[0001] Die Erfindung bezieht sich auf eine frequenzselektive Oberflächenstruktur nach dem
Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
[0002] Für frequenzselektive Oberflächenstrukturen, die zur Filterung von elektromagnetischen
Wellen eine total reflektierende, von Schlitzelementen in einem sich wiederholenden
Muster durchsetzte Oberfläche aufweisen, sind aus dem Stand der Technik Schlitzkonfigurationen
in zahlreichen Ausführungsformen bekannt, angefangen von einfachen Längs- oder Querschlitzen
(US-PS 4 314 255) über Jerusalem-Kreuzschlitze und H-förmige Schlitzelemente (DE-OS
3 726 309) bis hin zu geometrisch komplexen tri- oder mehrpolaren Schlitzelementen
(US-PS 3 975 738 und US-PS 4 126 866). Keines der bekannten Schlitzelemente genügt
jedoch uneingeschränkt der Forderung nach qualitativ hochwertigen Bandpaßeigenschaften,
sei es, daß die sich ergebende Oberflächenstruktur ein zu breitbandiges Filterverhalten
oder zu hohe Transmissionsverluste aufweist und/oder daß die Resonanzfrequenz stark
einfallwinkel- oder polarisationsabhängig ist.
[0003] Aufgabe der Erfindung ist es, eine mit einem Schlitzmuster versehene frequenzselektive
Oberflächenstruktur zu schaffen, bei der sich ein von dem Einfallwinkel und der Polarisation
weitgehend unabhängiges, schmalbandiges Filterverhalten mit geringen Transmissionsverlusten
erzielen läßt.
[0004] Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im Patentanspruch 1 gekennzeichnete
Oberflächenstruktur gelöst.
[0005] Erfindungsgemäß ist es durch die besondere geometrische Gestaltung einer H-förmigen
Schlitzstruktur überraschenderweise gelungen, den gegenseitigen Mittenabstand der
Schlitzelemente und damit die Transmissionsverluste und die Abhängigkeit vom Einfallwinkel
sehr klein zu halten, ohne daß dies störende Verkoppelungseffekte zwischen den einzelnen
Schlitzelementen zur Folge hat, die das schmalbandige Resonanzverhalten der Oberflächenstruktur
negativ beeinflussen, mit dem zusätzlichen Effekt, daß sich die Schlitzelemente infolge
ihrer orthogonalsymmetrischen, in X- und Y-Richtung im wesentlichen gleich langen
Flächengeometrie ohne weiteres zum Zwecke polarisationsunabhängiger Bandpaßeigenschaften
in einem in der H- und der E-Ebene identischen Schlitzmuster anordnen lassen.
[0006] Wie gemäß Anspruch 2 bevorzugt, wird das polarisationsunabhängige Filterverhalten
dadurch erreicht, daß benachbarte Schlitzelemente jeweils um 90° verdreht zueinander
angeordnet sind.
[0007] Um den Transmissionsgrad und die Stabilität gegen Einfallwinkeländerungen durch eine
möglichst hohe Schlitzdichte der Oberflächenstruktur ohne störende Rückwirkungen auf
die Filterbandbreite weiter zu verbessern, sind die Schlitzelemente gemäß Anspruch
3 in besonders bevorzugter Weise sowohl in horizontaler als auch in vertikaler Richtung
jeweils mit einem Mittelpunktabstand von etwa einer Drittelwellenlänge der zu selektierenden
Wellenfrequenz positioniert.
[0008] Die Schlitzbreite der einzelnen Schlitzelemente wird nach Maßgabe der gewünschten
Filterbandbreite gewählt und beträgt im Hinblick auf ein schmalbandiges Filterverhalten
vorzugsweise etwa 1 % der Betriebswellenlänge im Bereich der Verbindungsbalken, während
die Begrenzungsbalken gemäß Anspruch 4 etwa halb so breit wie die Verbindungsbalken
ausgebildet sind.
