(19)
(11)
EP 0 929 792 A1
(12)
(43)
Veröffentlichungstag:
21.07.1999
Patentblatt 1999/29
(21)
Anmeldenummer:
97910232.0
(22)
Anmeldetag:
30.09.1997
(51)
Internationale Patentklassifikation (IPC):
A61B
5/
00
( . )
G01B
11/
24
( . )
G01N
21/
64
( . )
A61C
19/
04
( . )
G01N
21/
17
( . )
A61C
9/
00
( . )
(86)
Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE1997/002239
(87)
Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 1998/014753
(
09.04.1998
Gazette 1998/14)
(84)
Benannte Vertragsstaaten:
CH DE FR GB LI
(30)
Priorität:
01.10.1996
DE 19961040496
(71)
Anmelder:
Leica Microsystems Heidelberg GmbH
69120 Heidelberg (DE)
(72)
Erfinder:
ENGELHARDT, Johann
D-76669 Bad Schönborn (DE)
ZAPF, Thomas
D-67346 Speyer (DE)
(74)
Vertreter:
Stamer, Harald, et al
Leica Microsystems Holdings GmbH, Konzernstelle Patente + Marken, Postfach 20 20
35530 Wetzlar
35530 Wetzlar (DE)
(54)
VERFAHREN ZUR OBERFLÄCHENVERMESSUNG MITTELS KONFOKALMIKROSKOPIE