[0001] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Plasmabehandlung von Werkstücken mittels
Ionen und Elektronen, insbesondere vor der Plasmabeschichtung unter Vakuum nach dem
PVD-Verfahren, wobei durch abwechselnden Beschuß mit Ionen und Elektronen die Werkstücke
gereinigt bzw. aufgeheizt werden.
[0002] Ein Verfahren, das die zwei nacheinander erfolgenden Prozeßschritte Heizung der Substrate
mittels der Plasmaelektronen und Ionenreinigung der zur Beschichtung vorgesehenen
Werkstücke (der sogenannten "Substrate") zum Inhalt hat, ist beispielsweise aus der
EP-PS 0 484 704 bekannt. In der Heizphase sind bei diesem bekannten Verfahren die
Substrate als Anode der Plasmaquelle geschaltet, wodurch die Plasmaelektronen angezogen
werden. Es kann somit keine getrennte Regelung der Parameter der Plasmaerzeugung und
der Parameter der Elektronenheizung vorgenommen werden. Darüber hinaus wirkt sich
bei dem bekannten Verfahren die strenge Trennung von Substratheizung und Ionenreinigung
ungünstig auf die Prozeßzeit aus. Zwar erfolgt während des Ionenreinigens auch ein
gewisser Energieeintrag durch die Energie der auftreffenden Ionen, jedoch ist diese
Energie in der Regel zur Erwärmung der Substrate nicht ausreichend, sondern wird erst
nach der Elektronenheizung zum "Halten" der Temperatur der Substrate (meist im Bereich
von 200°C bis 500°C) während der Ionenreinigungsphase ausgenutzt.
[0003] Eine zeitlich schnell wechselnde Umschaltung der Prozeßschritte Elektronenheizung
und der Ionenreinigung ist bei dem bekannten Verfahren nicht möglich, da die Substrate
einmal mit einer eigenen Substratstromquelle negativer Spannung zum Zwecke der Ionenreinigung
verbunden werden und ein anderes Mal als Anode der Plasmaquelle zum Zwecke der Elektronenheizung
geschaltet werden. Eine schnelle Umpolung hätte Instabilitäten in der Plasmaerzeugung
und somit eine schlecht kontrollierbare Prozeßführung zur Folge.
[0004] Davon ausgehend liegt der Erfindung die
Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Plasmabehandlung von Werkstücken mittels Ionen und Elektronen
zu schaffen, dessen Prozeßführung in der Ionenreinigungs- und Aufheizphase der Werkstücke
einfach und individuell genau steuerbar sowie energiesparend ist.
[0005] Die
Lösung der Aufgabenstellung ist dadurch gekennzeichnet, daß der Ionen- und Elektronenbeschuß
durch jeweils eine eigene, voneinander und vom Behandlungsverfahren unabhängige, den
jeweiligen Bedingungen angepaßte Gleichstromquelle hervorgerufen wird, die abwechselnd
mittels eines einstellbaren Pulsgerätes über ihren negativen bzw. positiven Pol mit
dem Werkstückträger verbunden werden.
[0006] Die Verwendung zweier unabhängiger und nur für die Ionenreinigung bzw. Elektronenerwärmung
ausgelegter Stromquellen hat den Vorteil, daß die Reinigungs- und Aufheizzeiten optimiert
werden können und darüber hinaus eine stabile Prozeßführung möglich ist, da die Stromquellen
nicht gleichzeitig zur Erzeugung des Plasmas verwendet werden.
[0007] Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens wird zur
Ionenreinigung der Werkstücke eine Hochspannungs-Gleichstromquelle mit einer Spannung
von bis zu 1000 V und einer Stromstärke von bis zu 10 A verwendet. Zum Aufheizen der
Werkstücke hingegen wird eine Hochstrom-Gleichstromquelle mit einer Stromstärke von
bis zu 100 A und einer Spannung von bis zu 40 V verwendet.
[0008] Mit der unterschiedlichen Auslegung der Gleichstromquellen für die Ionenreinigung
und die Elektronenaufheizung, nämlich einmal als Hochspannungsquelle und einmal als
Hochstrom- bzw. Niederspannungsquelle, wird dem Umstand Rechnung getragen, daß beispielsweise
zur Ionenreinigung ein Ionenstrom von nur wenigen Ampere bei einer hohen Spannung
von bis zu 1000 V ausreichend ist, wohingegen zur Erzeugung einer ausreichenden Elektronenstromdichte
zur Elektronenheizung eine Stromstärke von bis zu einigen 100 A bei einer nur geringen
Spannung notwendig ist.
[0009] Zur Erreichung einer optimalen und energiesparenden Prozeßführung wird ein Pulsgerät
verwendet, dessen einstellbare Schaltfrequenz bis zu 300 kHz beträgt. Das Verhältnis
der Einschaltzeiten zwischen der Aufheizphase und der Ionenreinigungsphase kann dabei
zwischen 0,1 und 0,9 liegen.
[0010] Als Pulsgerät mit der notwendig hohen Umschaltfrequenz wird vorteilhafterweise ein
Halbleiter-Leistungs-Umschalter verwendet.
