[0001] La présente invention a pour objet un procédé de contrôle par courants de Foucault
impulsionnels et un dispositif de mise en oeuvre. Le domaine d'application de l'invention
est celui du contrôle non destructif de pièces métalliques, notamment de pièces épaisses
et/ou ferromagnétiques.
[0002] Les dispositifs de contrôle par courants de Foucault utilisent le plus souvent des
signaux d'excitation sinusoïdaux ayant une fréquence déterminée. On peut trouver une
description de cette technique notamment dans le brevet des Etats-Unis d'Amérique
US-A-3,229,198 délivré le 11 janvier 1966 à H.L. LIBBY et intitulé "Eddy current non
destructive testing device for measuring multiple parameter variable of a metal sample".
[0003] Dans certains dispositifs perfectionnés, on utilise plusieurs signaux sinusoïdaux
à des fréquences différentes, comme décrit dans le brevet français FR-A-2 324 003
intitulé "Procédé de contrôle non destructif par courants de Foucault et dispositif
correspondant, utilisant une excitation multifréquence et permettant l'élimination
de certains paramètres".
[0004] Dans une variante des courants multifréquence, on superpose N signaux rectangulaires
de période sous-multiple d'une période T pour obtenir une suite recurrente d'impulsions
rectangulaires de largeur T/N et de période de récurrence T. Cette superposition sert
à exciter la sonde. L'analyse du signal récurrent de mesure s'effectue, comme dans
les appareils multifréquence, en réutilisant les N signaux rectangulaires pour détecter
les composantes de période sous-multiple de la période de récurrence.
[0005] L'utilisation de signaux rectangulaires au lieu de signaux sinusoïdaux facilite le
traitement numérique du signal. Il est alors possible d'effectuer des combinaisons
d'échantaillons selon diverses transformations linéaires connues sous le nom de transformation
de Walsh. Le résultat de ces transformations complexes est affiché et interprété.
[0006] Cette technique est décrite dans le brevet américain US-A-4 084 136 délivré à LIBBY
et al.
[0007] Cependant, l'utilisation de signaux périodiques n'est pas toujours souhaitable. C'est
le cas notamment lorsque la pièce à contrôler est épaisse et présente un caractère
ferromagnétique. Dans ce cas en effet, la forte perméabilité magnétique conduit à
un effet de peau important qui rend inaccessibles les zones profondes de la pièce.
On préfère alors utiliser des signaux impulsionnels qui procurent une plus grande
puisance instantanée, permettant de saturer le matériau ferromagnétique. La perméabilité
se trouve alors fortement diminuée et la pénétration des courants améliorée.
[0008] Une telle technique est décrite notamment dans le brevet américain US-A-3 229 197.
Elle utilise dans ce cas deux types d'impulsions, l'une courte l'autre longue. Ces
deux types alternent de sorte que la sonde délivre, elle aussi, des impulsions alternativement
longues et courtes. Par différence, on obtient un signal de mesure nul si la pièce
est sans défaut. Tout défaut déséquilibre ce signal différence et révèle son existence.
[0009] La technique du contrôle non destructif par courants de Foucault impulsionnels qui
se rapproche le plus de la présente invention est décrite dans l'article de G. WITTIG
and H.M. THOMAS intitulé "Design of a Pulsed Eddy-Current Test Equipment with Digital
Signal Analysis" publié dans le livre Eddy-Current Characterization of Materials and
Structures, ASTM STP 722, George Birnbaum and George Free, Eds., American Society
for Testing and Materials 1981, pp. 387-397, ainsi que dans les références citées
dans cet article.
[0010] La figure 1 rappelle la structure d'un dispositif de l'art antérieur fonctionnant
selon ce principe.
[0011] Le dispositif représenté comprend un oscillateur stable 10, fonctionnant par exemple
à 1 MHz, un générateur d'impulsions 12, délivrant des impulsions de courant dont la
durée dépend des valeurs de l'inductance et de la capacité du circuit et qui est de
l'ordre de 5 à 75 µs. L'intensité peut être de l'ordre de la dizaine d'ampères. Une
sonde comprend un enroulement d'excitation 14 et un enroulement de mesure 16. Cette
sonde se déplace le long d'une pièce à contrôler 17, par des moyens non représentés.
La tension prélevée aux bornes de l'enroulement 16 est appliquée à un préamplificateur
à faible bruit 18, lequel est relié à un amplificateur 20.
[0012] Dans l'exemple représenté, le dispositif comprend en outre quatre voies 30/1, 30/2,
30/3, 30/4 dont la fonction est d'échantillonner le signal de mesure et de maintenir
la valeur échantillonnée (fonction dite ''sample-and-hold" en terminologie anglo-saxonne).
Les tensions finalement délivrées par les quatre voies sont notées U1, U2, U3 et U4.
[0013] La figure 2 illustre le fonctionnement de ce dispositif :
- la ligne (a) représente les impulsions T délivrées par le circuit 10,
- la ligne (b) représente les impulsions I délivrées par le générateur 12 et appliquées
sur l'enroulement d'excitation 14 de la sonde,
- la ligne (c) montre l'allure du signal Um recueilli aux bornes de l'enroulement
de mesure 16 de la sonde,
- la ligne (d) montre le retard à l'échantillonnage t1 et la durée de maintien tH,
propres à la première voie 30/1,
- le ligne (e) montre le retard à l'échantillonnage t3 et la durée de maintien tH
propres à la troisième voie 30/3,
- la ligne (f) montre la tension U1 délivrée par la voie 30/1, tension qui caractérise
en grandeur et en signe l'évolution de l'échantillon du signal de mesure pris à l'instant
t1, soit Um(t1),
- la ligne (g) enfin, montre la tension U3 délivrée par la voie 30/3, tension qui
caractérise en grandeur et en signe l'évolution de l'échantillon du signal de mesure
pris à l'instant t3, soit Um(t3).