[0009] Eine weitere, aus Gründen einer hohen Flankensteilheit des Filters besonders bevorzugte
Ausgestaltung der Erfindung besteht gemäß Anspruch 5 darin, daß die Oberflächenstruktur
als Sandwichbauteil mit zwei äußeren, jeweils von H-förmigen Schlitzelementen durchbrochenen
Deckschichten und einer zwischen diesen angeordneten Zwischenschicht aus einem verlustarmen
Dielektrikum ausgebildet ist, dessen elektrische Schichtdicke einer viertel Betriebswellenlänge
entspricht. Im Hinblick auf ein günstiges Transmissionsverhalten hat es sich dabei
als zweckmäßig erwiesen, die H-förmigen Schlitzelemente gemäß Anspruch 6 in den beiden
äußeren Deckschichten jeweils fluchtend zueinander anzuordnen.
[0010] Die Erfindung wird nunmehr anhand eines Ausführungsbeispieles in Verbindung mit den
Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen in schematischer Darstellung:
- Fig. 1
- die Schlitzkonfiguration eines einzelnen, H-förmigen Schlitzelements;
- Fig. 2
- einen Ausschnitt einer frequenzselektiven Oberflächenstruktur mit einer periodischen
Anordnung von H-förmigen Schlitzelementen gemäß Fig. 1;
- Fig. 3
- einen Schnitt der Oberflächenstruktur gemäß Fig. 2 in Sandwichbauweise;
- Fig. 4
- die Transmissionskurven der Oberflächenstruktur für verschiedene Einfallwinkel.
[0011] Fig. 1 zeigt ein H-förmiges Schlitzelement 2, bestehend aus einem Verbindungsbalken
4 und zwei sich jeweils endseitig an den Verbindungsbalken 4 unter einem rechten Winkel
anschliessenden Begrenzungsbalken 6. Die Länge l des Verbindungsbalkens 4 ist gleich
groß wie die Länge h jedes Querbalkens 6 und entspricht einem Viertel der Betriebswellenlänge
λ , wobei die Begrenzungsbalken 6 etwa in der Balkenmitte, also bei h/2, an den Verbindungsbalken
4 angeschlossen sind, d.h. das Schlitzelement 2 besitzt eine orthogonalsymmetrische
Schlitzkonfiguration.
Die Schlitzbreite d des Verbindungsbalkens 4 wird nach Maßgabe der gewünschten Filterbandbreite
gewählt und beträgt im Hinblick auf ein schmalbandiges Filterverhalten etwa 1 % der
Betriebswellenlänge λ , die Breite b der Begrenzungsbalken 6 ist etwa halb so groß.
[0012] In Fig. 2 ist eine frequenzselektive Oberflächenstruktur 8 gezeigt, deren Oberfläche
aus einer dünnen metallischen Schicht besteht, deren Dicke sehr viel kleiner als die
Betriebswellenlänge λ des Filters ist. Die Oberfläche ist von einem periodisch sich
wiederholenden Muster H-förmiger Schlitzelemente 2 durchbrochen, wobei horizontal
und vertikal benachbarte Schlitzelemente 2 jeweils um 90° verdreht zueinander angeordnet
sind. Die Mittelpunktsabstände p
x in horizontaler und p
y in vertikaler Richtung sind gleich groß. Hierdurch ergeben sich gleiche Polarisationseigenschaften
in orthogonalen Richtungen.
[0013] Um die Abhängigkeit der Filtereigenschaften vom Einfallwinkel und die Transmissionsverluste
gering zu halten, muß der gegenseitige Mittelpunktsabstand und der Flächenbedarf der
Schlitzelemente 2 klein gehalten werden, ohne daß sich störende Verkoppelungseffekte
zwischen den einzelnen Schlitzelementen 2 ergeben. Dies wird mit der beschriebenen
Schlitzgeometrie dadurch erreicht, daß die Mittelpunktabstände, p
x und p
y jeweils etwa ein Drittel der Betriebswellenlänge λ betragen, d.h. auf einer quadratischen
Teilfläche der Oberflächenstruktur 8 mit der Kantenlänge λ lassen sich etwa neun Schlitzelemente
2 unterbringen und der gegenseitige Mittenabstand p der Schlitzelemente 2 ist wesentlich
kleiner als die halbe Betriebswellenlänge λ .
