(19)
(11) EP 0 763 215 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
19.03.1997  Patentblatt  1997/12

(21) Anmeldenummer: 96911945.0

(22) Anmeldetag:  26.03.1996
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01Q 60/ 18( . )
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP1996/001322
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 1996/030797 (03.10.1996 Gazette  1996/44)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
CH DE FR GB LI

(30) Priorität: 30.03.1995 DE 19951011612
26.08.1995 DE 19951031465

(71) Anmelder: CARL ZEISS JENA GmbH
07745 Jena (DE)

(72) Erfinder:
  • WEIHNACHT, Manfred
    D-01744 Paulsdorf (DE)
  • BARTZKE, Karlheinz
    D-07747 Jena (DE)
  • MARTIN, Günter
    D-01307 Dresden (DE)
  • RICHTER, Wolfgang
    D-99425 Weimar (DE)

(74) Vertreter: Geyer, Werner, et al 
Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner, Perhamerstrasse 31
80687 München
80687 München (DE)

   


(54) MIKROOPTISCHE SONDE FÜR RASTERMIKROSKOPE