[0014] La continuité des signaux U1 et U3 est obtenue par un filtrage passe-bas, qui lisse
la courbe échantillonnée.
[0015] Lorsque la sonde se déplace le long de la pièce à contrôler, chaque tension délivrée
par les voies d'échantillonnage et de maintien varie en fonction de la qualité de
la pièce, et ces variations permettent de contrôler cette qualité.
[0016] C'est ce qui est représenté sur la figure 3 où l'on voit quatre traces (a), (b),
(c), (d) correspondant aux variations des quatre tensions U1, U2, U3, U4 délivrées
par les quatre voies. Ces tensions correspondent à quatre instants d'échantillonnage
différents définis par quatre retards t1, t2, t3, t4 comptés à partir de l'impulsion
T de l'oscillateur. Sur la figure 3, ces retards sont respectivement de 30/40/50 et
60 µs.
[0017] La ligne (e) de cette même figure 3 montre la sonde 14-16 devant la pièce 17 supposée
présenter cinq défauts D1 à D5, situés respectivement à une profondeur de 0,5/1,1/2,2/3,3
et 4,5 millimètres de la surface de la pièce.
[0018] Lorsque la sonde passe au-dessus d'un défaut, la tension échantillonnée commence
par croître, puis passe par un maximum, décroît, s'annule, change de signe, passe
par un minimum, puis croît à nouveau et finalement s'annule.
[0019] Bien que donnant satisfaction à certains égards, ces dispositifs présentent des inconvénients.
En premier lieu, l'examen des courbes telles que celles de la figure 3 (ou telles
que celles de la figure 2, ligne (c)) est malaisé et il est bien difficile à l'opérateur
d'en tirer des informations précises sur les défauts de la pièce. La théorie des courants
de Foucault est en effet si complexe dans le cas des pièces ferromagnétiques saturées
(du fait de phénomènes non-linéaires) qu'il est illusoire d'en attendre un secours.
[0020] En second lieu, les dispositifs antérieurs ne permettent pas de s'affranchir de certains
signaux apparaissant au voisinage de pièces soudées ou de plaques rapportées ou de
toute autre variation inhérente à la géométrie ou à la structure de la pièce examinée
(bruit de fond, transition, ...), signaux qui ne révèlent pas à proprement parler
la présence d'un défaut, mais qui peuvent masquer des signaux de moindre amplitude
traduisant, eux, l'existence d'un véritable défaut.
[0021] En dernier lieu, ces dispositifs présentent des défauts d'équilibrage qu'il est difficile
de corriger dans la mesure où le fonctionnement est du type impulsionnel et implique
des transitoires rapides. Dans le cas du contrôle par courants sinusoïdaux, on peut
toujours engendrer un signal de correction ayant la fréquence du signal d'excitation,
et ajuster la phase et l'amplitude de ce signal pour compenser le déséquilibre de
la sonde. Mais, en fonctionnement impulsionnel, cette technique est inappropriée en
raison du spectre étendu du signal à corriger. Le déséquilibre de la sonde n'est pas
le même à chaque fréquence et le signal de correction ne peut se réduire à un signal
sinusoïdal.
[0022] La présente invention a justement pour but de remédier à tous ces inconvénients.
[0023] A cette fin, l'invention a pour premier objet un procédé destiné à faciliter l'analyse
des signaux échantillonnés. L'invention prévoit un procédé caractérisé par le fait
que l'on représente, dans un plan d'affichage un point ayant une première coordonnée
le long d'un premier axe, égale à une première amplitude échantillonnée-maintenue
obtenue pour un retard d'échantillonnage court et une seconde coordonnée le long d'un
second axe, égale à une seconde amplitude échantillonnée-maintenue obtenue pour un
retard d'échantillonnage long. Ce point contient l'information sur l'état de la pièce
située en regard de la sonde.
[0024] On observera qu'une seule impulsion suffit dans l'invention. Par comparaison, dans
le procédé décrit dans US-A-4 084 136 cité plus haut, il faut nécessairement une suite
récurrente d'impulsions rectangulaires pour obtenir une information. Par ailleurs
la forme et la durée de toutes ces impulsions découlent nécessairement de la suite
récurrente (par exemple la durée sera de T/8 si T est la période de récurrence). Dans
l'invention on forme essentiellement une seule impulsion, dont la forme et la durée
sont déterminées.
[0025] Naturellement, s'il s'agit de contrôler une zone étendue d'une pièce, on déplacera
la sonde ou la pièce, et l'on réémettra une impuulsion et ainsi de suite. Mais l'intervalle
de temps entre les diverses impulsions émises n'influera en rien sur la forme et la
durée de l'impulsion d'excitation.
[0026] En cas de déplacement et de répétition de l'impulsion d'excitation, le point affiché
se déplacera si la sonde passe au-desssus d'un défaut. On pourra suivre la trace
de ce point dans le plan.
[0027] L'amplitude et la phase de cette trace donnent les informations sur les défauts de
la pièce le long de la zone explorée.
[0028] Dans un tel procédé, lorsqu'un capteur différentiel se déplace le long de la pièce
à contrôler et passe au-dessus d'un défaut, le point affiché dessine une figure en
forme de huit, pour des raisons qui apparaîtront mieux par la suite. Or cette forme
est très simple à analyser.
[0029] Cette forme n'est d'ailleurs pas sans rappeler les courbes que l'on obtient dans
la technique des courants sinusoïdaux évoquée plus haut. Il faut cependant souligner
une différence substantielle entre ces deux techniques, qui rend cette similitude
purement formelle. Dans la technique des courants sinusoïdaux, on représente la tension
de mesure dans un plan d'impédance. Pour cela, on porte sur un axe la partie résistive
de l'impédance de la sonde (en d'autres termes, la partie de la tension de mesure
qui est en phase avec la tension d'excitation) et sur l'axe perpendiculaire la partie
réactive de cette impédance (en d'autres termes la partie de la tension de mesure
qui est en quadrature avec la tension d'excitation). Dans la présente invention, il
n'est pas question de plan d'impédance, ni de composantes résistives ou réactives.
