[0001] L'invention concerne un dispositif de source de courant en circuit intégré, en technologie
MOS. Elle s'applique tout particulièrement au domaine des mémoires non volatiles,
pour la génération de la haute tension de programmation;
[0002] Les cellules de mémoire non volatiles sont programmées au moyen d'une haute tension
de programmation, de l'ordre de vingt volts. Mais cette haute tension doit leur être
appliquée de manière très progressive, selon une rampe linéaire, pour ne pas endommager
l'oxyde tunnel sous leur grille.
[0003] Pour générer cette rampe de haute tension de programmation, on utilise habituellement
un circuit comprenant un condensateur alimenté par une source de courant constant
et des moyens pour contrôler la durée des paliers et la durée de la rampe.
[0004] Cependant, en pratique, un tel circuit est difficile à régler à cause de la dispersion
des caractéristiques, due au procédé de fabrication ou à la température.
[0005] En particulier, ce circuit est particulièrement sensible aux dispersions de la source
de courant.
[0006] Dans l'état de la technique, une source de courant est habituellement réalisée à
partir d'un transistor MOS et d'une source de tension de référence polarisant la grille
de ce transistor. La source de tension peut-être typiquement du type bandgap ou miroir
de Wilson : ce sont des circuits qui utilisent un système de compensation des variations
des caractéristiques, pour fournir une référence de tension stable en température.
Cependant ces circuits à compensation sont complexes et la stabilité obtenue n'est
pas toujours satisfaisante.
[0007] Un objet de l'invention est de proposer une source de courant en technologie MOS
beaucoup plus simple, sans structure de compensation, offrant une bonne stabilité
en température. Alors que tous les circuits de l'état de la technique sont polarisés
à la tension d'alimentation logique Vcc du circuit intégré, dans l'invention, on polarise
la source de courant en haute tension, pour utiliser une diode Zener à tension zener
supérieure ou égale à la tension d'alimentation logique, connue pour être particulièrement
stable en température, pour polariser en saturation un transistor MOS alimenté en
haute tension. Le circuit particulièrement simple de l'invention fournit un courant
remarquablement stable en température.
[0008] La simplicité de ce circuit permet son utilisation dans de nombreuses applications.
Il est particulièrement adapté à la génération de la rampe de haute tension de programmation,
dans les circuits mémoires non volatiles.
[0009] Telle qu'elle est revendiquée, l'invention concerne une source de courant dans un
circuit intégré en technologie MOS, comprenant un transistor MOS commandé sur sa grille
en tension constante pour délivrer un courant.
[0010] Selon l'invention, le transistor est polarisé en haute tension supérieure à la tension
d'alimentation du circuit, et une diode zener polarisée en inverse en haute tension
est prévue pour appliquer entre la grille et source du transistor une tension zener
stable en température, supérieure ou égale à la tension d'alimentation logique (Vcc)
du circuit.
[0011] D'autres avantages et caractéristiques de l'invention sont présentés dans la description
suivante faite à titre indicatif et nullement limitatif de l'invention et en référence
aux dessins annexés, dans lesquels:
- la figure 1 représente un dispositif de source de courant selon l'invention et
- la figure 2 représente une variante du dispositif de la figure 1.
[0012] La figure 1 représente un dispositif de source de courant selon l'invention. Une
haute tension HV est disponible dans le circuit intégré. Dans un exemple pris dans
le domaine des mémoires non volatiles, cette haute tension est de l'ordre de vingt
volts. Cette haute tension peut provenir d'une source externe, par un plot d'entrée
du circuit intégré. Elle peut être produite en interne, comme représenté sur la figure
1, par un dispositif à pompe de charges PC, à partir de la tension d'alimentation
logique Vcc (environ 5 volts) du circuit intégré.
[0013] Une diode zener DZ est polarisée entre une haute tension HV et la masse. Dans l'exemple,
elle a sa cathode reliée à la haute tension HV et son anode reliée au drain d'un transistor
MOS 1 de type N, dont la source est reliée à la masse. La grille du transistor 1 reçoit
une tension de polarisation notée V
ON.
[0014] L'anode de la diode DZ est par ailleurs connectée à la grille d'un transistor MOS
2, de type P dont la source est reliée à la haute tension HV. Son drain est relié
au drain d'un transistor MOS 3 monté en diode polarisée en direct (grille et drain
reliés). La source du transistor MOS 3 est reliée à la masse.
[0015] La diode DZ est une diode stable en température, avec une tension zener VZ supérieure
ou égale à la tension d'alimentation logique Vcc du circuit intégré. Cette tension
zener sera typiquement de l'ordre de 4,5 à 6 volts. On notera que les diodes zener
à faible tension zener ( en dessou de 4 volts) ne sont pas suffisamment stables en
température (coefficient de température très négatif).
[0016] Une telle diode zener stable en température en technologie MOS est par exemple une
diode obtenue selon le procédé de fabrication décrit dans le brevet IT 2 2228A/89
déposé au nom de SGS-THOMSON MICROELECTRONICS s.r.l.
