AT..CHDE....FRGB..ITLI..NLSE............FI......................................*JDIM350 (Ver 2.1 Jan 2001) 2999001/00901609KORRIGIERTE EUROPÄISCHE PATENTSCHRIFTB8B120051228W10000000073DEBibliographieENBibliographyFRBibliographieEP98909395.0199802051998083120030918dedede1970485319970210DE20051228200552199903171999112005102620054320040720200512282005527 7G 01C 17/30 A 7G 01C 17/38 B 7G 01C 21/20 B 7G 01C 25/00 BdeVERFAHREN ZUM BESTIMMEN VON KORREKTURPARAMETERNenMETHOD AND DEVICE FOR DETERMINING CORRECTION PARAMETERSfrPROCEDE DE DETERMINATION DE PARAMETRES DE CORRECTIONEP-A- 0 161 668EP-A- 0 392 448WO-A-91/07639DE-A- 2 937 426NACHBAUR, PeterMünzersiedlung 3A-6807 FeldkirchATGNEPF SilvioWeedstrasse 6CH-9435 HeerbruggCHDITTRICH, FrankErlenstrasse 9aCH-9445 RebsteinCHVectronix AG04930060E 0330 EPMax-Schmidheiny-Strasse 2029435 HeerbruggCHKaminski, Susanneet al00073521Büchel, Kaminski & Partner Patentanwälte Est. Austrasse 799490 VaduzLIATCHDEFIFRGBITLINLSEEP199800062719980205deWO199803520619980813199832