[0001] Vorliegende Erfindung betrifft eine strukturierte Oberfläche, enthaltend eine Trägerschicht
und mit dieser elektrisch leitend verbundene spitzenförmige Elemente. Die Erfindung
betrifft weiter die Verwendung dieser strukturierten Oberfläche, sowie ein Verfahren
zu dessen Herstellung.
[0002] Jedes Bauelement der Vakuumelektronik, wie beispielsweise eine Bildschirmröhre, benötigt
eine Kathode zur Emission von Elektronen ins Vakuum. Bislang werden zu diesem Zweck
überwiegend thermische Kathoden eingesetzt, welche auf Temperaturen von beispielsweise
1000 °C und höher aufgeheizt werden, so dass die Elektronen an der Kathodenoberfläche
so viel thermische Energie erhalten, dass sie die Potentialbarriere an der Kathodenoberfläche
überwinden können. Die Oberflächen von thermischen Kathoden werden dahingehend gewählt,
dass zur Erreichung einer hohen Elektronenemission die Austrittsarbeit der Elektronen
durch Wahl entsprechender Oberflächenschichten möglichst tief wird.
[0003] Eine weitere Möglichkeit zur Herstellung von elektronenemittierenden Kathodenoberflächen
besteht im Anlegen hoher elektrischer Feldstärken an eine kalte, d.h. nicht speziell
aufgeheizte, Kathode. Solche kalt-elektronenemittierende Kathodenoberflächen werden
als Feldemissionsoberflächen bezeichnet. Zur Erreichung nennenswerter Feldemissionsströme
sind sehr hohe elektrische Feldstärken an der Kathodenoberfläche notwendig. Um die
an die Kathode angelegte Betriebsspannung auf einem möglichst tiefen Niveau zu halten
und trotzdem lokal hohe elektrische Feldstärken zu erreichen, werden die Kathodenoberflächen
zweckmässigerweise mit feinstrukturierten Spitzen versehen. Solche Feldemissionsoberflächen
werden beispielsweise für Feldemissionsbildschirme (FED oder field emission display)
verwendet.
[0004] Die heute beispielsweise in Laptop-Computern oder tragbaren Fernsehgeräten eingesetzten
Flachbildschirme arbeiten üblicherweise als Flüssigkristallbildschirme (LCD oder liquid
cristal display). Solche LCD-Bildschirme lassen jedoch bei rasch bewegten Bildern
nur eine geringe Schaltgeschwindigkeit zu und die Farbwiedergabe erfüllt im allgemeinen
nicht die bei konventionellen Röhrenbildschirmen geforderte hohe Qualität.
[0005] Die Technik der Feldemissionsbildschirme (FED oder field emission display) überwindet
die bei LCD-Bildschirmen auftretenden Nachteile.
[0006] FED-Bildschirme bestehen üblicherweise aus einem konventionellen, aber nicht gewölbten
Phosphorbildschirm mit Maske. In einem Abstand von beispielsweise 0.2 mm ist eine
plattenförmige Kathode angeordnet, die eine Matrize von feinen und scharfen Spitzen
trägt. Diese Spitzen können gruppenweise mit Hochspannung versehen bzw. adressiert
werden, wodurch sie auf Grund des Feldeffekts Elektronen emittieren, welche dann beschleunigt
werden und so den gegenüberliegenden Leuchtstoffpunkt auf dem Phosphorbildschirm aktivieren.
[0007] Ein Bildelement eines FED-Bildschirmes besteht zweckmässigerweise aus drei Punkten,
die mit rot, grün oder blau emittierendem Leuchtstoff versehen sind. Jedem dieser
Punkte sind auf der Kathodenseite etwa tausend Mikrospitzen zugeordnet, die zusammen
eine derart hohe Ausbeute von Feldeffekt-Elektronen liefern, dass der FED-Bildschirm
im Vergleich zu herkömmlichen Röhren-Bildschirmen bei gleicher Helligkeit einen wesentlich
kleineren Stromverbrauch zeigt.
[0008] Gegenüber den LCD-Bildschirmen bietet der FED-Bildschirm den Vorteil einer trägheitslosen
Ansteuerung jedes Bildpunktes. Zudem ist die Bildqualität vom Betrachtungswinkel unabhängig.
[0009] Ein bekanntes Verfahren zur Herstellung kalt-emittierender Kathodenoberflächen besteht
in der Mikrostrukturierung der Kathodenoberfläche durch Anwendung photolithographischer
Techniken, wie sie beispielsweise zur Herstellung von Halbleiterbauelementen seit
langem bekannt sind. Dabei wird in einem ersten Verfahrensschritt mittels Photolithographie
eine Photolackmaske mit einem Feld von rechteckigen oder kreisförmigen Öffnungen auf
der Kathodenoberfläche erzeugt. In einem zweiten Schritt wird das nicht durch die
Masken geschützte Substrat geätzt, so dass nach dem Ablösen der stehengebliebenen
Photolackmaske pyramiden- oder kegelförmige Emitterspitzen entstehen.
[0010] Eine weitere Möglichkeit zur Herstellung von Feldemissionsoberflächen besteht im
anisotropen Aetzen eines kristallinen Materials, wie beispielsweise Si, wobei feine
Spitzen entstehen, die beispielsweise mit einem Elektronen-emittierenden Material
beschichtet werden. Im weiteren können auch Halbleiteroberflächen, wie Si, mittels
photolithographischer Methoden strukturiert und beispielsweise nachfolgend mit einem
Elektronen-emittierenden Material beschichtet werden.
[0011] Die US 459 17 17 beschreibt einen photoelektrischen Detektor auf der Basis einer
Feldemissionsoberfläche, enthaltend eine lichtempfindliche Schicht mit einer Vielzahl
von Spitzen aus elektrisch leitendem Material. Die Herstellung der Spitzen geschieht
dabei durch anodische Oxidation einer Substratoberfläche, wobei zur Substratoberfläche
vertikal liegende Poren geschaffen werden, in die Metall in der Weise abgeschieden
wird, dass Metallspitzen entstehen, welche die Oxidschicht überragen.