[0014] In Fig. 3 ist die Sandwich-Bauweise der Oberflächenstruktur 8 dargestellt. Die metallischen
Deckschichten 10, 12 sind von H-förmigen Schlitzmustern in der Fig. 2 gezeigten Anordnung
durchbrochen, wobei die Schlitzelemente 2 in der oberen und der unteren Deckschicht
10, 12 jeweils fluchtend zueinander ausgerichtet sind, und werden durch eine Zwischenschicht
14 aus einem verlustarmen Dielektrikum, dessen elektrische Schichtdicke einer viertel
Betriebswellenlänge λ entspricht, auf Abstand gehalten. Durch eine solche Sandwich-Bauweise
wird eine größere Flankensteilheit des Filters erreicht.
[0015] Fig. 4 zeigt die anhand eines Versuchsmusters gemessenen Transmissionskurven für
unterschiedliche Einfallwinkel, wobei die Kurve a einem Einfallwinkel von 0° (senkrechter
Einfall), die Kurve b einem Einfallwinkel von 20° und die Kurve c einem Einfallwinkel
von 40° entspricht. Wie ersichtlich, ändert sich die Mittenfrequenz der Oberflächenstruktur
mit zunehmendem Einfallwinkel nur geringfügig, nämlich von 10,6 GHz bei 0° auf 10,25
GHz bei 40°, und auch die 3-dB-Bandbreite ist gleichbleibend gering und beträgt im
gesamten Einfallwinkelbereich weniger als 800 MHz. Weiterhin ist ersichtlich, daß
die Transmissionsverluste im Resonanzbereich der Oberflächenstruktur unabhängig vom
Einfallwinkel nahezu bei Null liegen und daß die Oberflächenstruktur aufgrund der
hohen Flankensteilheit der Transmissionskurven eine große Trennschärfe besitzt.
1. Frequenzselektive Oberflächenstruktur zur schmalbandigen Filterung von elektromagnetischen
Wellen, mit einer total wellenreflektierenden Oberfläche, die von H-förmigen, jeweils
aus endseitigen Begrenzungsbalken und einem zu diesen querverlaufenden Verbindungsbalken
bestehenden Schlitzelementen durchbrochen ist,
dadurch gekennzeichnet, daß
die endseitigen Begrenzungsbalken (6) der Schlitzelemente (2) jeweils im wesentlichen
gleich lang wie der Verbindungsbalken (4) ausgebildet sind und eine Balkenlänge (h)
von etwa einer viertel Wellenlänge ( λ ) der zu selektierenden Wellenfrequenz besitzen.
2. Oberflächenstruktur nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
benachbarte Schlitzelemente (2) jeweils um 90° zueinander verdreht angeordnet sind.
3. Oberflächenstruktur nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
sich die Schlitzelemente (2) sowohl in horizontaler als auch in vertikaler Richtung
jeweils mit einem Mittelpunktsabstand (px, py) von etwa einer drittel Wellenlänge ( λ ) der zu selektierenden Wellenfrequenz wiederholen.
4. Oberflächenstruktur nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Verbindungsbalken (4) jeweils eine etwa doppelt so große Schlitzbreite (d) wie
die Begrenzungsbalken (6) besitzen.
5. Oberflächenstruktur nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
gekennzeichnet durch
Ausbildung als Sandwich-Bauteil mit zwei äußeren, jeweils von H-förmigen Schlitzelementen
(2) durchbrochenen Deckschichten (12) und einer zwischen diesen angeordneten Zwischenschicht
(14) aus einem verlustarmen Dielektrikum, dessen elektrische Schichtdicke einer viertel
Wellenlänge ( λ ) entspricht.
6. Oberflächenstruktur nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß
die H-förmigen Schlitzelemente (2) in den beiden äußeren Deckschichten (10, 12) jeweils
fluchtend zueinander ausgerichtet sind.