(19)
(11) EP 1 004 030 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
31.05.2000  Patentblatt  2000/22

(21) Anmeldenummer: 98945044.0

(22) Anmeldetag:  23.07.1998
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: G01R 15/24, G01R 33/032
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE9802/081
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 9908/120 (18.02.1999 Gazette  1999/07)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
CH DE FR GB LI

(30) Priorität: 12.08.1997 DE 19734894

(71) Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • BOSSELMAN, Thomas
    91080 Marloffstein (DE)
  • HAIN, Stefan
    D-91090 Effeltrich (DE)
  • WILLSCH, Michael
    D-90762 Fürth (DE)

   


(54) VERFAHREN ZUM MESSEN EINES MAGNETFELDES UND EINRICHTUNG ZUR DURCHFÜHRUNG DES VERFAHRENS