(19)
(11) EP 0 865 056 A3

(12) EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG

(88) Veröffentlichungstag A3:
31.03.1999  Patentblatt  1999/13

(43) Veröffentlichungstag A2:
16.09.1998  Patentblatt  1998/38

(21) Anmeldenummer: 98250082.9

(22) Anmeldetag:  04.03.1998
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)6H01H 33/56
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO SI

(30) Priorität: 05.03.1997 DE 19711123

(71) Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • Marin, Heiner
    14055 Berlin (DE)
  • Lehmann, Volker
    14929 Treuenbrietzen (DE)
  • Dienemann, Hold, Dr.
    12527 Berlin (DE)

   


(54) Vorrichtung zur Verbesserung des Isoliergasaustausches in einem Hochspannungsschalter


(57) Im oberen Bereich eines Hochspannungsschaltergehäuses (1, 5, 6) entstehen durch das Schalten in der Unterbrechereinheit Zersetzungsprodukte, die das Isoliergas verunreinigen. Eine Vorrichtung zur Reinigung des Isoliergases (6, 7, 8) befindet sich im unteren Bereich des Hochspannungsschaltergehäuses (1 ,5, 6). Bisher fand der Isoliergasaustausch vom oberen in den unteren Bereich nur durch Diffusion statt.
Die im Hochspannungsschaltergehäuse befindliche hohle Schaltstange (2) erhalt gemäß der Erfindung am oberen und am unteren Ende eine oder mehrere Durchtrittsöffnungen (9, 10). Äußere Temperaturschwankungen, z. B. zwischen Tag und Nacht rufen eine Temperaturdifferenz zwischen den Isoliergas innerhalb und den Isoliergas außerhalb der Schaltstange (2) hervor. Aufgrund dieser Temperaturdifferenz entsteht eine Konvektionsströmung innerhalb und außerhalb der Schaltstange (2), wodurch das verunreinigte Isoliergas transportiert wird.







Recherchenbericht