[0001] L'invention concerne un tube intensificateur d'images à rayons X comprenant une fenêtre
d'entrée munie d'un substrat d'aluminium qui supporte un scintillateur qui transforme,
en un rayonnement lumineux visible ou proche du visible, le rayonnement X qui atteint
le scintillateur à travers le substrat, le rayonnement lumineux étant converti par
une photocathode en un flux d'électrons qui, à l'aide de moyens d'optique électronique,
fournit une image visible sur un écran de sortie.
[0002] Une invention de ce genre est décrite dans le document FR 2 515 423. Il décrit un
écran d'entrée adapté pour être utilisé dans un tube amplificateur de brillance avec
un pouvoir de résolution accru. Pour cela les cristaux colomnaires d'iodure de césium
qui constituent le scintillateur sont issus de particules d'impuretés de surface du
substrat d'aluminium. Un effet secondaire de ces impuretés de surface est de favoriser
l'absorption de la lumière émise en direction du substrat. L'action de guidage de
la lumière obtenue par les cristaux colomnaires étant imparfaite, ce mécanisme d'absorption
de la lumière par les particules d'impuretés améliore le contraste de l'image restituée.
Ces particules d'impuretés doivent constituer des germes pour la croissance des cristaux
colomnaires. Elles forment donc des ilots disséminés en surface du substrat d'aluminium
rendus apparents par un traitement chimique approprié. La lumière émise par le scintillateur
en direction du substrat n'est donc qu'accessoirement absorbée par ces particules
d'impuretés dont la présence et la nature sont aléatoires.
[0003] Le problème posé est donc de disposer d'un tube muni d'une fenêtre d'entrée ayant
une haute résolution pour la totalité de la surface de l'image restituée. Les performances
du tube doivent être reproductibles et fiables.
[0004] La solution à ce problème technique est qu'entre le substrat d'aluminium et le scintillateur
est interposée une couche absorbant le rayonnement lumineux émis par le scintillateur
en direction du substrat d'aluminium, la couche absorbante étant constituée d'un
matériau choisi parmi les matériaux suivants : nitrure de titane, sulfure de cadmium,
(Cu,PbI₂).
[0005] Mais compte tenu de l'indice de réfraction élevé du matériau de photocathode un autre
mécanisme contribue à affaiblir la résolution. Il est dû aux rayons lumineux issus
du scintillateur qui sont très écartés de la normale à la surface de la photocathode
et qui peuvent pénétrer dans celle-ci. Pour éliminer ces rayons lumineux très écartés
de la normale, l'invention place entre le scintillateur et la photocatode, une couche
à bas indice ayant un indice de réfraction inférieur à celui de la photocathode.
Le matériau de cette couche peut être choisi parmi les matériaux suivants : MgF₂,
cryolithe (Na₃AlF₆).
[0006] Le scintillateur est choisi parmi les matériaux suivants : CsI(Na), NaI(Tl), CsI(Tl),
CdWO₄, Bi₄Ge₃O₁₂, CaWO₄.
[0007] Le rayonnement qui est dirigé vers le substrat étant absorbé, il peut en résulter
une baisse de luminosité du tube avec une photocathode habituelle en Cs₃Sb.
[0008] Un problème secondaire est de disposer d'une luminosité élevée tout en conservant
la résolution du tube.
[0009] La solution à ce problème secondaire est de choisir la photocathode parmi les matériaux
suivants : K₂CsSb, Rb₂CsSb, (SbNa₂K,Cs), ce dernier matériau pouvant être de type
S20 ou S25 selon sa réponse spectrale. Ces appellations sont connues de l'homme du
métier. Tous ces matériaux confèrent au tube une grande durée de vie.
[0010] On obtient ainsi un tube disposant d'une résolution accrue et d'une grande luminosité.
[0011] Pour donner au tube toutes ses qualités de durée de vie, il est souhaitable de disposer,
entre le scintillateur et la photocathode, une barrière chimique constituée d'une
couche choisie parmi les matériaux suivants : Al₂O₃, Si₃N₄, SiO₂. Cette barrière chimique
évite au sodium contenu dans le scintillateur de migrer vers la photocathode.