[0012] Die EP 0 351 110 beschreibt ein Verfahren zur Herstellung von Kaltkathoden-Emitteroberflächen,
wonach eine Aluminiumoxidoberfläche mit einer Vielzahl von länglichen, im wesentlichen
orthogonal zur Hauptoberfläche der Aluminiumoxidschicht liegenden Poren versehen wird,
die Poren mit einem Elektronen-emittierenden Material gefüllt werden, wenigstens ein
Teil dieser Aluminiumoxidschicht entfernt wird, wobei eine Oberfläche mit freigelegten
Elektronen-emittierenden Spitzen ensteht und die Spitzen gegeneinander geneigt sind.
[0013] Die aus dem Stand der Technik bekannten Feldemissionsoberflächen, die durch Bildung
einer Poren enthaltenden Oberflächenschicht, der Deposition von Elektronen-emittierendem
Material auf die Oberflächenschicht und in die Porenkavitäten, und dem abschliessenden
Entfernen der die Poren enthaltenden Schicht hergestellt werden, weisen immer maximal
so viele Elektronen-emittierende Spitzen auf wie zu deren Herstellung Poren in der
Oberflächenschicht vorhanden waren.
[0014] Aufgabe vorliegender Erfindung ist es eine kostengünstig herzustellende Feldemissionsoberfläche
zu schaffen, die gegenüber den aus dem Stand der Technik bekannten Feldemissionsoberflächen
eine höhere Zahl von Elektronen-emittierenden Spitzen pro Flächeneinheit aufweist.
[0015] Erfindungsgemäss wird diese Aufgabe dadurch gelöst, dass jedes spitzenförmige Element
einen an die Trägerschicht anliegenden, zylinder- oder kegelstumpfförmigen Stammbereich
und wenigstens zwei, vorzugsweise 2 bis 4, an das freie Ende des Stammbereiches angeformte,
endständige Spitzen aufweist
[0016] Die Trägerschicht-Oberfläche der strukturierten Oberfläche kann eine ebene oder gekrümmte
Fläche, beispielsweise eine Ebene, die Oberfläche eines Ellipsoids, speziell einer
Kugel, eines ein- oder zweischaligen Hyperboloids, eines Paraboloids oder eines elliptischen,
hyperbolischen oder parabolischen Zylinders darstellen.
[0017] Zweckmässigerweise ist der zwischen den spitzenförmigen Elementen liegende Teil der
Trägerschicht im wesentlichen eben, wodurch eine gut definierte Oberflächenstruktur
mit sich deutlich davon abhebenden spitzenförmigen Elementen gebildet wird.
[0018] In einer bevorzugten Ausführungsform sind die spitzenförmigen Elemente der erfindungsgemäss
strukturierten Oberfläche gleichmässig über die Trägerschicht verteilt
[0019] Die spitzenförmigen Elemente der strukturierten Oberfläche weisen bevorzugt wenigstens
in einem von der Trägerschicht abragenden Teil einen orthogonal zur Trägerschicht
liegenden Stammbereich auf. Besonders bevorzugt werden spitzenförmige Elemente, deren
ganzer Stammbereich orthogonal zur Trägerschicht-Oberfläche liegt. Ganz besonders
bevorzugt sind spitzenförmige Elemente mit orthogonal zur Trägerschicht-Oberfläche
liegendem Stammbereich, deren endständige Spitzen dergestalt sind, dass ihre Längsachsen
mit der durch ihre freien Enden führenden Flächennormalen der Trägerschicht einen
spitzen Winkel, bevorzugt einen Winkel von 5 bis 40° (bezogen auf einen Vollkreis
von 360°), einschliessen.
[0020] In einer bevorzugten Ausführungsform bestehen die spitzenförmigen Elemente und/oder
die Trägerschicht aus Ni, Al, Pd, Pt, W, Fe, Ta, Rh, Cd, Cu, Au, Ag, In, Co, Sn, Si,
Ge, Te, Se, oder einer chemischen Verbindung enthaltend wenigstens einen dieser Stoffe,
wie beispielsweise Sn- oder InSn-Oxid, oder einer Legierung der vorgenannten Metalle.
Bevorzugt bestehen die spitzenförmigen Elemente und die Trägerschicht aus demselben
Material.
[0021] Weiter bevorzugt sind erfindungsgemäss strukturierte Oberflächen, deren Oberfläche
wenigstens teilweise mit einem der vorstehend genannten Materialien beschichtet ist.
[0022] In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform weist die Trägerschicht zwischen den
spitzenförmigen Elementen eine mechanische Stützschicht auf, welche aus einem elektrisch
isolierenden Material, bevorzugt aus einem Oxid und insbesondere aus Aluminiumoxid
besteht. Zweckmässigerweise misst die Schichtdicke der mechanischen Stützschicht weniger
als die über die ganze strukturierte Oberfläche gemittelte Höhe der Stammbereiche
aller spitzenförmigen Elemente.
[0023] Weiter bevorzugt werden strukturierte Oberflächen, deren spitzenförmige Elemente
eine im wesentlichen gleichmässige Höhe aufweisen, wobei unter der Höhe eines spitzenförmigen
Elementes die maximale, orthogonal zur Oberfläche der Trägerschicht gemessene Abmessung
des spitzenförmigen Elementes, d.h. des Stammbereiches und der endständigen Spitzen,
verstanden wird. Ganz bevorzugt variiert die Höhe jedes spitzenförmigen Elementes
um nicht mehr als ± 5% der über alle spitzenförmigen Elemente gemittelten Höhe.
[0024] Weitere vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung finden sich in den Unteransprüchen.
[0025] Die Oberflächen der erfindungsgemäss strukturierten Oberflächen eignen sich besonders
zur Verwendung als Feldemissionsoberflächen für Kaltkathoden-Emitterelemente, insbesondere
als Kaltkathoden-Elektronenemissionsquellen für superflache Bildschirme, für die Elektronenlithographie
oder für die Raster- oder Transmissionsmikroskopie. Die endständigen Spitzen der spitzenförmigen
Elemente dienen dabei als Emitterspitzen. Um eine gut definierte Emitterstruktur zu
erreichen, ist der zwischen den spitzenförmigen Elementen liegende Teil der Feldemissionsoberfläche
bevorzugt im wesentlichen eben, d.h. der zwischen den spitzenförmigen Elementen liegende
Teil der Feldemissionsoberfläche trägt nicht zur Feldemission bei. Durch die für die
Realisierung von Feldemissionsoberflächen benötigte hohe Zahl von Emitterspitzen sind
auch Feldemissionsoberflächen mit gekrümmten Trägerschichten im zwischen den spitzenförmigen
Elementen liegenden Bereich im wesentlichen eben.
