(57) Bei dem MS-MS-Flugzeit-Massenspektrometer wird ein Ortsfokus der Ionenquelle mit
Korrektur in zweiter Ordnung bestimmt. Bei geeigneter Wahl von geometrischen und elektrischen
Größen der Ionenquelle ist dieser Ortsfokus so beschaffen, daß in ihm eine sehr gute
primäre Massenauflösung möglich wird, wenn geeignete Methoden des sekundären Zugriffs
gewählt werden.
Der sekundäre Zugriff am Ortsfokus erfolgt
a) in Form eines fokussierten, gepulsten Laserstrahles oder anderer fokussierbarer,
gepulster Zugriffsmethoden,
b) in Form eines Maschennetzes aus sehr feinen, ineinander greifenden "Linienkämmen",
an die Spannungspulse angelegt werden können,
c) in Form einer Kombination von a) und/oder b) mit einer elektrostatisch hochgelegten,
primären, feldfreien Driftstrecke.
Das MS-MS-Flugzeit-Massenspektrometer wird mit einem Reflektorspiegel betrieben, der
mit einer beweglichen Reflektorendplatte mit nachregulierbarer Spannung versehen ist,
und eine Eliminierung primärer Ionen aus dem Spektrum ohne Verlust der Massenauflösung
ermöglicht. Durch geeignete Abstimmung der Reflektorfelder und geeigneter Wahl eines
Beobachtungsfensters im Flugzeitspektrum kann ein im Ortsfokus erzeugtes sekundäres
Massenspektrum gemessen werden.
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