(57) Die Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung für runde Scheiben (4,11,13), zum Beispiel
Münzen, bei der die Scheiben (4,11,13) auf einer sie abstützenden Führung (15,23,41)
an mindestens einer Lehre entlang laufen. Die bisher bekannten Prüfvorrichtungen haben aufgrund ihrer Konstruktion nur einen
begrenzten Durchsatz. Außerdem sind sie von der Fertigung her recht teuer. Die Erfindung umgeht diese Nachteile, indem die runden Scheiben (4,11,13) auf eine
geneigte Rutschebene (6) gegeben werden, die sie hinabrutschen und über die mindestens
eine gegenüber der Waagerechten geneigte Auffangschiene (7,10) verläuft, die die Scheiben
(4,11,13) auffängt und zur Seite hin ableitet. Danach werden die Scheiben (4,11,13)
einer optoelektronischen Vorrichtung zur Durchmesser- und/oder Dickenmessung zugeführt. Diese Kombination ermöglicht erheblich höhere Durchsätze als bei den bisher bekannten
Prüfvorrichtungen.
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