(19)
(11) EP 0 854 732 A2

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
29.07.1998  Patentblatt  1998/31

(21) Anmeldenummer: 96945477.0

(22) Anmeldetag:  26.09.1996
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
A61K 49/ 00( . )
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE1996/001878
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 1997/013490 (17.04.1997 Gazette  1997/17)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE

(30) Priorität: 11.10.1995 DE 19951039409

(71) Anmelder: INSTITUT FÜR DIAGNOSTIKFORSCHUNG GmbH AN DER FREIEN UNIVERSITÄT BERLIN
14050 Berlin (DE)

(72) Erfinder:
  • LICHA, Kai
    14169 Berlin (DE)
  • RIEFKE, Björn
    13595 Berlin (DE)
  • WEITSCHIESS, Werner
    10961 Berlin (DE)
  • HELDMANN, Dieter
    10555 Berlin (DE)
  • SUDMANN, Violetta
    13357 Berlin (DE)

(74) Vertreter: Wablat, Wolfgang, Dr.Dr. 
Patentanwalt, Potsdamer Chaussee 48
14129 Berlin
14129 Berlin (DE)

   


(54) KONTRASTMITTEL FÜR DIE NAHINFRAROT-DIAGNOSTIK