[0001] Die Erfindung betrifft einen Infraroteindringdetektor gemäss dem Oberbegriff des
Patentanspruchs 1. Infraroteindringdetektoren sind allgemein bekannt; sie dienen zur
Erkennung von Bewegungen von Personen und Objekten innerhalb eines bestimmten Raumes,
indem die von ihnen ausgehende Infrarotstrahlung detektiert wird.
[0002] Solche Infraroteindringdetektoren enthalten einen oder mehrere Infrarot-empfindliche
Sensoren mit je zwei oder mehr pyroelektrischen Sensorelementen, welche bei Veränderung
der einfallenden Infrarot-Strahlung ein elektrisches Signal abgeben. Die Infrarot-Strahlung
von dem zu überwachenden Raum tritt durch ein Infrarot-durchlässiges Eintrittsfenster
in das Detektorgehäuse hinein und wird durch fokussierende optische Elemente auf die
Infrarot-Sensorelemente fokussiert. Diese optischen Elemente sind im allgemeinen aus
mehreren Spiegelflächen bestehende Hohlspiegel oder eine Anzahl von Fresnellinsen,
welche am Eintrittsfenster angebracht sind. In der Regel sind die Sensorelemente paarweise
differentiell geschaltet, um die thermischen Effekte von Luftströmungen, welche über
die Sensoren oder das Eintrittsfenster streichen, zu kompensieren.
[0003] Um die von warmen Körpern ausgehende Infrarot-Strahlung von der Strahlung anderer
optischer Wellenlängenbereiche zu unterscheiden, also von Störlicht (wie zum Beispiel
das Licht von Autoscheinwerfern), und so Fehlalarme des Detektors zu verhindern, sind
Infraroteindringdetektoren mit verschiedenen optischen Filtern versehen. Die Unempfindlichkeit
eines Infraroteindringdetektors auf Störlicht wird ausserdem von amtlichen Prüfbehörden
wie zum Beispiel dem Verein der Sachversicherer in der Bundesrepublik Deutschland
geprüft.
[0004] In US 3,703,718 ist ein solcher Infraroteindringdetektor beschrieben, bei dem zwischen
dem fokussierenden Spiegel und dem Infrarot-Sensor ein Filter angeordnet ist, welcher
die Strahlung im Bereich des Nutzbandes von 4.5 bis 20 Mikrometer, also die typische
Körperstrahlung von Lebewesen, durchlässt. Es ist in einem solchen System jedoch möglich,
dass das optische Filter sich durch die absorbierte Strahlung erwärmt und Sekundärstrahlung
im Bereich des Nutzbandes emittiert. Diese Sekundärstrahlung kann auf den Sensor fallen
und einen Fehlalarm auslösen.
[0005] In US 5,055,685 ist ein Infraroteindringdetektor erwähnt, bei welchem die Sekundärstrahlung,
welche vom bestrahlten optischen Filter ausgeht, vermindert Fehlalarm auslöst. Hierzu
wird das optische Infrarot-Filter über den Infrarot-Sensorelementen so angeordnet,
dass zwischen dem Filter und den Sensorelementen ein genügend grosser Abstand besteht.
Dies bezweckt, dass die Sekundärstrahlung, welche von dem Infrarot-Filter ausgeht,
mit nahezu gleicher Intensität auf die beiden Infrarot-Sensorelemente fällt. Das resultierende
Differenzsignal ist für diese Anordnung sodann nahezu null.
[0006] In CH 680,687 ist eine weitere Methode beschrieben, welche Fehlalarme durch Störlicht
weiter vermeidet. Hier ist ein Eintrittsfenster eines Infraroteindringdetektors erwähnt,
welches zugleich als Infrarot-Filter dient. Dieses Infrarot-Filter besteht aus einer
Polyethylenfolie, in welchem Zinksulfid-Partikel mit einer Partikelgrösse von 0.5
bis 50 Mikrometer gleichmässig verteilt sind. Dieses Filter hat eine hohe optische
Durchlässigkeit im Wellenlängenbereich von 4 bis 15 Mikrometern. Das Störlicht im
sichtbaren und nahen Infrarot-Bereich wird an den Zinksulfidpartikeln gestreut, so
dass es nur in geringer Intensität auf die Infrarot-Sensorelemente fällt. Es ist jedoch
auch bei diesen Infraroteindringdetektoren möglich, dass durch Sekundärstrahlung,
welche von Filtern oder Schutzfenstern am Sensorgehäuse ausgeht, oder auch durch Wärmeleitung
vom Sensorgehäuse auf die Sensorelemente Fehlalarme ausgelöst werden.