[0012] Il est également possible d'améliorer la collection des charges en disposant une
couche conductrice électriquement et transparente optiquement entre la photocathode
et la barrière chimique. Cette couche est choisie parmi les matériaux suivants :
palladium, aluminium, In₂O₃, SnO₂, ITO (mélange de In₂O₃ à 90% et de SnO₂ à 10%).
[0013] L'invention sera mieux comprise à l'aide des figures suivantes, données à titre d'exemples
non limitatifs, qui représentent :
figure 1A : un tube intensificateur d'images à rayons X selon l'invention.
figure 1B : un schéma d'une fenêtre d'entrée d'un tube d'intensificateur d'images
à rayons X selon l'invention.
figure 2 : une courbe de variations du taux de réflexion d'une couche de TiN déposée
sur un substrat d'aluminium en fonction de l'épaisseur de la couche de TiN.
figure 3 : une courbe analogue à celle de la figure 2 pour une couche de CdS.
figure 4 : un schéma analogue à celui de la figure 1 avec en supplément une couche
à bas indice entre le scintillateur et la photocathode.
figure 5 : un schéma analogue à celui de la figure 1 avec en plus une barrière chimique
et une couche conductrice et transparente placée entre le scintillateur et la photocathode.
figure 6 : trois courbes de variations du rendement photoélectrique pour différentes
structures de fenêtre d'entrée en unités arbitraires.
[0014] Les schémas des figures 1, 4 et 5 ne sont pas représentés à l'échelle afin de mieux
mettre en évidence les mécanismes mis en jeu.
[0015] La figure 1A représente un tube intensificateur d'images à rayons X qui comprend
en entrée une feuille de séparation 23 avec le vide formée d'un matériau adapté,
par exemple le titane. La feuille de séparation est suivie d'une fenêtre d'entrée
21. L'ensemble est monté dans une enveloppe sous vide qui comprend en outre, une surface
cylindrique 43 avec une partie conique 45, un support d'anode terminale 49 et une
fenêtre de sortie 20. Le tube est muni à son entrée d'un anneau de montage 22 auquel
sont connectés la feuille de séparation 23 ainsi qu'un support 24 pour l'écran d'entrée
21. A travers une électrode d'entrée 26 et des électrodes 28, 40, 42 les faisceaux
de photoélectrons 52 issus d'une photocathode 13 forment une image sur une couche
luminescente 46 qui est préférentiellement déposée sur un écran de sortie 20 formé
d'une plaque de fibres optiques. L'image électronique projetée sur l'écran de sortie
génère une image optique dans la couche de matériau luminescent. Cette image optique
est ensuite utilisée de manière habituelle pour être visualisée.
[0016] Sur la figure 1B, la fenêtre d'entrée 21 comprend dans l'ordre un substrat d'aluminium
10, une couche absorbante 11, un scintillateur 12 et une photocathode 13. Les rayons
X incidents arrivent sur la structure à travers le substrat 10 et des électrons e-
sont émis par la photocathode 13. Lorsque les rayons X sont absorbés en un point 50
du scintillateur, un rayonnement visible est émis. Par exemple le rayon 51 pénêtre
la photocathode 13 qui émet des électrons 52. Mais le même point 50 peut émettre des
rayons tel que le rayon 53 en direction du substrat 10. En l'absence de la couche
absorbante 11, le rayon 53 se réfléchit selon le rayon 54 et des électrons 55 sont
émis par la photocathode. Ainsi un même point 50 produit plusieurs émissions d'électrons
52, 55 et il en résulte un défaut de résolution du tube.
[0017] Selon l'invention les rayons 53 qui sont émis en direction du substrat sont absorbés.
Mais l'absorption doit se produire d'une manière continue et homogène sur toute la
surface de la fenêtre d'entrée afin de restituer une image de qualité homogène. L'absorption
doit être la plus élevée possible pour la longueur d'onde de la lumière émise par
le scintillateur. Les scintillateurs peuvent être choisis parmi les matériaux suivants
: CsI(Na), NaI(Tl), CsI(Tl), CdWO₄, Bi₄Ge₃ O₁₂, CaWO₄. Par exemple pour un scintillateur
en CsI(Na), la longueur d'onde de la lumière émise est voisine de 430 nm. La couche
absorbante doit permettre d'absorber ce rayonnement. Selon l'invention le matériau
peut être choisi parmi les matériaux suivants : TiN, CdS, (Cu,PbI₂). Les indices
optiques n* = n-ik, avec n l'indice de réfraction et k l'indice d'extinction, sont
respectivement pour TiN, n=1,65 et k=0,79 et pour CdS, n=2,5 et k=0,2. Ils sont donnés
à titre d'exemple pour une longueur d'onde de 430 nm et varient peu avec la longueur
d'onde.