[0011] Weitere Einzelheiten und Vorteile ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung
der zugehörigen Zeichnungen, in denen ein schematischer Anlagenaufbau sowie zwei Diagramme
dargestellt sind. In den Zeichnungen zeigen:
- Fig. 1
- ein Spannungs-Strom-Kennliniendiagramm;
- Fig. 2
- eine schematische Darstellung einer Plasmabeschichtungsanlage und
- Fig. 3
- ein Spannungs-Strom-Zeit-Diagramm.
[0012] Wie aus dem in Fig. 1 dargestellten Spannungs-Strom-Kennliniendiagramm ersichtlich,
sind für die Erzeugung ausreichender Elektronenstrom- bzw. Ionenstromdichten jeweils
andere Stromstärken und Spannungen notwendig. So bedarf es beispielsweise für einen
Elektronenstrom bei einer positiven Vorspannung von ca. 15 V einer Stromstärke von
etwa 5 A, wohingegen für einen Ionenstrom bei einer negativen Vorspannung von 200
V nur ca. 0,2 A benötigt werden.
[0013] Um diesem unterschiedlichen Strom- bzw. Spannungsbedarf für den Ionen-und Elektronenfluß
Rechnung zu tragen werden jeweils voneinander unabhängige, den jeweiligen Bedingungen
angepaßte Gleichstromquellen verwendet, so daß eine optimal angepaßte und energiesparende
Prozeßführung möglich wird. Diese Optimierung des Prozeßablaufes setzt jedoch voraus,
daß die verwendeten unabhängigen und individuell ausgelegten Gleichstromquellen zusätzlich
unabhängig von der Plasmaquelle betrieben werden.
[0014] In Fig. 2 ist schematisch der Aufbau für eine Plasmabeschichtungsanlage dargestellt.
Eine Plasmabeschichtungsanlage besteht aus einer Kammer 1, die mit Hilfe einer (nicht
dargestellten) Pumpe evakuiert werden kann. In der Kammer 1 sind die zu behandelnden
und zu beschichtenden Werkstücke 2 auf einem Werkstückträger 3 angeordnet.
[0015] Das für das Beschichtungsverfahren notwendige Plasma wird von einer ebenfalls in
der Kammer 1 angeordneten Plasmaquelle (beispielsweise durch kathodische Vakuumbogenverdampfung)
erzeugt.
[0016] Vor der Einleitung der eigentlichen Beschichtungsphase ist jedoch eine Reinigung
der Oberflächen der Werkstücke 2, z. B. von Oxidhäuten, die sich an der Luft gebildet
haben, sowie ein Aufheizen der Werkstücke 2 auf die Prozeßtemperatur von 200°C bis
500°C erforderlich. Zur Erzeugung des für die Reinigung und die Aufheizung der Oberflächen
der Werkstücke 2 erforderlichen Ionen- und Elektronenbeschusses sind außerhalb der
Kammer 1 eine Hochspannungs-Gleichstromquelle 4 sowie eine Hochstrom-Gleichstromquelle
5 angeordnet, die über ein zwischengeschaltetes Pulsgerät 6 mit dem Werkstückträger
3 verbunden sind. Das Pulsgerät 6 dient dabei der Optimierung der Prozeßbedingungen,
da insbesondere zur Verringerung der Aufheizzeit eine abwechselnde Schaltung zwischen
Ionenbeschuß und Elektronenbeschuß der Werkstücke 2 erforderlich ist.
[0017] Das Verfahren zur Plasmabehandlung von Werkstücken 2 mittels Ionen und Elektronen
läuft wie folgt ab:
[0018] Das für den Beschichtungsprozeß notwendige Plasma wird von einer nicht dargestellten
Plasmaquelle, beispielsweise mittels kathodischer Vakuumbogenverdampfung, hergestellt,
wobei die zur Erzeugung des Plasmas notwendigen Verdampferkathoden über separate,
ebenfalls nicht dargestellte Gleichstromquellen versorgt werden.