[0026] Weiter bevorzugt sind die spitzenförmigen Elemente der strukturierten Oberfläche
derart ausgebildet, dass bei Anlegen einer Betriebsspannung von weniger als 2000 V,
zweckmässigerweise von weniger als 1800 V, bevorzugt von weniger als 900 V und insbesondere
von weniger als 100 V an den endständigen Spitzen eine elektrische Feldstärke von
mehr als 10
9 V/m resultiert. Die Betriebsspannung bedeutet dabei die von einer externen Spannungsquelle
an die strukturierte Oberfläche, beispielsweise dessen Trägerschicht, angelegte Spannung.
[0027] Die auf das Verfahren gerichtete Aufgabe wird erfindungsgemäss dadurch gelöst, dass
a) in einem ersten Schritt ein Formkörper (22) mit einer zur gewünschten strukturierten
Oberfläche spiegelbildlichen Formkörperoberfläche (23) dadurch geschaffen wird, dass
ein Substratkörper (24) aus Aluminium anodisch in einem Aluminiumoxid rücklösenden
Elektrolyten oxidiert wird, wobei die Anodisierspannung in einem ersten Anodisierschritt
kontinuierlich oder schrittweise von 0 auf einen ersten Wert U1 erhöht wird, und in einem zweiten Anodisierschritt die Anodisierspannung kontinuierlich
oder schrittweise auf einen zweiten, gegenüber U1 kleineren Wert U2 reduziert wird.
b) in einem zweiten Schritt die Formkörperoberfläche (23) ganzflächig derart beschichtet
wird, dass die in der Oberflächenschicht (23) des Formkörpers (22) vorhandenen Poren-Kavitäten
(36) vollständig mit dem Beschichtungsmaterial ausgefüllt werden, und eine die spitzenförmigen
Elemente (14) elektrisch verbindende Trägerschicht (12) gebildet wird, und die Trägerschicht
(12) eine zusammenhängende, mechanisch tragende Schicht darstellt;
c) und in einem dritten Schritt wenigstens ein Teil des Formkörpers (22) derart entfernt
wird, dass die endständigen Spitzen (20) frei liegen.
[0028] Der für die erfindungsgemässe Herstellung der strukturierten Oberfläche notwendige
Formkörper mit einer zur gewünschten strukturierten Oberfläche im wesentlichen spiegelbildlichen
Formkörperoberfläche besteht zweckmässigerweise aus einem Substratkörper und einer
Formschicht, wobei letztere die zur gewünschten strukturierten Oberfläche im wesentlichen
spiegelbildliche Oberflächenstruktur enthält
[0029] Der Substratkörper stellt bevorzugt einen Teil eines Stückgutes, beispielsweise eines
Profiles, Balkens oder eine andere Form von Stücken, einer Platte, eines Bandes, Bleches
oder einer Folie aus Aluminium dar, oder eine Aluminium-Deckschicht eines Verbundwerkstoffes,
insbesondere als Aluminiumdeckschicht einer Verbundplatte, oder betrifft eine auf
einen beliebigen Werkstoff -- beispielsweise elektrolytisch -- aufgebrachte Aluminiumschicht,
wie beispielsweise eine plattierte Aluminiumschicht. Weiter bevorzugt betrifft der
Substratkörper ein Werkstück aus Aluminium, welches z.B. durch ein Walz-, Extrusions-,
Schmiede- oder Fliesspressverfahren hergestellt wird. Der Substratkörper kann auch
durch Biegen, Tiefziehen, Kaltfliesspressen oder dergleichen umgeformt sein.
[0030] Mit dem Werkstoff Aluminium sind in vorliegendem Text Aluminium aller Reinheitsgrade,
sowie alle handelsüblichen Aluminiumlegierungen umfasst. Beispielsweise umfasst der
Begriff Aluminium alle Walz-, Knet-, Guss-, Schmiede- und Presslegierungen aus Aluminium.
Zweckmässigerweise besteht der Substratkörper aus Reinaluminium mit einem Reinheitsgrad
von gleich oder grösser 98.3 Gew.-% oder Aluminiumlegierungen mit wenigstens einem
der Elemente aus der Reihe von Si, Mg, Mn, Cu, Zn oder Fe. Der Substratkörper aus
Reinaluminium kann beispielsweise aus Aluminium einer Reinheit von 98.3 Gew.-% und
höher, zweckmässig 99.0 Gew.-% und höher, bevorzugt 99.9 Gew.-% und höher und insbesondere
99.95 Gew.-% und höher, und dem Rest handelsübliche Verunreinigungen bestehen.
[0031] Neben Aluminium genannter Reinheiten kann der Substratkörper auch aus einer Aluminiumlegierung
bestehen, enthaltend 0.25 Gew.-% bis 5 Gew.-%, insbesondere 0.5 bis 2 Gew.-%, Magnesium
oder enthaltend 0.2 bis 2 Gew.-% Mangan oder enthaltend 0.5 bis 5 Gew.-% Magnesium
und 0.2 bis 2 Gew.-% Mangan, insbesondere z.B. 1 Gew.-% Magnesium und 0.5 Gew.-% Mangan
oder enthaltend 0.1 bis 12 Gew.-%, vorzugsweise 0.1 bis 5 Gew.-%, Kupfer oder enthaltend
0.5 bis 5 Gew.-% Zink und 0.5 bis 5 Gew.-% Magnesium oder enthaltend 0.5 bis 5 Gew.-%
Zink, 0.5 bis 5 Gew.-% Magnesium und 0.5 bis 5 Gew.-% Kupfer oder enthaltend 0.5 bis
5 Gew.-% Eisen und 0.2 bis 2 Gew.-% Mangan, insbesondere z.B. 1.5 Gew.-% Eisen und
0.4 Gew.-% Mangan.
[0032] Die Formschicht besteht bevorzugt aus Aluminiumoxid. Die Herstellung einer für das
erfindungsgemässe Verfahren erforderlichen Formschicht erfolgt bevorzugt durch anodische
Oxidation der Substratkörperoberfläche in einem Elektrolyten unter Poren bildenden
Bedingungen. Erfindungswesentlich ist dabei, dass die Poren gegen die freie Oberfläche
hin offen sind. Vorteilhaft ist die Porenverteilung über die Oberfläche gleichmässig.