[0018] La figure 2 représente le taux de réflexion d'une couche de TiN déposée sur un substrat
d'aluminium pour une lumière émise à 430 nm par un scintillateur en CsI(Na). Ce taux
est représenté en fonction de l'épaisseur de la couche absorbante. On constate que
le taux de réflexion devient inférieur à 10% dès que la couche de TiN atteint une
épaisseur d'environ 50 nm.
[0019] Une situation semblable apparaît pour d'autres matériaux tels que CdS ou (Cu,PbI₂).
La figure 3 représente le taux de réflexion d'une couche de CdS déposée sur un substrat
d'aluminium pour une longueur d'onde de 430 nm en fonction de l'épaisseur de la couche.
Pour le sulfure de cadmium on a n=2,5 et k=0,2. Il apparaît donc des oscillations
sur la courbe de la figure 3. Il est donc possible de déterminer des épaisseurs de
couches de CdS pour lesquelles le taux de réflexion est suffisamment peu important.
Ainsi si l'on choisi un taux inférieur à 10% les épaisseurs de CdS peuvent être choisies
dans sensiblement les gammes suivantes : 115 nm à 135 nm, 185 nm à 235 nm, supérieur
à 260 nm pour une émission lumineuse à 430 nm.
[0020] Chaque scintillateur aura un spectre de lumière centré sur une longueur d'onde centrale
qui lui est propre. Ces spectres de lumière sont répartis entre sensiblement 400
nm et sensiblement 600 nm. Les épaisseurs de couches de CdS sont donc à déterminer
à la fois selon une valeur prédéterminée admissible pour le taux de réflexion et
selon la longueur d'onde centrale d'émission du scintillateur utilisé. L'homme du
métier par des mesures préliminaires de taux de réflexion en fonction de l'épaisseur
pour la longueur d'onde et le matériau choisis peut ainsi aisément choisir l'épaisseur
selon le taux de réflexion toléré.
[0021] La figure 4 représente un mode de réalisation de l'invention qui comprend un supplément
une couche 19 à bas indice de réfraction placée entre le scintillateur 12 et la photocathode
13. En effet, si l'on considère un rayon lumineux 60 issu du point 50, en l'absence
de la couche 19 il arriverait au point 63 et pénêtrerait dans la photocathode 13 selon
un rayon lumineux 61 où il produirait des électrons. Mais le point 63 peut être assez
éloigné de la direction radiale issue du point 50 perpendiculaire à la surface courbe
de la photocathode, direction qui est sensiblement la direction axiale des cristaux
colomnaires. Les électrons qui sont issus du rayon 61 vont donc contribuer à diminuer
la résolution de l'image du tube. Cette deuxième cause d'une diminution de la résolution
est corrigée à l'aide d'une couche 19 à bas indice ayant un indice de réfraction inférieur
à celui du scintillateur 12, placée entre le scintillateur 12 et la photocathode
13. Ainsi le rayon 60 frappe la surface de cette couche au point 64 et subit une réflexion
totale selon le rayon 62. Les rayons lumineux éloignés sensiblement de la direction
axiale des cristaux colomnaires sont renvoyés et ne participent pas à la création
d'électrons. Cette couche 19 doit avoir une absorption faible pour ne pas perturber
la luminosité. Le matériau de cette couche peut être choisi parmi les matériaux suivants
: MgF₂, cryolithe (Na₃AlF₆). Dans la gamme de longueurs d'ondes utile qui se situe
entre environ 400 nm et 600 nm, l'indice de réfraction de MgF₂ est compris entre 1,33
et 1,37 environ avec un indice d'extinction pratiquement nul. Les valeurs sont sensiblement
analogues pour la cryolithe.
