(19)
(11) EP 0 968 436 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
14.01.1999

(43) Veröffentlichungstag:
05.01.2000  Patentblatt  2000/01

(21) Anmeldenummer: 98916822.4

(22) Anmeldetag:  02.03.1998
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7G01R 31/317
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE9800/608
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 9841/880 (24.09.1998 Gazette  1998/38)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT CH DE ES FR GB IT LI

(30) Priorität: 19.03.1997 DE 19711478

(71) Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • NOLLES, Jürgen
    D-81825 München (DE)
  • VIEHMANN, Hans-Heinrich
    D-81739 München (DE)

   


(54) INTEGRIERTE SCHALTUNG UND VERFAHREN ZUM TESTEN DER INTEGRIERTEN SCHALTUNG