Die Schichtdicke der Formschicht beträgt zweckmässigerweise 50 nm bis 20 µm und bevorzugt
0.5 bis 3 µm.
[0033] Die Poren weisen in ihrer vertikalen Ausdehnung einen gegen die Oberfläche der Formschicht
gerichteten Stamm bereich und einen gegen den Substratkörper gerichteten Verzweigungsbereich
auf, d.h. jede im wesentlichen vertikal zur Oberfläche der Formschicht liegende Pore
besteht aus einer länglichen, gegen die freie Oberfläche der Formschicht offenen Pore,
die sich im Verzweigungsbereich in wenigstens zwei, vorzugsweise 2 bis 4 Vertiefungen
oder Porenverzweigungen aufteilt. Zweckmässigerweise weisen die Poren im Stammbereich
einen Durchmesser von 1 bis 250 nm, bevorzugt zwischen 10 und 230 nm und insbesondere
zwischen 80 und 230 nm auf. Die Porenzahl, d.h. die Zahl der Poren im Stammbereich,
beträgt zweckmässigerweise 10
8 Poren/cm
2 und höher, bevorzugt 10
8 bis 10
12 Poren/cm
2 und insbesondere 10
9 bis 10
11 Poren/cm
2. Die mittlere Dichte der Formschicht beträgt bevorzugt 2.1 bis 2.7 g/cm
3. Weiter bevorzugt weist die Formschicht eine Dielektrizitätskonstante zwischen 5
und 7.5 auf.
[0034] Die Herstellung der Formschicht geschieht beispielsweise durch anodische Oxidation
der Substratkörperoberfläche in einem das Aluminiumoxid rücklösenden Elektrolyten.
Die Elektrolyttemperatur beträgt zweckmässigerweise zwischen - 5 und 85 °C, bevorzugt
zwischen 15 und 80 °C und insbesondere zwischen 30 und 55 °C. Zur Durchführung der
anodischen Oxidation kann der Substratkörper oder wenigstens dessen Oberflächenschicht
oder zumindest der Teil der Substratkörperoberfläche, der mit einer Formschicht versehen
werden soll, in einen entsprechenden Elektrolyten gegeben und als positive Elektrode
(Anode) geschaltet werden. Als negative Elektrode (Kathode) dient eine weitere in
denselben Elektrolyten gegebene Elektrode aus beispielsweise rostfreiem Stahl, Blei,
Aluminium oder Graphit.
[0035] Üblicherweise wird die Substratkörperoberfläche vor dem erfindungsgemässen Verfahren
einer Vorbehandlung unterzogen, wobei beispielsweise die Substratkörperoberfläche
zuerst entfettet, dann gespült und schliesslich gebeizt wird. Das Beizen wird beispielsweise
mit einer Natriumhydroxidlösung mit einer Konzentration von 50 bis 200 g/l bei 40
bis 60 °C während einer bis zehn Minuten durchgeführt. Anschliessend kann die Oberfläche
gespült und mit einer Säure, wie beispielsweise Salpetersäure, insbesondere einer
Konzentration von 25 bis 35 Gew.-% bei Raumtemperatur, d.h. typischerweise im Temperaturbereich
20 - 25 °C, während 20 bis 60 s neutralisiert und erneut gespült werden.
[0036] Die Eigenschaften einer mittels anodischer Oxidation hergestellten Oxidschicht, wie
beispielsweise die Porendichte und der Porendurchmesser, hängen weitgehend von den
Anodisierbedingungen wie beispielsweise Elektrolytzusammensetzung, Elektrolyttemperatur,
Stromdichte, Anodisierspannung und Anodisierdauer, sowie vom anodisierten Grundwerkstoff
ab. Während der anodischen Oxidation in sauren Elektrolyten bildet sich an der Substratkörperoberfläche
eine im wesentlichen porenfreie Grund- oder Sperrschicht und eine poröse Aussenschicht,
die während der anodischen Oxidation an ihrer freien Oberfläche durch Rücklösung zum
Teil chemisch wieder aufgelöst wird. Dadurch entstehen in der Aussenschicht Poren,
die im wesentlichen vertikal zur Substratkörperoberfläche liegen und gegen die freie
Oberfläche der Oxidschicht hin offen sind. Die Dicke der Oxidschicht erreicht ihren
Maximalwert, wenn sich Wachstum und Rücklösung die Waage halten, was beispielsweise
von der angelegten Anodisierspannung, der Elektrolytzusammensetzung, der Stromdichte,
der Elektrolyttemperatur, Anodisierdauer, sowie vom anodisierten Grundwerkstoff abhängt.
[0037] Für die Durchführung des erfindungsgemässen Verfahrens werden bevorzugt Elektrolyte
verwendet, welche eine oder mehrere anorganische und/oder organische Säuren enthalten.
Weiter bevorzugt werden Anodisierspannungen von 10 bis 100 V und Stromdichten von
100 bis 3000 A/m
2. Die Anodisierdauer beträgt typischerweise 1 bis 300 s.
[0038] Bevorzugt geschieht die anodische Oxidation der Substratkörperoberfläche in der Weise,
dass die Anodisierspannung zur Bildung von zylinder- oder kegelstumpfförmigen, langen
Poren auf einen ersten Wert (U
1), bevorzugt zwischen 12 und 80 V, eingestellt und nachfolgend zur Bildung wenigstens
zweier Porenverzweigungen am gegen die Aluminiumschicht gerichteten Ende jeder langen
Pore auf einen zweiten Wert (U
2) eingestellt wird, wobei der zweite Wert gegenüber dem ersten Wert tiefer liegt und
bevorzugt zwischen 10 und 20 V beträgt.
[0039] Das Anlegen der Anodisierspannung geschieht beispielsweise durch kontinuierliche
Erhöhung der angelegten Spannung bis zum jeweiligen vorbestimmten, zeitlich konstanten
Wert. Die Stromdichte erhöht sich dabei ebenfalls in Funktion der angelegten Anodisierspannung,
erreicht zeitlich nach dem Erreichen der jeweils vorbestimmten konstanten Spannung
einen Maximalwert und fällt dann auf einen geringeren Wert zusammen.
[0040] Die Schichtdicke der Sperrschicht ist spannungsabhängig und liegt beispielsweise
im Bereich 8 bis 16 Angström/V und insbesondere zwischen 10 und 14 Angström/V. Der
Porendurchmesser der porösen Aussenschicht ist ebenfalls spannungsabhängig und beträgt
beispielsweise zwischen 8 und 13 Angström/V und insbesondere 10 bis 12 Angström/V.