[0022] Cette absorption et cette réflexion de lumière qui se traduisent par un accroissement
de résolution du tube, sont accompagnées d'une baisse de luminosité du tube. Il peut
être souhaitable d'accroître cette luminosité. Pour cela il est possible d'utiliser
d'autres matériaux de photocathode tels que : K₂CsSb, Rb₂CsSb, (SbNa₂K, Cs). Ils présentent
un meilleur rendement photoélectrique que le matériau Cs₃Sb habituel.
[0023] En normalisant à 1 le rendement photoélectrique de la structure formée d'une photocathode
Cs₃Sb associée à un scintillateur (CsI,Na), on obtient un rendement de 1,60 avec une
photocathode (SbNa₂K,Cs) et un rendement de 2,32 avec une photocathode K₂CsSb. Les
photocathodes formées des matériaux K₂CsSb, Rb₂CsSb, ou (SbNa₂K, Cs) sont donc bien
adaptées pour accroître les performances en luminosité qui sont altérées par les couches
absorbantes de TiN. D'autre part elles permettent de donner à la structure une grande
durée de vie.
[0024] Mais pour donner à une telle structure toutes ses qualités potentielles de grande
durée de vie, il est souhaitable d'interposer une barrière chimique entre le scintillateur
et la photocathode afin d'éviter que l'élément Na migre vers la photocathode lors
de la fabrication du tube. Cette barrière chimique est constituée d'une couche choisie
parmi les matériaux suivants : Al₂O₃, Si₃N₄, SiO₂.
[0025] Le matériau de la photocathode étant généralement peu conducteur, il est possible
d'assurer une répartition homogène du potentiel électrique en disposant une couche
conductrice sur la photocathode du côté du scintillateur. Cette couche conductrice
doit également être transparente pour laisser passer le rayonnement émis par le scintillateur.
Si une barrière chimique existe, la couche conductrice et transparente est disposée
entre la photocathode et la barrière chimique. Les matériaux suivants peuvent être
utilisés : palladium, aluminium, In₂O₃, SnO₂ ou le matériau ITO qui un mélange de
In₂O₃ (90%) et SnO₂ (10%).
[0026] On obtient alors une fenêtre d'entrée représentée sur la figure 5. On y retrouve,
comme sur la figure 1, le substrat d'aluminium 10, la couche absorbante 11, le scintillateur
12 et la photocathode 13 qui est préférentiellement constituée d'un matériau à rendement
photoélectrique élevé. En supplément, en contact avec la photocathode, est disposée
la couche conductrice et transparente 18, précédée de la barrière chimique 17. La
couche à bas indice 19 représentée sur la figure 4 peut être associée à la couche
conductrice et transparente 18 et à la barrière chimique 17 représentées sur la figure
5. Ainsi on peut disposer la couche à bas indice 19 entre le scintillateur 12 et la
barrière chimique 17. On peut aussi la disposer entre la barrière chimique 17 et la
couche conductrice et transparente 18.
