(19)
(11) EP 0 537 204 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
21.04.1993  Patentblatt  1993/16

(21) Anmeldenummer: 91911442.0

(22) Anmeldetag:  18.06.1991
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01R 31/ 3183( . )
G06F 11/ 22( . )
 G01R 31/ 3185( . )
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE1991/000503
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 1992/001255 (23.01.1992 Gazette  1992/03)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE DE FR GB IT NL

(30) Priorität: 05.07.1990 DE 19904021392

(71) Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
D-80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • FEITEN, Wendelin, Dr.
    D-8014 Neubiberg (DE)

   


(54) SCHALTUNGSANORDNUNG ZUR VERTEILUNG ON-CHIP GENERIERTER TESTMUSTER MIT MINDESTENS EINEM SCAN-PATH