[0041] Der Elektrolyt kann beispielsweise eine starke organische oder anorganische Säure
oder ein Gemisch starker organischer und/oder anorganischer Säuren enthalten. Typische
Beispiele solcher Säuren sind Schwefelsäure (H
2SO
4), oder Phosphorsäure (H
3PO
4). Weitere Säuren, die angewendet werden können sind beispielsweise Chromsäure, Oxalsäure,
Sulfaminsäure, Malonsäure, Maleinsäure oder Sulfosalycilsäure. Auch Gemische genannter
Säuren können verwendet werden. Für das erfindungsgemässe Verfahren werden beispielsweise
Schwefelsäure in Mengen von 40 bis 350 g/l und bevorzugt 150 bis 200 g/l eingesetzt
(Schwefelsäure bezogen auf 100% Säure). Es kann als Elektrolyt auch Phosphorsäure
in einer Menge von 60 bis 300 g/l und insbesondere 80 bis 150 g/l angewendet werden,
wobei die Säuremenge auf 100 % reine Säure bezogen ist. Ein anderer bevorzugter Elektrolyt
ist Schwefelsäure in Mischung mit Oxalsäure, wobei insbesondere eine Menge von 150
bis 200 g/l Schwefelsäure mit beispielsweise 5 bis 25 g/l Oxalsäure gemischt wird.
Weiter bevorzugt werden Elektrolyte enthaltend beispielsweise 250 bis 300 g/l Maleinsäure
und beispielsweise 1 bis 10 g/l Schwefelsäure. Ein weiterer Elektrolyt enthält beispielsweise
130 bis 170 g/l Sulfosalycilsäure in Mischung mit 6 bis 10 g/l Schwefelsäure.
[0042] Nach dem Anodisierverfahren kann die Oberfläche der Formschicht weiteren Behandlungen,
wie z.B. chemisch oder elektrolytisch Ätzen, Plasmaätzen, Spülen oder Imprägnieren,
zugeführt werden.
[0043] Die fertiggestellte Formschicht wird ganzflächig derart beschichtet, dass die in
der Oberflächenschicht des Formkörpers vorhandenen Poren-Kavitäten vollständig mit
dem Beschichtungsmaterial ausgefüllt werden, und eine die spitzenförmigen Elemente
elektrisch verbindende Trägerschicht gebildet wird, und die Trägerschicht eine zusammenhängende,
mechanisch tragende Schicht darstellt
[0044] Für die Beschichtung der Formkörperoberfläche werden bevorzugt Ni, Al, Pd, Pt, W,
Fe, Ta, Rh, Cd, Cu, Au, Ag, In, Co, Sn, Si, Ge, Se, Te, oder eine chemische Verbindung
enthaltend wenigstens eines dieser Elemente, oder eine Legierung vorstehend aufgeführter
Metalle verwendet.
[0045] Die Beschichtung der Formkörperoberfläche kann beispielsweise durch chemische oder
elektrolytische Methoden, oder durch PVD (Physical Vapour Deposition) oder CVD (Chemical
Vapour Deposition) geschehen. Bevorzugt wird eine chemische und/oder elektrolytische
Abscheidung des Beschichtungsmaterials, wobei zweckmässigerweise die Porenkavitäten
zuvor chemisch aktiviert werden.
[0046] Als letzten erfindungswesentlichen Verfahrensschritt werden die spitzenförmigen Elemente,
insbesondere deren endständige Spitzen, durch vollständiges oder teilweises Entfernen
der Formschicht freigelegt.
[0047] Das vollständige Freilegen der spitzenförmigen Elemente, d.h. das Trennen der strukturierten
Oberflächenschicht vom Formkörper, kann beispielsweise durch vollständiges Wegätzen
des Formkörpers geschehen. In einer bevorzugten Ausführung wird jedoch nur die Formschicht
chemisch weggeätzt, so dass die strukturierte Oberflächenschicht vom Formkörper vollständig
getrennt wird und damit in Form einer strukturierten Oberfläche vorliegt.
[0048] In einer weiteren bevorzugten Ausführung wird nur ein Teil der Formschicht weggeätzt,
so dass auf der Trägerschicht zwischen den Stamm bereichen der spitzenförmigen Elemente
die Formschicht stehen bleibt und eine mechanische Stützschicht bildet. Dies geschieht
beispielsweise durch chemisches Wegätzen des Substratkörpers, der Sperrschicht und
eines Teils der porösen Schicht. Der poröse Teil der Formschicht muss jedoch derart
entfernt werden, dass die endständigen Spitzen der spitzenförmigen Elemente vollständig
freiliegen.
[0049] In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemässen Verfahrens werden
die freigelegten spitzenförmigen Elemente einem weiteren Ätzprozess unterworfen, beispielsweise
durch Plasmaätzen, oder durch nass-chemisches oder elektrolytisches Ätzen. Damit kann
beispielsweise die Form der endständigen Spitzen hinsichtlich deren Verwendung als
Elektronenemissionsspitzen optimiert werden.
[0050] Weiter bevorzugt wird eine Nachbehandlung der erfindungsgemäss strukturierten Oberfläche
durch Deposition einer zusätzlichen, dünnen Metallschicht, welche die elektronenemittierenden
Eigenschaften der spitzenförmigen Elemente verbessert. Diese zusätzliche, dünne Metallschicht
besteht bevorzugt aus einem Edelmetall, insbesondere aus Au, Pt, Rh oder Pd, oder
einer wenigstens eines dieser Edelmetalle enthaltenden Legierung. Die Deposition dieser
zusätzlichen Metallschicht kann beispielsweise durch chemische oder elektrolytische
Methoden, durch PVD (Physical Vapour Deposition), wie beispielsweise Sputtern oder
Elektronenstrahlverdampfen, oder durch CVD (Chemical Vapour Deposition) geschehen.
[0051] Nachfolgend werden Ausführungsbeispiele für die Herstellung der erfindungsgemäss
strukturierten Oberfläche beschrieben. Alle Angaben in Teilen oder Prozenten beziehen
sich auf das Gewicht, sofern nichts anderes angegeben.
Erstes Ausführungsbeispiel
[0052] Als Substratkörper dient ein Aluminiumblech aus 99.9 Gew.-% A1 mit glänzender Oberfläche.
