(19)
(11) EP 0 874 998 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
04.11.1998  Patentblatt  1998/45

(21) Anmeldenummer: 97900955.0

(22) Anmeldetag:  03.01.1997
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01R 15/ 24( . )
G01R 33/ 032( . )
 G01R 19/ 00( . )
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP1997/000022
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 1997/026547 (24.07.1997 Gazette  1997/32)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
CH DE FR GB IT LI

(30) Priorität: 18.01.1996 DE 19961001727

(71) Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • BOSSELMANN, Thomas
    D-91054 Erlangen (DE)
  • MENKE, Peter
    D-91054 Erlangen (DE)

   


(54) OPTISCHES MESSVERFAHREN UND OPTISCHE MESSANORDNUNG ZUM MESSEN EINES MAGNETISCHEN WECHSELFELDES MIT ERWEITERTEM MESSBEREICH UND GUTER LINEARITÄT