(19)
(11) EP 0 597 926 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
25.05.1994  Patentblatt  1994/21

(21) Anmeldenummer: 92916321.0

(22) Anmeldetag:  03.08.1992
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01R 31/ 28( . )
G06F 11/ 22( . )
 G01R 31/ 3185( . )
G01R 31/ 30( . )
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE1992/000638
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 1993/003434 (18.02.1993 Gazette  1993/05)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT CH DE ES FR GB IT LI NL SE

(30) Priorität: 08.08.1991 DE 19914126333

(71) Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
D-80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • ZEPP, Claus-Peter
    D-80939 München (DE)

   


(54) VERFAHREN ZUR PRÜFUNG VON INTEGRIERTEN SCHALTKREISEN MIT MINDESTENS EINER LOGIKSCHALTUNG UND PRÜFBARER INTEGRIERTER SCHALTKREIS