Il s'agit d'un plan n'ayant aucune signification électrique particulière, mais présentant
des propriétés inattendues en ce qui concerne l'exploitation des résultats. Ces propriétés
tiennent à ce que l'un des deux échantillonnages s'effectue en début d'impulsion de
mesure et l'autre à la fin (autrement dit le retard à l'échantillonnage est respectivement
court et long).
[0030] Eventuellement, comme dans la technique des courants de Foucault sinusoïdaux, on
effectue, avant de suivre la trace de l'extrémité du vecteur, une rotation du système
d'axes permettant d'engendrer des nouvelles composantes ayant des propriétés que les
deux signaux échantillonnés n'avaient pas, en particulier la projection du "bruit
de fond" sur un axe. Par ailleurs, dans certains cas particuliers, l'usage d'axes
de coordonnées non perpendiculaires permet de mettre en évidence des caractères des
signaux plus significatifs que ceux obtenus par une représentation selon deux axes
perpendiculaires.
[0031] Selon une variante avantageuse du procédé de l'invention :
- on échantillonne chaque impulsion de mesure en plusieurs couples d'instants pour
obtenir plusieurs couples d'amplitudes échantillonnées-maintenues,
- on représente chacun de ces couples dans autant de plans pour obtenir autant de
traces.
[0032] Ce traitement en plusieurs plans permet, par la comparaison des différentes réponses
dans les différents plans, de valider l'interprétation : il doit y avoir corrélation
entre les interprétations basées sur des différents plans, sinon une erreur dans les
hypothèses est détectée (par exemple existence d'un défaut multiple alors que les
lois d'interprétation supposent qu'il n'y a qu'un seul défaut vu à la fois).
[0033] Par ailleurs, ce traitement en plusieurs plans permet de s'affranchir des inconvénients
mentionnés plus haut quant à l'existence de paramètres indésirables. A cette fin,
l'invention prévoit en outre un traitement d'élimination d'un paramètre indésirable
consistant à modifier l'amplitude et/ou la phase d'une première trace correspondant
à un premier couple d'amplitudes et/ou à modifier l'amplitude et/ou la phase d'une
seconde trace correspondant à un second couple d'amplitudes pour obtenir deux traces
analogues en phase et en amplitude dans une zone correspondant au paramètre indésirable
et à soustraire les amplitudes modifiées du premier couple respectivement des amplitudes
modifiées du second couple, pour obtenir de nouvelles composantes et une nouvelle
trace débarrassée du paramètre indésirable.
[0034] Un autre objet de l'invention est un procédé tel qu'il vient d'être défini, dans
lequel on effectue en outre une opération d'équilibrage. Pour cela on enregistre une
fois pour toutes l'impulsion de mesure que la sonde délivre lorsqu'elle se trouve
en regard d'une zone réputée sans défaut, cette impulsion constituant une impulsion
de référence, et on restitue cette impulsion de référence en synchronisme avec l'impulsion
de mesure courante, obtenue lorsque la sonde est en regard d'une zone à contrôler
et l'on soustrait de l'impulsion de mesure courante l'impulsion de référence ainsi
restituée.
[0035] De préférence, on enregistre de manière numérique l'impulsion de référence par conversion
analogique-numérique puis écriture dans une mémoire, et on restitue l'impulsion de
référence par lecture de ladite mémoire et conversion numérique-analogique.
[0036] Un autre objet de l'invention est un procédé tel que défini plus haut, dans lequel
on effectue une opération de compensation de l'échantillon prélevé. Pour cela :
- on enregistre, une fois pour toutes, l'amplitude échantillonnée-maintenue obtenue
lorsque la sonde est en regard d'une zone réputée sans défaut, cette amplitude constituant
une amplitude de compensation,
- on soustrait du signal de mesure obtenu lorsque la sonde est devant une zone à contrôler
l'amplitude de compensation enregistrée.
[0037] Un autre objet de l'invention est un dispositif de contrôle par courants de Foucault
impulsionnels, qui met en oeuvre le procédé qui vient d'être défini.
[0038] Dans sa structure la plus générale, le dispositif est caractérisé par le fait qu'il
comprend des moyens d'affichage dans un plan d'un point ayant une première coordonnée
sur un premier axe égale à une première amplitude échantillonnée-maintenue obtenue
avec un retard à l'échantillonnage court et une seconde coordonnée le long d'un second
axe égale à une seconde amplitude échantillonnée-maintenue obtenue avec un retard
à l'échantillonnage long.
[0039] De préférence, la sonde et la pièce sont en déplacement relatif et le générateur
réémet périodiquement l'impulsion d'excitation, ce qui permet d'obtenir une courbe
représentant les variations de position du point dans le plan d'affichage.
[0040] De préférence, le moyen d'affichage est constitué par un oscilloscope à rayons cathodiques
dont l'écran constitue le plan de représentation, avec un premier axe horizontal et
un second axe vertical.
[0041] Dans des modes particuliers de réalisation, ce dispositif comprend des moyens pour
éliminer des paramètres indésirables et/ou des moyens d'équilibrage de la sonde et/ou
des moyens de compensation.