[0027] La fenêtre d'entrée réalisée avec une couche absorbante, par exemple en TiN, et
une photocathode à rendement photoélectrique élevé, par exemple en K₂CsSb, va pouvoir
présenter globalement un rendement photoélectrique supérieur à une fenêtre d'entrée
réalisée sans ces matériaux. Ceci est mis en évidence sur la figure 6 qui représente
les variations du rendement photoélectrique Y d'une photocathode en fonction de l'épaisseur
du scintillateur. L'épaisseur de la photocathode est telle que le rendement photoélectrique
est au maximum. La courbe 31 concerne la structure Al/TiN/CsI,Na/Al₂O₃/K₂CsSb. Son
taux de réflexion de lumière émise par le scintillateur et réfléchie par le substrat
est inférieur à 10%. La courbe 32 concerne la structure Al/CsI,Na/Al₂O₃/K₂CsSb. Son
taux de réflexion est de 70% environ. La courbe 31 est en dessous de la courbe 32
car en effet, la lumière absorbée est perdue et ne peut générer d'électrons. La courbe
33 concerne la structure Al/CsI,Na/Cs₃Sb. La courbe 31 est située au-dessus de la
courbe 33. Ceci signifie qu'une fenêtre d'entrée avec une couche absorbante et une
photocathode à rendement photoélectrique élevée peut présenter des performances accrues
par rapport à une structure habituelle. De même on constate qu'une fenêtre d'entrée
correspondant à la courbe 31 peut présenter des performances égales à celles obtenues
avec une fenêtre d'entrée correspondant à la courbe 33, et ceci avec une épaisseur
de scintillateur bien plus faible. Sur la figure 6 on constate que cette épaisseur
peut être réduite de 0,4 à 0,2 mm environ. Cette réduction de l'épaisseur du scintillateur
contribue aussi à l'amélioration de la résolution du tube. Les cristaux qui constituent
le scintillateur présentent généralement sur une certaine épaisseur (une dizaine de
micromètres) des dislocations qui provoque une diffusion de la lumière. La réduction
d'épaisseur proposée conserve une épaisseur de scintillateur suffisante pour que cette
zone disloquée ne pertube que faiblement les mécanismes. Mais cette réduction d'épaisseur
est très intéressante car ces tubes de détection de rayons X nécessitent de faire
croître des cristaux sur des surfaces de fenêtre d'entrée de plusieurs décimètres
carrés. Une telle diminution d'épaisseur entraine une économie importante de matériau
et un rendement de fabrication accru.
1. Tube intensificateur d'images à rayons X comprenant une fenêtre d'entrée munie
d'un substrat d'aluminium qui supporte un scintillateur qui transforme, en un rayonnement
lumineux visible ou proche du visible, le rayonnement X qui atteint le scintillateur
à travers le substrat, le rayonnement lumineux étant converti par une photocathode
en un flux d'électrons qui, à l'aide de moyens d'optique électronique, fournit une
image visible sur un écran de sortie, caractérisé en ce qu'entre le substrat d'aluminium
et le scintillateur est interposée une couche absorbant le rayonnement lumineux émis
par le scintillateur en direction du substrat d'aluminium, la couche absorbante étant
constituée d'un matériau choisi parmi les matériaux suivants : nitrure de titane,
sulfure de cadmium, (Cu,PbI₂).
2. Tube selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'une couche à bas indice ayant
un indice de réfraction inférieur à celui de la photocathode est placée entre le
scintillateur et la photocathode.
3. Tube selon la revendication 2, caractérisé en ce que le matériau de la couche à
bas indice est choisi parmi les matériaux suivants : MgF₂, cryolithe (Na₃AlF₆).
4. Tube selon une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que la couche de nitrure
de titane présente une épaisseur d'au moins 50 nm.
5. Tube selon la revendication 4, caractérisé en ce que l'épaisseur est comprise entre
75 nm et 120 nm.
6. Tube selon une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que la couche de sulfure
de cadmium présente une épaisseur située dans une des gammes suivantes : entre environ
115 nm et 135 nm, entre environ 185 nm et 235 nm, supérieure à environ 260 nm.
7. Tube selon une des revendications 1 à 6, caractérisé en ce que la photocathode
est choisie parmi les matériaux suivants : K₂CsSb, Rb₂CsSb, SbCs₃, (SbNa₂K, Cs).
8. Tube selon une des revendications 1 à 7, caractérisé en ce que le scintillateur
est choisi parmi les matériaux suivants : CsI(Na), NaI(Tl), CsI(Tl), CdWO₄, Bi₄Ge₃O₁₂,
CaWO₄.
9. Tube selon la revendication 8, caractérisé en ce que le scintillateur en CsI(Na)
présente une épaisseur comprise entre 100 et 1000 micromètres environ.
10. Tube selon les revendications 7 et 9, caractérisé en ce qu'une barrière chimique
est disposée entre le scintillateur et la photocathode, la barrière chimique étant
choisie parmi les matériaux suivants : Al₂O₃, Si₃N₄, SiO₂.
11. Tube selon la revendication 10, caractérisé en ce qu'une couche conductrice électriquement
et transparente optiquement est déposée entre la photocathode et la barrière chimique,
cette couche étant choisie parmi les matériaux suivants : palladium, aluminium, In₂O₃,
SnO₂, mélange de In₂O₃ (90%) et de SnO₂ (10%).