der Dosiereinrichtung (1) ein Lichtstrahl (12) einer Lichtquelle einer mit der Dosiereinrichtung (1) bewegbaren optischen Einrichtung (5) schräg zur Abgaberichtung des Klebstoffes auf die Oberfläche des Gegenstandes (11) derart gerichtet, daß sich der Lichtstrahl (12) und die Klebstoff-Abgabeeinrichtung in der Oberfläche des Gegenstandes (11) treffen. In der ersten Position wird die Intensität des von der Oberfläche des Gegenstandes (11) zurückgestrahlten Lichtstrahles (12′) von einer Detektoreinrichtung der optischen Einrichtung (5) vor und nach dem Setzen eines Klebstoffpunktes in der ersten Position in der Form eines ersten Intensitätwertes (A₁₅) und eines zweiten Intensitätwertes (A_15˝) erfaßt. Der erfaßte erste Intensitätswert(A₁₅) und der erfaßte zweite Intensitätswert (A_15˝) werden miteinander verglichen. Bei einer Abweichung (15‴) wird gefolgert, daß ein Klebstoffpunkt (18) gesetzt wurde und bei einer Übereinstimmung wird gefolgert, daß kein Klebstoffpunkt (18) gesetzt wurde.

Recherchenbericht