[0042] De toute façon, les caractéristiques de l'invention apparaîtront mieux à la lumière
de la description qui va suivre. Cette description se rapporte à des exemples de réalisation
donnés à titre non limitatif et elle se réfère à des dessins annexés. Sur ces dessins,
qui font suite aux figures 1 à 3 déjà décrites :
- la figure 4 illustre le principe de l'invention,
- la figure 5 montre une trace obtenue selon l'invention lorsque la sonde se déplace
en regard d'un défaut,
- la figure 6 rappelle l'allure de deux signaux obtenus conformément à l'art antérieur
dans le cas de trois défauts situés à des profondeurs différentes,
- la figure 7 montre l'allure des courbes correspondant au cas précédent mais obtenues
selon l'invention,
- la figure 8 illustre le principe de la combinaison des résultats obtenus dans deux
plans de représentation différents pour éliminer un paramètre indésirable,
- la figure 9 illustre un exemple de moyens à mettre en oeuvre pour effectuer la combinaison
précédente,
- la figure 10 montre l'allure d'un signal délivré par une sonde en l'absence de défaut
de la pièce examinée,
- la figure 11 montre des moyens d'équilibrage du signal,
- la figure 12 montre des moyens de compensation de la tension échantillonnée,
- la figure 13 illustre un montage à double échantillonneur-bloqueur.
[0043] Dans la description qui va suivre, on supposera que la sonde se déplace par rapport
à une pièce fixe. Il va sans dire qu'il serait parfaitement équivalent de maintenir
la sonde fixe et de déplacer la pièce à contrôler. La portée de l'invention ne saurait
donc être limitée à cet égard.
[0044] La figure 4 illustre le principe de la représentation et de l'exploitation des signaux
selon l'invention. Deux voies 30/1 et 30/2 ont leur entrée reliée à l'enroulement
de mesure 16 de la sonde et ont leur sortie délivrant un signal correspondant à un
échantillonnage du signal de mesure. Les instants d'échantillonnage sont définis respectivement
par un retard court et un retard long (sur la figure 2, déjà décrite, ces retards
sont notés t1 et t3, t1 étant court et t3 long). Les notions de "court" et de "long"
sont très relatives et dépendent à la fois de la forme de l'impulsion de courant et
de la profondeur à laquelle on souhaite détecter des défauts. Sans que cela constitue
une règle générale, "court" peut correspondre à un point de la première alternance
du signal représenté en figure 10, ''long" se rapporter à une alternance ultérieure.
[0045] Les tensions U1 et U2 sont représentées dans un plan P défini par deux axes OX1,
OX2, le signal U1 étant porté sur l'axe OX1 et le signal U2 sur l'axe OX2.
[0046] On définit ainsi un point M dont les coordonnées sur les axes OX1 et OX2 sont les
grandeurs U1 et U2 ou, ce qui revient au même, un vecteur

dont les composantes sont

1 et

2.
[0047] En pratique, le plan P est celui d'un enregistreur ou l'écran d'un oscilloscope.
Ce dernier cas est illustré sur la figure 5 où l'écran est référencé E. Un tube à
rayons cathodiques TRC reçoit sur une borne H, reliée aux plaques de déviation horizontale,
la tension U1 et sur une borne V, reliée aux plaques de déviation verticale, la tension
U2.
[0048] Lorsque la sonde se déplace le long de la pièce à contrôler, les tensions U1 et U2
restent constantes si la pièce est sans défaut et le point M demeure fixe dans le
plan. Lorsque la sonde balaie une zone défectueuse, le point M(U1, U2) se déplace
sur l'écran E où il trace une figure en forme de huit avec deux lobes pratiquement
symétriques si le capteur utilisé est un capteur différentiel. On peut définir une
amplitude A et une phase 0̸ pour cette figure. L'amplitude traduit la "taille" du
huit et la phase l'orientation de l'ensemble par rapport à l'axe horizontal.
[0049] La raison pour laquelle on obtient une figure en forme de huit, résultat qui n'est
pas sans surprendre, compte tenu du fait que les composantes utilisées n'ont aucun
rapport avec des composantes résistive et réactive telles qu'on les rencontre dans
les techniques usuelles à excitation sinusoïdale, peut être expliquée à l'aide des
figures 6 et 7.
[0050] Sur la figure 6, on voit une sonde 14-16 se déplaçant le long d'une pièce 17 affectée
de trois défauts : un défaut D1 situé près de la surface, un défaut D2 plus profond
et un défaut D3 profond.
[0051] Lorsque la sonde se déplace au-dessus de ces défauts, la tension U1, caractérisant
l'échantillon pris avec un retard court, présente l'allure de la ligne (b). La tension
U2, caractérisant l'échantillon pris avec un retard long, présente l'allure de la
figure (c). Ces courbes sont conformes à l'art antérieur tel qu'il a été illustré
sur la figure 2. Mais, dans un plan de représentation conforme à l'invention, la trace
obtenue montre trois lobes L1, L2, L3 de phases et d'amplitudes différentes (figure
7). Un lobe L1 est couché sur l'axe horizontal. Il correspond au défaut DI. En effet,
ce défaut étant proche de la surface, il perturbe avant tout le début de l'impulsion
de courant et très peu la fin de celle-ci. C'est donc la composante "horizontale"
U1 qui est prépondérante, la composante "verticale" U2 restant faible. Le lobe L1
présente donc une phase faible.
[0052] La situation s'inverse pour le défaut D3, qui est profond. C'est la fin de l'impulsion
de courant qui est perturbée dans ce cas, le début de celle-ci n'étant que peu affecté.
C'est donc la composante verticale U2 qui est prépondérante. Le lobe L3 présente donc
une phase proche de 90°.
[0053] Pour le défaut D2, la situation est intermédiaire. Le début et la fin de l'impulsion
de courant sont perturbés par le défaut et les composantes U1 et U2 sont du même ordre
: le lobe L2 est incliné avec une phase proche de 45°.
[0054] Ainsi, la lecture de l'information de profondeur du défaut est-elle immédiate selon
l'invention : il suffit d'observer la phase de la figure obtenue. Quant à l'ampleur
du défaut, elle apparaît, elle aussi, très clairement à travers l'amplitude des lobes.