[0017] Quand le transistor 1 est rendu passant (V
ON=Vcc), la diode zener se retrouve polarisée en inverse, en haute tension: on retrouve
donc la tension zener à ses bornes, VZ, de l'ordre de 5 à 6 volts.
[0018] Le transistor MOS 2 se retrouve donc avec la tension HV sur sa source et la tension
HV-VZ sur sa grille. La tension grille source VGS est donc de l'ordre de cinq à six
volts, très supérieure à sa tension de seuil (environ 0,7 volt pour un transistor
MOS de type P): le transistor 2 se retrouve saturé.
[0019] Comme la tension zener VZ est stable en température, et que cette tension VZ est
très supérieure à la tension de seuil du transistor 2, ce transistor conduit un courant
constant, sensiblement indépendant de la température. Notamment, les variations avec
la température de la tension de seuil du transistor MOS 2 (environ 0.7 volt pour un
transistor MOS de type P) deviennent négligeables.
[0020] On peut très bien transposer ce dispositif avec un transistor saturé non plus de
type P, mais de type N. On obtient le schéma représenté sur la figure 2. On a alors
l'anode de la diode DZ reliée à la masse et le transistor 1 de la figure 1 devient
un transistor 1', de type P et connecté entre la cathode de la diode DZ et la haute
tension HV. La cathode de la diode DZ est connectée sur la grille d'un transistor
MOS 2', de type N. Ce transistor 2' a sa source connectée à la masse et son drain
connecté au drain d'un transistor MOS 3' de type P, monté en diode polarisée en direct,
avec sa source connectée à la haute tension HV. Dès que le transistor MOS 1' est rendu
passant (/V
ON=0 volt), on retrouve alors la tension VZ sur la grille du transistor MOS 2', tandis
que sa source est à zéro volt : il est donc fortement saturé.
[0021] Le courant stable obtenu selon l'un ou l'autre dispositifs représentés peut être
utilisé pour générer plusieurs autres références de courant, au moyen d'une structure
classique à miroir de courant, comme représenté sur la figure 1. Un transistor MOS
4 de type N est ainsi prévu, connecté en série avec un transistor MOS 5 de type P,
entre la masse et la haute tension HV. Le transistor MOS 4 a sa grille connectée à
la grille du transistor MOS 3. Le transistor MOS 5 est monté en diode en direct (grille
et drain reliés). On sait qu'ainsi, on obtient un courant I
ref, directement proportionnel au courant I
ref commandé par le transistor MOS 2.
[0022] Une telle source de courant en technologie MOS selon l'invention s'applique tout
particulièrement à la charge d'un condensateur pour générer une rampe de haute tension.
Une telle application intéresse plus spécialement la programmation de cellules de
mémoires non volatiles.
[0023] Une telle application est représentée schématiquement sur la figure 1.
[0024] La grille du transistor MOS 5 est connectée à la grille d'un autre transistor MOS
6 de même type P, pour reproduire le courant de référence (par miroir de courant).
Ce courant I
ref" permet de charger un condensateur C, sous contrôle d'un circuit 7 pour avoir les
durées de paliers voulues ainsi que la durée de la rampe. Le transistor MOS 8 connecté
en série entre la haute tension HV et le transistor MOS 6 permet simplement d'activer
(commande ON) le générateur de rampe, pour produire la rampe en sortie OUT, prise
entre ces deux transistors MOS 6 et 8.
[0025] L'utilisation de deux miroirs de courant successifs permet de diviser le courant
I
ref par cent ou par mille très facilement pour charger le condensateur, avec des tailles
de transistors 3, 5 et 6 très raisonnables.
[0026] L'invention est particulièrement simple à mettre en oeuvre et sera aisément intégrée
dans un circuit mémoire non volatile (monolithique), en ce qui concerne l'application
plus particulièrement décrite. Notamment, l'invention est spécialement adaptée aux
microcircuits destinés aux cartes à puce. Mais l'invention ne se limite pas à ces
domaines.
1. Source de courant dans un circuit intégré en technologie MOS, comprenant un transistor
MOS (2) commandé sur sa grille en tension constante pour délivrer un courant (Iref), caractérisé en ce que ledit transistor est polarisé en haute tension (HV) supérieure
à la tension d'alimentation du circuit, et en ce que la source de courant comprend
une diode zener (DZ) polarisée en inverse en haute tension pour appliquer entre la
grille et la source dudit transistor une tension zener (VZ) stable en température,
supérieure ou égale à la tension d'alimentation logique (Vcc) du circuit, de manière
à saturer ledit transistor.
2. Source de courant selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'elle comprend une
structure à miroir de courant pour produire plusieurs courants de référence proportionnels.
3. Dispositif de génération d'une rampe de haute tension, caractérisé en ce qu'il comprend
une source de courant selon la revendication 1 ou 2 pour charger un condensateur.
4. Mémoire non volatile en circuit intégré comprenant un générateur de rampe de haute
tension de programmation selon la revendication 3.
5. Carte à puce comprenant une mémoire non volatile selon la revendication 4.