(19)
(11) EP 0 929 792 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
21.07.1999  Patentblatt  1999/29

(21) Anmeldenummer: 97910232.0

(22) Anmeldetag:  30.09.1997
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
A61B 5/ 00( . )
G01B 11/ 24( . )
G01N 21/ 64( . )
A61C 19/ 04( . )
G01N 21/ 17( . )
A61C 9/ 00( . )
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE1997/002239
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 1998/014753 (09.04.1998 Gazette  1998/14)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
CH DE FR GB LI

(30) Priorität: 01.10.1996 DE 19961040496

(71) Anmelder: Leica Microsystems Heidelberg GmbH
69120 Heidelberg (DE)

(72) Erfinder:
  • ENGELHARDT, Johann
    D-76669 Bad Schönborn (DE)
  • ZAPF, Thomas
    D-67346 Speyer (DE)

(74) Vertreter: Stamer, Harald, et al 
Leica Microsystems Holdings GmbH, Konzernstelle Patente + Marken, Postfach 20 20
35530 Wetzlar
35530 Wetzlar (DE)

   


(54) VERFAHREN ZUR OBERFLÄCHENVERMESSUNG MITTELS KONFOKALMIKROSKOPIE