[0055] En plus de cet avantage lié à la grande lisibilité des résultats obtenus, l'invention
en présente un autre. En effet, comme il se trouve, de manière fortuite, que l'allure
de la trace représentée selon l'invention est analogue à celle que l'on obtient en
contrôle par courants de Foucault sinusoïdaux, il est possible de mettre en oeuvre
la technique d'élimination de paramètres indésirables connue pour ce dernier type
de contrôle. Cette technique est décrite dans le brevet français n°2 324 003 déjà
cité. C'est ce qui est représenté schématiquement sur la figure 8. On y a représenté
un plan P1-2 d'exploitation des deux signaux U1 et U2 délivrés par deux échantillonneurs-bloqueurs
30/1 et 30/2 et un plan P3-4 d'exploitation des deux signaux U3 et U4 délivés par
deux échantillonneurs-bloqueurs 30/3 et 30/4. Les grandeurs représentées dans les
plans P1-2 et P3-4 sont combinées en amplitude et en phase pour donner une nouvelle
représentation dans un plan P1-2-3-4. Dans ce plan, de nouvelles grandeurs U′1 et
U′2 sont obtenues, qui sont débarrassées d'un paramètre indésirable.
[0056] Les moyens à mettre en oeuvre pour effectuer un tel traitement sur les tensions U1,
U2, U3 et U4 sont illustrés sur la figure 9.
[0057] U1 et U2 sont pondérés par un facteur k1, k2 au moyen de pondérateurs P1, P2 (qui
sont en pratique des atténuateurs réglables). Les tensions k1U1 et k2U2 sont transformées
par un rotateur Rot1 par une opération équivalente à une rotation de phase Q1,2 (en
pratique on forme des quantités :
k1U1cos0̸1,2+k2U2sin0̸1,2 et k1U1sin0̸1,2-k2U2cos0̸1,2.
[0058] Des traitements similaires sont effectués sur un autre couple de tensions U3 et U4,
au moyen de pondérateurs P3, P4 et d'un rotateur Rot2.
[0059] Les composantes modifiées sont soustraites deux à deux dans deux sommateurs différentiels
S1 et S2.
[0060] Un ultime rotateur Rot3 permet de faire tourner dans son plan, si besoin est, la
figure finalement obtenue.
[0061] Naturellement, dans certains cas, des coefficients de pondération pourront être pris
égaux à l'unité et certaines rotations pourront être évitées.
[0062] On peut ainsi agir sur l'amplitude d'une trace (en laissant sa phase inchangée) et
sur la phase de l'autre (en laissant son amplitude inchangée), ou agir uniquement
sur une trace (en amplitude et en phase) en laissant l'autre inchangée.
[0063] En plus des avantages liés au traitement particulier qui vient d'être décrit, l'invention
en procure d'autres grâce à des dispositions concernant l'équilibrage et la compensation
du signal de mesure.
[0064] Comme exposé plus haut,la difficulté d'équilibrage d'un dispositif à courants pulsés
tient à la largeur du spectre des signaux en cause.
[0065] La figure 10 montre par exemple l'allure du signal délivré par une sonde lorsque
celle-ci est en regard d'une zone sans défaut. Un tel signal peut s'observer sur l'écran
d'un oscilloscope. Une sonde délivrant un tel signal, alors qu'aucun défaut n'affecte
la pièce contrôlée, est soit une sonde de mesure absolue, soit une sonde différentielle
dont la symétrie de construction n'est pas suffisante, ce qui est quasiment toujours
le cas.
[0066] Le dispositif de l'invention comprend donc avantageusement des moyens d'équilibrage
dont un mode de réalisation est illustré sur la figure 11. Sur cette figure, on voit
un dispositif de mémorisation MEM, apte à recevoir le signal de mesure délivré par
la sonde lorsque celle-ci se trouve devant une zone réputée sans défaut, un additionneur
34 à deux entrées, l'une négative 35 apte à être reliée à la sortie du dispositif
de mémorisation, l'autre positive 36 reliée à la sonde lorsque celle-ci se trouve
en regard d'une zone à contrôler. L'additionneur 34 est relié à un filtre passe-bas
38 suivi d'un amplificateur à gain variable 39.
[0067] Dans le mode de réalisation illustré, le moyen de mémorisation MEM comprend :
- un échantillonneur-bloqueur 40 ayant une entrée de signal 41 reliée à la sonde et
une entrée de commande 42 recevant un signal de commande d'équilibrage et une sortie
43,
- un convertisseur analogique-numérique 44 relié à la sortie 43 de l'échantillonneur,
- une mémoire 46 ayant une entrée et une sortie de données 47, 48 et une entrée d'adressage
49, l'entrée de données 47 étant reliée au convertisseur analogique-numérique 44,
- un compteur 50 ayant une sortie numérique 51 reliée à l'entrée d'adressage 49 de
la mémoire 46,
- un convertisseur numérique-analogique 54 relié à la sortie de données 48 de la mémoire
46,
- une horloge 56 commandant l'échantillonneur 40 et le compteur 50,
- un circuit 57 disposé entre l'horloge 56 et le compteur 50 pour que le signal restitué
reçu par l'entrée négative 35 de l'additionneur 34 soit synchrone de l'impulsion de
mesure courante reçue par l'entrée positive 36 de l'additionneur 34. Le départ du
comptage est provoqué par la commande XX, et l'arrêt et remise à zéro par la sortie
YY du compteur 50, lorsque toute la forme d'onde contenue dans la mémoire 46 a été
balayée.
[0068] L'horloge 56 fonctionne par exemple à 10 MHz. La commande d'équilibrage peut être
obtenue par une connexion 58 reliée à une entrée d'un amplificateur 59 dont une autre
entrée reçoit des impulsions d'horloge synchronisées par le circuit 57 et dont la
sortie est reliée à l'entrée de commande 42 de l'échantillonneur 40.
