(19)
(11) EP 0 341 454 A3

(12) EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG

(88) Veröffentlichungstag A3:
13.06.1990  Patentblatt  1990/24

(43) Veröffentlichungstag A2:
15.11.1989  Patentblatt  1989/46

(21) Anmeldenummer: 89106910.6

(22) Anmeldetag:  18.04.1989
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)4: H01R 11/18
(84) Benannte Vertragsstaaten:
DE FR GB IT

(30) Priorität: 09.05.1988 DE 8806162 U

(71) Anmelder: Siemens Nixdorf Informationssysteme Aktiengesellschaft
D-33102 Paderborn (DE)

(72) Erfinder:
  • Bethge, Daniel, Dr.-Ing.
    D-4790 Paderborn (DE)


(56) Entgegenhaltungen: : 
   
       


    (54) Kontaktstift für die Funktionsprüfung von Leiterplatten


    (57) Die Erfindung betrifft einen Kontaktstift (2) für die Funk­tionsprüfung von Leiterplatten oder dergleichen, mit einem an einem freien Ende ausgebildeten, konvergierend zugespitz­ten Kontaktkopf (6). Der Kontaktkopf (6) ist mit einer zur Kontaktstiftachse (10) parallelen, durch die Kontaktkopfspit­ze (12) verlaufenden Anschliffebene (14) versehen. Die da­durch entstehenden Schneidkanten verbessern den Kontakt, wenn ein Lötauge oder eine Durchkontaktierungsbohrung mit einer Oxidschicht bedeckt oder beschmutzt ist. Im Fußbe­reich (16) des konvergierend zugespitzten Kontaktkopfes (6) ist außerdem eine über den ganzen Fußumfang verlaufende, zur Kontaktspitze (12) hin offene Rinne (18) ausgebildet, die dazu dient, bei der Kontaktierung von Bauteilbeinchen diese aufzufangen.







    Recherchenbericht