Das Aluminiumblech wird in einer milden alkalischen Entfettungslösung gereinigt, in
Wasser gespült, in Salpetersäure dekapiert, in Wasser gespült, kurz in Aceton getaucht
und getrocknet.
[0053] Anschliessend wird auf der Rückseite des Bleches ein geeigneter Abdecklack aufgebracht
und der derart vorbehandelte Substratkörper in einem Phosphorsäure-Elektrolyten mit
einer Konzentration von 150 g/l H
3PO
4 bei einer Elektrolyttemperatur von 35 °C mit Gleichstrom einer Stromdichte von 100
A/m
2 während 3 Minuten anodisiert, wobei die Anodisierspannung kontinuierlich von 0 auf
50 V erhöht wird. Direkt anschliessend wird die Anodisierspannung in 5 bis 6 Stufen
auf ca. 15 V gesenkt, wobei die Spannungs-Absenkstufen anfänglich klein sind und allmählich
vergrössert werden. Nach Erreichen der Anodisierspannung von ca. 15 V wird diese während
ca. 40 Sekunden aufrechterhalten. Die resultierende Schichtdicke der Aluminiumoxidschicht
beträgt typischerweise 1 µm.
[0054] Die Formschicht weist nun Poren auf, die einen gegen die freie Oberfläche der Aluminiumoxidschicht
ragenden, nach oben offenen Stammbereich und einen gegen den Substratkörper gerichteten
Verzweigungsbereich aufweisen.
[0055] Der Formkörper, d.h. insbesondere die freie Oberfläche der Formschicht, wird nun
mit Wasser gespült und in einem nickelsalzhaltigen Aktivierungsbad (100 g/l NiSO
4.7 H
2O und 40 g/l Borsäure, pH 4.0 bis 5.0) mit einer angelegten Wechselspannung von 16
V während 5 Sekunden behandelt und danach erneut mit Wasser gespült.
[0056] Die Poren der derart vorbereitete Formschicht weisen am Porengrund eingelagerte Nickelpartikel
auf, welche bevorzugt als Keime für eine weitere selektive Nickelabscheidung dienen.
Die selektive Nickelabscheidung, d.h. die weitere Ablagerung von Nickel an die bereits
in den Poren befindlichen Nickelpartikel, geschieht vorerst auf chemischem Weg in
einem Nickelbad mit einer Temperatur von 85 °C und einem pH-Wert von 5.0, das als
Reduktionsmittel eine Natriumhypophosphit-Lösung enthält. Die selektive Nickel-Abscheidung
dauert 1 Stunde, wobei eine Schicht aus Nickel-Phosphor mit 10 bis 12 Gew.-% Phosphor
und einer Schichtdicke von ca. 10 µm erzeugt wird. Die mit Nickel beaufschlagte Formschicht
wird nun wieder mit Wasser gespült und anschliessend wird die Nickelschicht in einem
handelsüblichen, galvanischen Nickelbad ("Watt"-Bad, welches beispielsweise 300 g/l
Nickelsulfat, 60 g/l Nickelchlorid, 40 g/l Borsäure und organische Zusätze, wie beispielsweise
Netzmittel, enthält) mit einer an der Kathode gemessenen Stromdichte von 400 A/m
2 während 20 Minuten verstärkt. Die Elektrolyttemperatur beträgt dabei 50 bis 60 °C,
wobei die galvanisch erzeugte Nickelschicht eine Dicke von ca. 16 µm erreicht.
[0057] Nach erneutem Spülen des mit Nickel beschichteten Formkörpers mit Wasser wird der
Abdecklack beispielsweise chemisch oder durch Plasmaätzen entfernt. Der Formkörper
wird nun chemisch in Natronlauge (50 g/l NaOH) aufgelöst. Bei einer NaOH-Badtemperatur
von 20 °C dauert dieser Vorgang mehrere Stunden, beispielsweise 1 bis 5 Stunden.
[0058] Nach dem Entfernen des Formkörpers verbleibt die gewünschte strukturierte Nickelfolie
mit spitzenförmigen Elementen, wobei die spitzenförmigen Elemente einen an die Ni-Trägerschicht
anliegenden Stammbereich und als vertikale Fortsetzung einen Verästelungsbereich,
enthaltend wenigstens zwei endständige Spitzen, aufweist.
[0059] Die strukturierte Nickelfolie wird erneut mit Wasser gespült, in 5 %-ige Citronensäure
bei 20 °C während 30 Minuten dekapiert, wieder mit Wasser gespült, in Ethanol gegeben
und schlussendlich getrocknet.
[0060] Die spitzenförmigen Elemente stellen ein genaues Abbild der in der Aluminiumoxidschicht
vorhandenen Porenkavität dar, da die Aluminiumoxidschicht als Maske für dessen Ni-Beaufschlagung
dient. Die strukturierte Nickelfolie weist viele nahe beieinanderliegende Spitzen
einer Länge von ca. 1 µm auf, dessen grösster Durchmesser typischerweise unter 0.2
µm liegt.
Zweites Ausführungsbeispiel
[0061] Ein als Substratkörper dienendes Aluminiumblech, wie im ersten Ausführungsbeispiel
beschrieben, wird entsprechend dem im ersten Ausführungsbeispiel beschriebenen Verfahren
gereinigt und anodisiert. Die derart gebildete Formkörperoberfläche wird gemäss dem
ersten Ausführungsbeispiel aktiviert.
[0062] Die selektive Nickelabscheidung geschieht nun in einem chemischen Nickelbad mit einer
Temperatur von 70 °C und einem pH-Wert von 6.0, wobei das Nickelbad als Reduktionsmittel
Dimethylaminboran enthält. Die selektive Nickelabscheidung dauert 1 Stunde, wobei
eine Nickel-Bor Deposition einer Schichtdicke von ca. 5 µm und einem Borgehalt von
unter 1 % gebildet wird. Entsprechend dem ersten Ausführungsbeispiel wächst die Nickelschicht
aufgrund der speziellen Aktivierungsmethode vorerst nur am Porengrund.
[0063] Nach einem Spülvorgang mit Wasser wird entsprechend dem ersten Ausführungsbeispiel
der Abdecklack entfernt, der Formkörper aufgelöst und somit eine strukturierte Nickelfolie
freigelegt.