[0069] La mémoire 46 est du type mémoire vive ("RAM") et peut avoir une capacité de 1 Koctet.
Le compteur 50 est alors un compteur de contenu maximum égal à 1000.
[0070] L'échantillonneur-bloqueur 40 est rapide, avec un temps de prise d'échantillon de
l'ordre de 50 ns. Le convertisseur 44 est également rapide (20 à 30 ns).
[0071] Lorsque l'équilibrage parfait de la courbe de mesure n'est pas nécessaire, on peut
se contenter de corriger le signal de mesure en un point particulier, qui est le point
d'échantillonnage, ou en quelques points particuliers. Dans ce cas, les moyens de
la figure 11 sont inutilement complexes et l'on peut se contenter des moyens de la
figure 12.
[0072] Sur cette figure est représenté un circuit de compensation 60 qui est placé avant
chaque voie 30 d'échantillonnage et maintien (30/1...) ; ce circuit 60 comprend un
additionneur 62 à deux entrées, l'une positive 63, l'autre négative 64, un moyen MEM
de mémorisation d'une tension relié à l'entrée négative 64 de l'additionneur 62, cette
tension étant telle que, lorsque la sonde est située en regard d'une zone réputée
sans défaut, la tension de sortie de la voie 30 soit nulle.
[0073] Selon la variante illustrée, le moyen MEM de mémorisation comprend :
- un détecteur de signe 70 relié à la sortie de la voie 30,
- une horloge 72, dont le fonctionnement est activé par une commande d'équilibrage
AA,
- un compteur-décompteur 74 ayant une entrée de comptage 75 et une entrée de décomptage
76, ainsi qu'une sortie de données 77,
- un commutateur 78 ayant une entrée 79 reliée à l'horloge 72 et deux sorties 81,
82 reliées aux entrées 75, 76 du compteur 74 et une entrée de commande 83 reliée au
détecteur de signe 70,
- un convertisseur numérique-analogique 86 ayant une entrée reliée à la sortie de
données 77 du compteur 74 et une sortie 88 reliée à l'entrée négative 64 du comparateur
62.
[0074] Le dispositif se complète par un écrêteur non saturable 90 et un amplificateur 92
; l'écrêteur limite l'excursion du signal afin de permettre le fonctionnement correct
de l'amplificateur 92.
[0075] Le fonctionnement de ce circuit est le suivant, lors de la phase d'équilibrage provoquée
par la commande AA.
[0076] Tant que le signal de sortie de la voie n'est pas nul, le compteur-décompteur 74
voit son contenu augmenter ou diminuer ; le signal de correction appliqué sur l'entrée
négative 64 de l'additionneur est modifié dans le même sens, ce qui a pour effet de
ramener la tension de sortie vers zéro. Lorsque cet état est obtenu, l'échantillon
délivré par la voie 30, pour l'instant d'échantillonnage propre à cette voie, est
nul, ce qui correspond bien à un dispositif compensé puisque la sonde est supposée
être située en regard d'une zone sans défaut.
[0077] Lorsque la commande AA est arrêtée, le contenu du compteur 74 est conservé pour toutes
les mesures ultérieures. Ainsi, le signal délivré en 30 reflète-t-il vraiment l'influence
d'un défaut au droit de la sonde.
[0078] Le dispositif de la figure 12 doit équiper chacune des voies de traitement, chaque
temps de retard conduisant à une valeur différente de tension à compenser. Un tel
cicuit de compensation est économique et il permet une amélioration du rapport signal
sur bruit en sortie de l'appareil, car en enlevant la composante continue du signal
délivré en 62, il autorise une amplification en 92, avant d'effectuer l'échantillonnage-maintien
en 30. Mais l'amélioration n'est pas aussi grande qu'avec la variante à équilibrage
de la totalité de la courbe, car la dérivée du signal n'est pas annulée comme c'était
le cas en 37.
[0079] Dans la technique du contrôle non destructif par courants de Foucault impulsionnels,
on ne s'intéresse en fait qu'à des points précis de la courbe représentative du signal
de mesure. Ces points sont repérés après observation des modifications de la totalité
de la courbe.
[0080] La théorie établit que les courbes représentatives des signaux amplitude-temps tels
que le signal de la figure 10, passent par des points fixes lorsque la distance capteur-pièce
varie. Il est intéressant de s'y placer.
[0081] Un étage échantillonneur tel que 30/1 sur la figure 1 prélève donc la valeur prise
pour un retard précis après le déclenchement de l'impulsion de courant. La recherche
d'un point fixe nécessite un réglage quasi-continu de ce retard, ce qui implique une
circuiterie de retard analogique. C'est un point délicat de cette technique car une
grande stabilité est nécessaire. Un retard numérique par comptage d'impulsions nécessiterait
une horloge d'une rapidité telle que les circuits deviendraient très complexes et
leur fonctionnement risquerait de perturber la chaîne analogique. L'échantillonneur
lui-même doit répondre de manière très précise à la commande ; il doit donc être très
rapide.
[0082] Par ailleurs, la récurrence de la mesure est telle que la valeur mémorisée doit être
conservée un temps assez long vis-à-vis de la rapidité de l'échantillonneur. Cette
propriété nécessiterait donc plutôt un échantillonnage lent.
[0083] Cette difficulté est levée dans l'invention grâce à un système à double échantillonnage
illustré sur la figure 13.
[0084] Chaque voie d'échantillonnage et de maintien 30/1... comprend un premier échantillonneur-bloqueur
90 apte à effectuer rapidement (en 50 ns ou moins) l'échantillonnage mais seulement
apte à maintenir l'échantillon pendant une durée limitée, et un second échantillonneur-bloqueur
92 relié au premier et apte à ré-échantillonner lentement, avec un retard fixe, le
signal délivré par le premier, mais apte à maintenir ce signal ré-échantillonné pendant
une durée longue, correspondant à la période des impulsions d'excitation. Cette dernière
peut monter à 10 ms lorsque la fréquence de récurrence tombe à 100 Hz.
