OPTISCHE DIAGNOSTIKA ZUR DIAGNOSTIK NEURODEGENERATIVER KRANKHEITEN MITTELS NAHINFRAROT-STRAHLUNG (NIR-STRAHLUNG) - Patent 0942756

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EP 0 942 756 A2

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(43)	Veröffentlichungstag:
	22.09.1999 Patentblatt 1999/38

(21)	Anmeldenummer: 97948710.0

(22)	Anmeldetag: 29.10.1997

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Internationale Patentklassifikation (IPC):

C07D 231/ 22^{( . )}
C07D 209/ 14^{( . )}
C07D 277/ 64^{( . )}
C07H 15/ 26^{( . )}
C07K 16/ 00^{( . )}
C09B 23/ 08^{( . )}
G01N 33/ 52^{( . )}

A61K 49/ 00^{( . )}
C07D 277/ 60^{( . )}
C07H 5/ 06^{( . )}
C07K 14/ 00^{( . )}
C08B 37/ 00^{( . )}
C09B 56/ 16^{( . )}
G01N 33/ 68^{( . )}

(86)	Internationale Anmeldenummer:
	PCT/DE1997/002559

(87)	Internationale Veröffentlichungsnummer:
	WO 1998/022146 (28.05.1998 Gazette 1998/21)

(84)	Benannte Vertragsstaaten:
	AT BE CH DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE

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Priorität:

19.11.1996 DE 19961049971

(71)	Anmelder: INSTITUT FÜR DIAGNOSTIKFORSCHUNG GmbH AN DER FREIEN UNIVERSITÄT BERLIN
	14050 Berlin (DE)

(72)	Erfinder:
	TURNER, Jonathan D-13465 Berlin (DE) DYRKS, Thomas D-16540 Hohenneuendorf (DE) SEMMLER, Wolfhard D-13467 Berlin (DE) LICHA, Kai D-14169 Berlin (DE) RIEFKE, Björn D-14109 Berlin (DE)

(74)	Vertreter: Seuss, Thomas
	Schering AG Patente Müllerstrasse 178 13353 Berlin 13353 Berlin (DE)

(54)	OPTISCHE DIAGNOSTIKA ZUR DIAGNOSTIK NEURODEGENERATIVER KRANKHEITEN MITTELS NAHINFRAROT-STRAHLUNG (NIR-STRAHLUNG)