[0007] Angesichts der im Laufe der Zeit erhöhten Anforderungen der Prüfbehörden an Infraroteindringdetektoren
sind Optimierungen der Fehlalarmsicherheit und Störlichtfestigkeit der Detektoren
durch weitere Verminderungen des Störlichts erforderlich.
[0008] Die Erfindung setzt sich die Aufgabe, die obengenannten Nachteile bei Infraroteindringdetektoren
zu vermeiden und einen Detektor zu schaffen, welcher eine erhöhte Fehlalarmsicherheit
durch eine optimiert Störlichtfestigkeit verfügt. Insbesondere soll die Intensität
der Strahlung im Nutzband (6-15 Mikrometer Wellenlänge), welche auf die Infrarot-Sensorelemente
fällt, in vergrössertem Verhältnis zu der Intensität des auf die Sensorelemente fallenden
Störlichts sein. Weiter sollen die durch Sekundärstrahlung sowie durch Wärmeleitung
verursachten Fehlsignale vermindert werden.
[0009] Erfindungsgemäss wird diese Aufgabe bei einem Infraroteindringdetektor durch die
kennzeichnenden Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst.
[0010] Der erfindungsgemässe Infraroteindringdetektor besitzt zur Ausfilterung des Störlichts
ein am Detektorgehäuse angebrachtes Eintrittsfenster, welches das Störlicht vermindert
durchlässt, sowie ein optisches Transmissionsfilter, welches am Sensorgehäuse angebracht
ist. Die spektrale Transmission eines Eintrittsfensters und eines optischen Transmissionsfilters
sind in Fig. 1 gezeigt und sind mit (E) beziehungsweise (OT) gekennzeichnet. Im weiteren
verfügt der Infraroteindringdetektor über Spiegelflächen, welche die Strahlung im
Nutzband auf die Sensorelemente fokussieren, zugleich aber auch als Diffusoren (Streuer)
im Bereich des Störlichts dienen. Diese Streuung bewirkt eine Verminderung der Intensität
des Störlichts, welches auf das Filter und das Sensorgehäuse fällt, und somit auch
eine Verminderung der von ihnen ausgehenden Wärmeleitung und Sekundärstrahlung.
[0011] Die Oberfläche der fokussierenden Spiegelflächen weist eine Rauhigkeit auf deren
Strukturgrössen derart verteilt sind, dass sie eine Infrarrotselektivität bewirkt.
Die Infrarotstrahlung wird im Wellenlängenbereich von 6 bis 15 Mikrometern gemäss
der geometrisch optischen Funktion des Spiegels spekulär reflektiert, respektive fokussiert;
die Strahlung im sichtbaren und nahen Infrarotbereich bis 3 Mikrometer, also das Störlicht,
wird dagegen diffus gestreut. Eine typische spekuläre Reflexion einer Spiegelfläche
mit rauher Oberfläche ist am Beispiel einer ELAMET-Schicht der Gesellschaft für Oberflächentechnik
mbH in Abhängigkeit der Wellenlänge der einfallenden Strahlung in, mit SR gekennzeichnet,
Fig. 1 dargestellt.
[0012] Das an den rauhen Spiegelfächen diffus gestreute Störlicht trifft in geringer Intensität
auf das optische Transmissionsfilter, so dass die von der Absorption des Störlichts
resultierende Sekundärstrahlung stark vermindert ist. Wird trotzdem etwas Sekundärstrahlung
emittiert, trifft diese mit gleichmässiger Intensitätsverteilung auf die Sensorelemente,
da das Störlicht auch mit gleichmässiger Intensitätsverteilung auf das Filter trifft.
Das resultierende Differenzsignal der beiden Sensorelemente ist dann nahezu gleich
Null. Andererseits ist die Erwärmung der Sensorelemente durch Wärmeleitung vom Sensorgehäuse
ebenfalls gleichmässig, so dass die durch die Erwärmung verursachten Signale auf beiden
Sensorelementen gleichwertig und diese durch die Differentialschaltung der Sensorelemente
auskompensiert werden.
[0013] Die Oberflächenstruktur des fokussierenden Spiegels ist vorzugsweise derart, dass
die spekuläre Reflektivität bei Wellenlängen unter 3 Mikrometern deutlich weniger
als 50% beträgt und bei Wellenlängen zwischen 6 und 15 Mikrometern mehr als 80% beträgt.
Die bevorzugten Spiegelmaterialien sind auf Kunststoff aufgetragene Schichten aus
Aluminium, Nickel oder Chrom.
[0014] Eine zufällige Oberflächenstruktur kann durch verschiedene Methoden hergestellt werden.
Eine Methode ist die Behandlung von Spritzgusswerkzeugen durch Ätzung, bei welcher
die Stahlmatrix ca. ein Mikrometer abgeätzt wird. Die bei Stahlherstellung vorhandenen
Carbid-Partikel von ca. einem Mikrometer Durchmesser bleiben jedoch zurück und bilden
die gewünschte Oberflächenstruktur.