[0085] Une impulsion de commande de l'échantillonnage BB provenant du générateur 10 est
appliquée à un circuit 102 qui la retarde proportionnellement à une commande analogique
100, et délivre sur une sortie 103 une impulsion de commande de l'échantillonneur-bloqueur
90 et sur une sortie 104 une impulsion retardée adressée à l'échantillonneur-bloqueur
92, retardée d'une valeur fixe par rapport à celle émise en 103.
[0086] On obtient ainsi une courbe échantillonnée en vraies "marches d'escalier", donc sans
aucun bruit lorsque la dérivée moyenne est nulle. Un filtre passe-bas 93 permet, le
cas échéant, de lisser les transitoires conduisant à des marches d'escalier gênantes.
1. Procédé de contrôle de pièces par courants de Foucault impulsionnels, dans lequel
:
- on alimente une sonde disposée à proximité de la pièce par au moins une impulsion
d'excitation ayant une forme et une durée déterminées,
- on prélève sur la sonde une impulsion de mesure correspondante,
- on échantillonne cette impulsion de mesure et on maintient l'amplitude des échantillons
obtenus,
ce procédé étant caractérisé par le fait que :
- on prend un premier échantillon de l'impulsion de mesure à un premier instant présentant
un retard court par rapport au début de l'impulsion et on maintient ce premier échantillon,
- on prend un second échantillon de l'impulsion de mesure à un second instant présentant
un retard long par rapport au début de l'impulsion et on maintient ce second échantillon,
- on affiche, sur un moyen d'affichage plan, un point ayant une première coordonnée
sur un premier axe du plan égale au premier échantillon maintenu et ayant une seconde
coordonnée sur un second axe du plan égale au second échantillon maintenu, la position
de ce point révèlant l'état de la pièce.
2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé par le fait qu'on déplace l'une par
rapport à l'autre la sonde et la pièce, on réémet l'impulsion d'excitation, on affiche
pour chaque impulsion le point correspondant, l'ensemble des points obtenus dessinant
une trace dont l'amplitude et la phase donnent une image de la pièce le long de la
zone de déplacement.
3. Procédé selon des revendications 1 et 2, caractérisé par le fait qu'il comprend
les opérations suivantes :
- on échantillonne chaque impulsion de mesure en plusieurs couples d'instants respectivement
à retards court et long, pour obtenir plusieurs couples d'amplitudes échantillonnées-maintenues,
- on représente chacun de ces couples par un point pour obtenir autant de points et
autant de traces.
4. Procédé selon la revendication 3, caractérisé par le fait qu'il comprend en outre
un traitement d'élimination d'un paramètre indésirable, ce traitement consistant à
modifier l'amplitude et/ou la phase d'une première trace correspondant à un premier
couple d'amplitudes et/ou à modifier l'amplitude et/ou la phase d'une seconde trace
correspondant à un second couple d'amplitudes pour obtenir deux traces analogues en
phase et en amplitude dans une zone correspondant au paramètre indésirable et l'on
soustrait les amplitudes modifiées du premier couple respectivement des amplitudes
modifiées du second couple, pour obtenir une nouvelle trace débarrassée du paramètre
indésirable.
5. Procédé selon la revendication 1, caractérisé par le fait que l'opération d'échantillonnage-maintien
s'effectue sur une impulsion préalablement équilibrée obtenue par les opérations d'équilibrage
suivantes : on enregistre une fois pour toutes, l'impulsion de mesure que la sonde
délivre lorsqu'elle se trouve en regard d'une zone réputée sans défaut cette impulsion
constituant une impulsion de référence et on restitue cette impulsion de référence
de manière synchrone avec l'impulsion de mesure courante obtenue lorsque la sonde
est en regard d'une zone à controler et on soustrait de l'impulsion de mesure courante
l'impulsion de référence ainsi restituée.
6. Procédé selon la revendication 5, caractérisé par le fait que l'on enregistre de
manière numérique l'impulsion de référence par conversion analogique-numérique puis
écriture dans une mémoire, et on restitue l'impulsion de référence par lecture de
ladite mémoire et conversion numérique-analogique.
7. Procédé selon la revendication 1, caractérisé par le fait que l'on effectue l'opération
de mesure des variations des amplitudes échantillonnées-maintenues sur un signal de
mesure compensé obtenu par des opérations de compensation suivantes :
- on enregistre, une fois pour toutes, l'amplitude échantillonnée-maintenue obtenue
lorsque la sonde est en regard d'une zone réputée sans défaut, cette amplitude constituant
un signal de compensation,
- on soustrait du signal de mesure courant obtenu lorsque la sonde est devant une
zone à contrôler le signal de compensation.
8. Procédé selon la revendication 7, caractérisé par le fait que l'opération d'enregistrement
du signal de compensation s'effectue de manière numérique et comprend les opérations
suivantes :
- on échantillonne le signal de mesure lorsque la sonde est située en regard d'une
zone réputée dépourvue de défaut,
- on détecte le signe de l'échantillon obtenu,
- on commande le comptage ou le décomptage d'impulsions d'horloge dans un compteur
selon ledit signe,
- on convertit en analogique le résultat du comptage,
- on soustrait du signal de mesure le signal analogique converti,
- on arrête le comptage-décomptage lorsque le signal obtenu après soustraction est
nul, le résultat final du comptage obtenu constituant la valeur numérique enregistrée
du signal de compensation.