[0064] Die spitzenförmigen Elemente der strukturierten Nickelfolie werden nun einer elektrolytischen
Nachbehandlung unterzogen, wobei der Krümmungsradius der endständigen Spitzen verkleinert
wird, so dass eine Feldemissionsoberfläche mit besseren Elektronen-emittierenden Eigenschaften
entsteht. Der dazu verwendete Elektrolyt enthält 638 ml/l 96%-ige Schwefelsäure und
9 g/l Glycerin. Die elektrolytische Nachbehandlung erfolgt während 5 bis 10 Sekunden
bei einer Elektrolyttemperatur von 20 °C, mit einer Kathode aus reinem Blei, einer
Stromdichte von 500 bis 1000 A/m
2 und einer Elektrolysespannung von 6 V. Danach wird die strukturierte Nickelfolie
wiederum mit Wasser gespült und getrocknet.
Drittes Ausführungsbeispiel
[0065] Eine gemäss dem ersten oder zweiten Ausführungsbeispiel hergestellte strukturierte
Nickelfolie wird nachträglich während 60 Sekunden in einem handelsüblichen, stromlosen
Goldbad vergoldet, wobei das Goldbad eine Goldkonzentration von 2 g/l, eine Badtemperatur
von 85 °C und einen pH-Wert von 4.2 bis 4.8 aufweist. Dabei wird durch Ladungsaustausch
eine Goldschicht von ca. 0.05 µm gebildet. Die vergoldete Nickelfolie wird anschliessend
mit Wasser gespült, mit Ethanol behandelt und getrocknet.
[0066] Eine derartige Veredelung der strukturierten Nickelfolie verbessert wesentlich deren
Eigenschaften als Feldemissionsoberfläche.
[0067] Vorliegende Erfindung wird beispielhaft anhand der Figuren 1 bis 4 weiter erläutert.
[0068] Figur 1 zeigt schematisch einen Querschnitt durch einen noch nicht fertiggestellten
Formkörper 22, dessen vertikal zur Formkörperoberfläche 23 liegenden und nach oben
offenen Poren erst eine längliche Kavität 32 ohne Porenverzweigungen, d.h. den Stammbereich
32 der Poren, enthalten. Der in Fig. 1 dargestellte Formkörper besteht einerseits
aus dem Substratkörper 24 und andererseits aus der Formschicht 26, die ihrerseits
aus einer Sperrschicht 28 und einer porösen Schicht 30 gebildet wird.
[0069] Ein gemäss Fig. 1 gebildeter Körper entsteht beispielsweise nach einer anodischen
Oxidation mit einer konstanten oder kontinuierlich oder stufenweise steigenden Anodisierspannung
eines Substratkörpers 24 aus Aluminium in einem das Aluminiumoxid rücklösenden Elektrolyten.
[0070] Figur 2 zeigt schematisch einen Querschnitt eines für das erfindungsgemässe Verfahren
verwendbaren Formkörpers 22. Der Formkörper 22 wird aus dem Substratkörper 24 und
der Formschicht 26 gebildet. Die Kavität 36 der Poren enthält einen Poren-Stammbereich
32 und einen Poren-Verzweigungsbereich 33, wobei jede Poren-Kavität 36 im Verzweigungsbereich
33 zwei Porenverzweigungen 34 aufweist.
[0071] Ein gemäss Fig. 2 ausgebildeter Formkörper 22 entsteht beispielsweise, wenn -- ausgehend
von einem noch nicht fertiggestellten Formkörper 22 gemäss Fig. 1 -- die anodische
Oxidation mit einer tieferen Anodisierspannung weitergeführt wird. Dazu kann die Anodisierspannung
stufenweise oder kontinuierlich abgesenkt werden. Da der sich während der anodischen
Oxidation bildende Porendurchmesser, sowie die sich ausbildende Schichtdicke der Sperrschicht
28 von der Grösse der Anodisierspannung abhängen, verringert sich während einer solchen
zweiten Verfahrensstufe die Dicke der Sperrschicht 28, wobei die Schichtdicke der
porösen Oxidschicht 30 weiter wächst. Da die Bildung der Oxidschicht 28, 30 an der
Grenzschicht zwischen Aluminium-Substratkörper 24 und Sperrschicht 28 stattfindet,
und der Porendurchmesser Anodisierspannungs-abhängig ist, bilden sich anschliessend
an den Poren-Stammbereich 32 mehrere Porenverzweigungen 34 mit einem gegenüber dem
Stammbereich 32 kleineren Durchmesser.
[0072] Figur 3 zeigt schematisch den Querschnitt eines mit elektronenemittierendem Material
beschichteten Formkörpers 22. Der Formkörper 22 besteht aus einem Substratkörper 24
und einer Formschicht 26. Die Formschicht 26 enthält Poren, deren Kavität 36 einen
Stammbereich 32 und einen Verzweigungsbereich 33 mit wenigstens zwei Porenverzweigungen
34 aufweist. Die Kavität 36 ist vollständig mit elektronenemittierendem Material ausgefüllt,
und die dadurch geschaffenen spitzenförmigen Elemente 14 aus elektronenemittierendem
Material sind durch eine Trägerschicht 12 miteinander elektrisch leitend verbunden.
[0073] Ein gemäss Fig. 3 ausgebildeter, mit elektronenemittierendem Material beschichteter
Formkörper 22 entsteht beispielsweise, wenn -- ausgehend von einem Formkörper 22 gemäss
Fig. 2 -- die Formkörperoberfläche 23, wenigstens in den Poren, chemisch aktiviert
wird, die Porenkavitäten 36 mit chemischen und/oder elektrochemischen Verfahren mit
elektronenemittierendem Material beaufschlagt werden, und auf die dadurch entstandenen
spitzenförmigen Elemente 14, sowie auf die zwischen den Porenkavitäten 36 liegende
Formkörperoberfläche 23 eine elektronenemittierende Schicht 12 aus beispielsweise
Metall- oder Halbmetall deponiert wird.
[0074] Figur 4 zeigt schematisch den Querschnitt einer erfindungsgemäss strukturierten Oberfläche.