[0015] In einer anderen Methode wird ein glatter Spiegel aus Kunststoff, im allgemeinen
ABS (Acrylnitril-Butadien-Styrol-Mischpolymerisat), geeignet lange geätzt. Die resultierende
rauhe strukturierte Oberfläche wird anschliessend galvanisch oder durch Bedampfung
mit einer Metallschicht überzogen. Im Fall der Bedampfung wird die geätzte Oberfläche
genau repliziert, im Fall von galvanischer Auftragung wird die Oberflächenstruktur
leicht wieder ausgeebnet.
[0016] Eine weitere Methode zur Herstellung von zufällig strukturierten Oberflächen ist
die Perlglanzverchromung nach Standard-Prozess.
[0017] Schliesslich ist die Herstellung auch durch eine Bedampfung mit Aluminium bei schneller
Bedampfungsrate möglich, wie sie von der Gesellschaft für Oberflächentechnik mbH praktiziert
wird. Wachst die Aluminiumschicht auf über ein Mikrometer so bilden sich auf der Oberfläche
Dendriten. Die resultierend Oberflächenstruktur weist die gewünschte spektrale Eigenschaft
auf.
[0018] Eine weitere Ausführungsform besteht aus einem Spiegel, welcher anstelle einer zufällig
rauhen Oberflächenstruktur ein regelmässige Struktur besitzt. Hier wird auf einem
für den Spritzvorgang bestimmten Werkzeugeinsatz nach photolithographischer Methode
und einem Laserstrahlschreibverfahren eine regelmässige Struktur geschaffen. Diese
Struktur wird sodann mit Nickel oder Chrom bedampft. Im Spritzgusswerkzeug eingesetzt
wird die regelmässige Struktur im Spritzgussvorgang repliziert.
1. Infraroteindringdetektor bestehend aus einem strahlungsundurchlässigen Gehäuse mit
einem infrarotstrahlungsdurchlässigen Eintrittsfenster und mit mindestens einem im
Gehäuse angeordneten Infrarotsensor mit mindestens zwei strahlungsempfindlichen pyroelektrischen
Sensorelementen, über welchen ein infrarotstrahlungsdurchässiges optisches Filter
angeordnet ist und auf welche die aus dem zu Überwachenden Raum ausgehende Strahlung
durch mehrere Spiegelflächen auf die Sensorelemente fokussiert wird, dadurch gekennzeichnet,
dass die fokussierenden Spiegelflächen eine Oberflächenrauhigkeit derart aufweisen,
dass die Strahlung im Wellenlängenbereich von 6 bis 15 Mikrometern durch die Spiegelflächen
auf die Infrarot-sensorelemente fokussiert wird und die Strahlung mit Wellenlängen
unter 3 Mikrometern durch die Spiegelflächen diffus gestreut wird.
2. Infraroteindringdetektor nach Patentanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die fokussierenden
Spiegelflächen eine Oberflächenrauhigkeit derart aufweisen, dass die spekuläre Reflexion
im Wellenlängenbereich von 6 bis 15 Mikrometern mehr als 50% und im Wellenlängenbereich
von 0.4 bis 3 Mikrometern weniger als 90% beträgt.
3. Infraroteindringdetektor gemäss den Patentansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet,
dass das Verhältnis des spekulären Reflexionskoeffizienten im Wellenlängenbereich
von 6 bis 15 Mikrometern zum spekulären Reflexionskoeffizienten im Wel lenlängenbereich
von 0.4 bis 3 Mikrometern grösser als 1.1 ist.
4. Infraroteindringdetektor gemäss den Patentansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet,
dass die fokussierenden Spiegelflächen eine regelmässige Oberflächenstruktur aufweisen.
5. Infraroteindringdetektor gemäss einem der Patentansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet,
dass die regelmässige Oberflächenstruktur durch ein direktes Laserstrahlschreibverfahren
auf einem für die Spiegelherstellung bestimmten Spritzgusswerkzeug hergestellt worden
ist.
6. Infraroteindringdetektor gemäss einem der Patentansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet,
dass die Spiegelflächen aus Aluminium, Nickel oder Chrom bestehen.
7. Infraroteindringdetektor gemäss Patentanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das
strahlungsdurchlässige Eintrittsfenster auf mindestens einer seiner Oberflächen eine
Oberflächenrauhigkeit derart aufweist, dass die Strahlung im Wellenlängenbereich von
6 bis 15 Mikrometern ungehindert durchgelasssen wird und die Strahlung im Wellenlängenbereich
von 0.4 bis 3 Mikrometern an der rauhen Oberfläche diffus gestreut wird.