9. Dispositif de contrôle par courants de Foucault impulsionnels mettant en oeuvre
le procédé selon la revendication 1, ce dispositif comprenant :
- une sonde (14, 16) disposée en regard d'une pièce à contrôler (17),
- un générateur (12) apte à émettre au moins une impulsion de forme et de durée déterminées,
cette impulsion étant appliquée à la sonde (14, 16),
- au moins deux voies d'échantillonnage-maintien (30/1, 30/2) ayant une entrée reliée
à la sonde (16), ces voies étant aptes à échantillonner une impulsion de mesure en
des instants différents repérés par un retard compté à partir du début de l'impulsion
de mesure délivrée par la sonde et à maintenir l'amplitude échantillonnée,
ce dispositif étant caractérisé par le fait qu'il comprend un moyen d'affichage d'un
point ayant pour première coordonnée sur un premier axe (OX1) l'une des amplitudes
échantillonnées-maintenues (U1) obtenue avec un retard à l'échantillonnage court
(t1) et comme seconde coordonnée le long d'un second axe (OX2) une seconde amplitude
(U2) échantillonnée-maintenue obtenue avec un retard à l'échantillonnage long (t2).
10. Dispositif selon la revendication 9, caractérisé par le fait qu'il comprend en
outre des moyens pour déplacer la sonde et la pièce l'une par rapport à l'autre, le
générateur (12) émettant alors une suite d'impulsions récurrentes ayant une période
de récurrence déterminée par la vitesse de déplacement, le point affiché décrivant
alors une trace dans le plan d'affichage, l'amplitude (A) et la phase (0̸) de cette
trace donnant des informations sur les défauts de la pièce le long de la zone de déplacement.
11. Dispositif selon la revendication 10, caractérisé par le fait qu'il comprend des
pondérateurs (P1, P2) et/ou un rotateur (Rot1) pour modifier l'amplitude et/ou la
phase d'une première trace correspondant à un premier couple d'amplitudes échantillonnées-maintenues
(U1, U2) et des pondérateurs (P3, P4) et/ou un rotateur (Rot2) pour modifier l'amplitude
et/ou la phase d'une seconde trace correspondant à un second couple d'amplitudes échantillonnées-maintenues
(U3, U4), pour obtenir deux traces analogues en amplitude et en phase relativement
à un paramètre indésirable, et des soustracteurs (S1, S2) pour soustraire deux à deux
les composantes des deux vecteurs dont les composantes ont été ainsi modifiées pour
obtenir une nouvelle trace débarrassée du paramètre indésirable.
12. Dispositif selon la revendication 9, caractérisé par le fait qu'il comprend en
outre des moyens d'équilibrage comprenant un dispositif d'enregistrement du signal
de mesure délivré par la sonde lorsque celle-ci se trouve devant une zone réputée
sans défaut, un additionneur (34) à deux entrées, l'une négative (35) apte à être
reliée à la sortie du dispositif d'enregistrement, l'autre positive (36) reliée à
la sonde lorsque celle-ci se trouve en regard d'une zone à contrôler et un moyen pour
commander le dispositif d'enregistrement en synchronisme avec l'impulsion de mesure
courante.
13. Dispositif selon la revendication 12, caractérisé par le fait que le dispositif
d'enregistrement comprend :
- un échantillonnneur (40) ayant une entrée de signal (41) reliée à la sonde et une
entrée de commande (42) recevant un signal de commande d'équilibrage et une sortie
(43),
- un convertisseur analogique-numérique (44) relié à la sortie (43) de l'échantillonneur,
- une mémoire (46) ayant une entrée et une sortie de données (47, 48) et une entrée
d'adressage (49), l'entrée de données (47) étant reliée au convertisseur analogique-numérique
(44),
- un compteur (50) ayant une sortie numérique (51) reliée à l'entrée d'adressage (49)
de la mémoire (46),
- un convertisseur numérique-analogique (54) relié à la sortie de données (48) de
la mémoire (46),
- une horloge (56) commandant l'échantillonneur (40) et le compteur (50),
- un circuit (57) disposé entre l'horloge (56) et le compteur (50) pour que le signal
restitué reçu par l'entrée négative (35) de l'additionneur (34) soit synchrone de
l'impulsion de mesure courante reçue par l'entrée positive (36) de l'additionneur
(34).
14. Dispositif selon la revendication 9, caractérisé par le fait qu'il comprend un
circuit de compensation (60) placé avant chaque voie (30) d'échantillonnage et maintien
(30/1...), ce circuit (60) comprenant un additionneur (62) à deux entrées, l'une positive
(63), l'autre négative (64), un moyen MEM de mémorisation d'une tension relié à l'entrée
négative (64) de l'additionneur (62), cette tension étant telle que, lorsque la sonde
est située en regard d'une zone réputée sans défaut, la tension de sortie de la voie
(30) soit nulle.
15. Dispositif selon la revendication 14, caractérisé par le fait que le moyen de
mémorisation comprend :
- un détecteur de signe (70),
- une horloge (72),
- un compteur-décompteur (74) ayant une entrée de comptage (75) et une entrée de décomptage
(76), ainsi qu'une sortie de données (77),
- un commutateur (78) ayant une entrée (79) reliée à l'horloge (72) et deux sorties
(81, 82) reliées aux entrées (75, 76) du compteur (74) et une entrée de commande (83)
reliée au détecteur de signe (70),
- un convertisseur numérique-analogique (86) ayant une entrée reliée à la sortie de
données (77) du compteur (74) et une sortie (88) reliée à l'entrée négative (64) du
comparateur (62).
16. Dispositif selon la revendication 9, caractérisé par le fait que chaque voie d'échantillonnage
et de maintien (30/1...) comprend un premier échantillonneur-bloqueur (90) apte à
effectuer rapidement l'échantillonnage mais seulement apte à maintenir l'échantillon
pendant une durée limitée, et un second échantillonneur-bloqueur (92) relié au premier
et apte à ré-échantillonner lentement, avec un retard fixe, le signal délivré par
le premier mais apte à maintenir ce signal ré-échantillonné pendant une durée longue.