Diese besteht aus einer Trägerschicht 12 mit damit elektrisch leitend verbundenen,
spitzenförmigen Elementen 14 aus beispielsweise Metall- oder Halbmetall, d.h. aus
elektronenemittierendem Material. Die spitzenförmigen Elemente weisen einen Stammbereich
16 und einen Verästelungsbereich 18 auf, wobei die spitzenförmigen Elemente 14 im
Verästelungsbereich 18 zwei endständige Spitzen 20 aufweisen, deren Längsachsen a
1, a
2 einen spitzen Winkel α einschliessen. Die Stammbereiche 16 der spitzenförmigen Elemente
14 werden von einer zwischen diesen liegenden Stützschicht 15 mechanisch gestützt,
wobei ein Teil der Stammbereiche 16 und die endständigen Spitzen 20 freiliegen.
[0075] Eine gemäss Fig. 4 ausgebildete strukturierte Oberfläche entsteht beispielsweise,
wenn -- ausgehend von einem mit elektronenemittierendem Material beschichteten Formkörper
22 gemäss Fig. 3 -- der Substratkörper 24 und ein Teil der Formschicht 26 chemisch
weggeätzt wird.
1. Strukturierte Oberfläche, enthaltend eine Trägerschicht (12) und mit dieser elektrisch
leitend verbundene spitzenförmige Elemente (14),
dadurch gekennzeichnet, dass
jedes spitzenförmige Element (14) einen an die Trägerschicht (12) anliegenden, zylinder-
oder kegelstumpfförmigen Stammbereich (16) und wenigstens zwei, vorzugsweise 2 bis
4, an das freie Ende des Stammbereiches (16) angeformte, endständige Spitzen (20)
aufweist.
2. Strukturierte Oberfläche nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die spitzenförmigen
Elemente (14) und/oder die Trägerschicht (12) aus einem oder mehrerer der Elemente
Ni, Al, Pd, Pt, W, Fe, Ta, Rh, Cd, Cu, Au, Ag, In, Co, Sn, Si, Ge, Se, Te, oder einer
chemischen Verbindung enthaltend wenigstens eines dieser Elemente, oder einer Legierung
vorstehend aufgeführter Metalle besteht.
3. Strukturierte Oberfläche nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass sich
auf der Trägerschicht (12), zwischen den spitzenförmigen Elementen (14) eine mechanische
Stützschicht (15) befindet, die aus einem elektrisch isolierenden Material, bevorzugt
aus einem Oxid und insbesondere aus Aluminiumoxid besteht.
4. Strukturierte Oberfläche nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
dass die Längsachsen (a1, a2) der endständigen Spitzen (20) einen spitzen Winkel α von 10 bis 80° und insbesondere
von 20 bis 60°, bezogen auf einen Vollkreis von 360°, einschliessen.
5. Strukturierte Oberfläche nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet,
dass die Dichte der endständigen Spitzen 108/cm2 und höher beträgt.
6. Strukturierte Oberfläche nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet,
dass der grösste Querschnittsdurchmesser jedes spitzenförmigen Elementes (14) 250
nm oder weniger, vorzugsweise 10 bis 230 nm, insbesondere 80 bis 230 nm beträgt.
7. Strukturierte Oberfläche nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet,
dass die spitzenförmigen Elemente (14) eine Höhe von 50 nm bis 20 µm, bevorzugt 0.5
bis 3 µm, aufweisen.
8. Strukturierte Oberfläche nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet,
dass die freien Enden der endständigen Spitzen (20) einen Krümmungsradius von 200
nm oder kleiner, bevorzugt 50 bis 100 nm, aufweisen.
9. Verwendung der strukturierten Oberfläche nach einem der Ansprüche 1 bis 8 als Feldemissionsoberfläche
von Kaltkathoden-Emitterelementen, insbesondere als Elektronenemissionsquelle für
superflache Bildschirme, für die Elektronenlithographie oder für die Raster- oder
Transmissionsmikroskopie.
10. Verfahren zur Herstellung von strukturierten Oberflächen nach einem der Ansprüche
1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass
a) in einem ersten Schritt ein Formkörper (22) mit einer zur gewünschten strukturierten
Oberfläche spiegelbildlichen Formkörperoberfläche (23) dadurch geschaffen wird, dass
ein Substratkörper (24) aus Aluminium anodisch in einem Aluminiumoxid rücklösenden
Elektrolyten oxidiert wird, wobei die Anodisierspannung in einem ersten Anodisierschritt
kontinuierlich oder schrittweise von 0 auf einen ersten Wert U1 erhöht wird, und in einem zweiten Anodisierschritt die Anodisierspannung kontinuierlich
oder schrittweise auf einen zweiten, gegenüber U1 kleineren Wert U2 reduziert wird.
b) in einem zweiten Schritt die Formkörperoberfläche (23) ganzflächig derart beschichtet
wird, dass die in der Oberflächenschicht (23) des Formkörpers (22) vorhandenen Poren-Kavitäten
(36) vollständig mit dem Beschichtungsmaterial ausgefüllt werden, und eine die spitzenförmigen
Elemente (14) elektrisch verbindende Trägerschicht (12) gebildet wird, und die Trägerschicht
(12) eine zusammenhängende, mechanisch tragende Schicht darstellt;
c) und in einem dritten Schritt wenigstens ein Teil des Formkörpers (22) derart entfernt
wird, dass die endständigen Spitzen (20) frei liegen.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Wert U1 der Anodisierspannung zur Bildung von zylinder- oder kegelstumpfförmigen, langen
Poren zwischen 12 und 80 V liegt, und der zweite Wert U2 der Anodisierspannung zur Bildung wenigstens zweier Porenverzweigungen am gegen die
Aluminiumschicht gerichteten Ende jeder Pore zwischen 10 und 20 V beträgt.
12. Verfahren nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass für die Beschichtung
der Formkörperoberfläche (23) eines der Elemente Ni, Al, Pd, Pt, W, Fe, Ta, Rh, Cd,
Cu, Au, Ag, In, Co, Sn, Si, Ge, Se, Te, oder eine chemische Verbindung enthaltend
wenigstens eines dieser Elemente, oder eine Legierung vorstehend aufgeführter Metalle
verwendet wird.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung
der Formkörperoberfläche (23) durch chemische und/oder elektrolytische Methoden geschieht.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass das wenigstens
teilweise Entfernen des Formkörpers (22) durch chemisches Wegätzen des Substratkörpers
(24) und wenigstens eines Teils der Formschicht (26) geschieht.
15. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass die wenigstens
teilweise freigelegten spitzenförmigen Elemente (14) einem chemischen oder elektrolytischen
Ätzprozess unterworfen werden.