(19)
(11) EP 0 939 916 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
08.09.1999  Patentblatt  1999/36

(21) Anmeldenummer: 97951918.0

(22) Anmeldetag:  19.11.1997
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC): 
G01B 11/ 00( . )
G01S 17/ 46( . )
G01S 7/ 481( . )
 G01B 11/ 02( . )
G02B 21/ 00( . )
G01S 17/ 87( . )
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/EP1997/006460
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 1998/023989 (04.06.1998 Gazette  1998/22)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
CH DE FR GB LI

(30) Priorität: 22.11.1996 CH 19960002881

(71) Anmelder: Leica Microsystems AG
9435 Heerbrugg (CH)

(72) Erfinder:
  • SPINK, Roger
    CH-9442 Berneck (CH)

(74) Vertreter: Stamer, Harald 
Leica Microsystems Holdings GmbH, Konzernstelle Patente + Marken, Postfach 20 20
35530 Wetzlar
35530 Wetzlar (DE)

   


(54) VERFAHREN ZUR ENTFERNUNGSMESSUNG UND ENTFERNUNGSMESSER