[0019] Die Werkstücke 2 werden vor der eigentlichen Plasmabeschichtung einer Vorbehandlung
unterzogen, nämlich einer Reinigung der Oberflächen der Werkstücke sowie der Aufheizung
auf die notwendige Beschichtungsprozeßtemperatur. Die Reinigung der Oberflächen der
Werkstücke 2 erfolgt durch Beschuß der Werkstücke 2 mit aus dem Plasma gebildeten
Ionen. Hierzu wird die Hochspannungs-Gleichstromquelle 4 über das Pulsgerät 6 mit
ihrem negativen Pol mit dem Werkstückträger 3 verbunden. Infolge der bis zu 1000 V
betragenden, von der Hochspannungs-Gleichstromquelle 4 erzeugten Spannung werden aufgrund
der hohen Potentialdifferenz zwischen der Verdampferkathode der Plasmaquelle und dem
mit dem negativen Pol der Hochspannungs-Gleichstromquelle 4 verbundenen Werkstückträger
3 die in dem Plasma gebildeten Ionen auf die auf dem Werkstückträger 3 angeordneten
Werkstück 2 hin beschleunigt. Dieser Beschuß der Oberflächen der Werkstücke 2 mit
den beschleunigten Ionen bewirkt ein Abtragen von Verunreinigungen, wie beispielsweise
Oxidhäuten, die sich an der Luft gebildet haben. Darüber hinaus bewirkt der Ionenbeschuß
bereits eine Erwärmung der Oberfläche. Der Ionenbeschuß der Werkstücke 2 darf aber
auch nicht beliebig verlängert werden, da dies zu einer Schädigung der Oberflächen
der Werkstücke 2 führen könnte. Somit ist es erforderlich, daß die Werkstücke 2 auf
eine andere Weise aufgeheizt werden. Hierzu wird nun nach dem Abstellen der Hochspannungs-Gleichstromquelle
4 die Hochstrom-Gleichstromquelle 5 über ihren positiven Pol mit dem Werkstückträger
3 verbunden. Die eine Stromstärke von bis zu 100 A liefernde Hochstrom-Gleichstromquelle
5 bewirkt eine hohe Potentialdifferenz zwischen dem jetzt positiv gepolten Werkstückträger
3 und dem durch die Plasmaquelle erzeugten Plasma.
[0020] Aufgrund dieser Potentialdifferenz werden die in dem Plasma gebildeten Elektronen
auf die auf dem Werkstückträger 3 angeordneten Werkstücke 2 hin beschleunigt. Die
im Vergleich zu den Ionen geringere Masse der Elektronen bewirkt eine hohe Beschleunigung
der Elektronen und somit eine hohe kinetische Energie der auf die Werkstücke 2 auftreffenden
Elektronen, wodurch die Werkstücke 2 bei dem Elektronenbeschuß aufgeheizt werden.
[0021] Zur Optimierung der Prozeßbedingungen des voran geschilderten Verfahrens ist es notwendig,
daß das abwechselnde Umschalten zwischen Ionenreinigung und Elektronenaufheizung innerhalb
kürzester Zeit erfolgen kann. Zu diesem Zweck ist zwischen die Hochspannung-Gleichstromquelle
4 und die Hochstrom-Gleichstromquelle 5 das Pulsgerät 6 geschaltet, dessen Schaltfreqenz
auf bis zu 300 kHz eingestellt werden kann.
[0022] In Fig. 3 ist schematisch der zeitliche Spannungs- und Stromverlauf dargestellt,
wie er sich infolge der abwechselnden Schaltung durch das Pulsgerät 6 ergibt. Durch
die Verwendung eines Halbleiter-Leistungs-Umschalters als Pulsgerät 6 ist es möglich,
daß das Umschalten zwischen der Ionenreinigungs- und Elektronenaufheizungsphase nahezu
totzeitfrei erfolgen kann. Aufgrund der hohen Schaltfrequenz des Pulsgerätes 6 und
infolge der individuellen Auslegung der Hochspannungs-Gleichstromquelle 4 und der
Hochstrom-Gleichstromquelle 5 kann mit dem voranstehend geschilderten Verfahren die
Prozeßführung optimiert und energiesparend betrieben werden.
Bezugszeichenliste
[0023]
- 1
- Kammer
- 2
- Werkstück
- 3
- Werkstückträger
- 4
- Hochspannungs-Gleichstromquelle
- 5
- Hochstrom-Gleichstromquelle
- 6
- Pulsgerät
1. Verfahren zur Plasmabehandlung von Werkstücken mittels Ionen und Elektronen, insbesondere
vor der Plasmabeschichtung unter Vakuum nach dem PVD-Verfahren, wobei durch abwechselnden
Beschuß mit Ionen und Elektronen die Werkstücke (2) gereinigt bzw. aufgeheizt werden,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Ionen- und Elektronenbeschuß durch jeweils eine eigene, voneinander und vom
Beschichtungsverfahren unabhängige, den jeweiligen Bedingungen angepaßte Gleichstromquelle
(4, 5) hervorgerufen wird, die abwechselnd mittels eines einstellbaren Pulsgerätes
(6) mit ihrem negativen bzw. positiven Pol mit einem Werkstückträger (3) verbunden
werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Ionenreinigung der Werkstücke
(2) eine Hochspannungs-Gleichstromquelle (4) mit einer Spannung von bis zu 1000 V
und einer Stromstärke von bis zu 40 A, vorzugsweise 10 A, verwendet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zum Aufheizen der Werkstücke
(2) eine Hochstrom-Gleichstromquelle (5) mit einer Stromstärke von bis zu 300 A, vorzugsweise
100 A, und einer Spannung von bis zu 100 V, vorzugsweise 40 V, verwendet wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein Pulsgerät
mit einer Schaltfrequenz von bis zu 300 kHz, vorzugsweise 50 kHz, verwendet wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis
der Einschaltzeiten der Aufheizphase zu den Einschaltzeiten der Ionenreinigungsphase
zwischen 0,1 und 0,9 liegt.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß als Pulsgerät
(6) ein Halbleiter-Leistungs-Umschalter verwendet wird.