(19)
(11) EP 1 008 993 A3

(12) EUROPÄISCHE PATENTANMELDUNG

(88) Veröffentlichungstag A3:
11.05.2005  Patentblatt  2005/19

(43) Veröffentlichungstag A2:
14.06.2000  Patentblatt  2000/24

(21) Anmeldenummer: 99121604.5

(22) Anmeldetag:  29.10.1999
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: G11C 29/00
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO SI

(30) Priorität: 30.10.1998 DE 19850115

(71) Anmelder: Infineon Technologies AG
81669 München (DE)

(72) Erfinder:
  • Lammers, Stefan
    81739 München (DE)
  • Weber, Werner
    80637 München (DE)

(74) Vertreter: Kottmann, Heinz Dieter, Dipl.-Ing. et al
Patentanwälte MÜLLER & HOFFMANN, Innere Wiener Strasse 17
81667 München
81667 München (DE)

   


(54) Schreib/Lesespeicher mit Selbsttestvorrichtung und zugehöriges Testverfahren


(57) Der Anmeldungsgegenstand betrifft einen Schreib-/Lesespeicher mit einer monolithisch integrierten Selbsttestvorrichtung, die ohne wesentliche externe Texthilfen iterativ einen Fehlertest mit einer Redundanzanalyse ermöglicht. Dies wird im wesentlichen dadurch erreicht, daß zu reparierende Wortleitungen gespeichert und von weiteren Untersuchungen ausgeschlossen werden und jeweils immer die Leitung mit den meisten bisher nicht erfaßten Fehlern ermittelt und zuerst untersucht werden, bis entweder die Anzahl der Reparaturleitungen nicht mehr ausreicht oder keine Fehler mehr auftreten.






Recherchenbericht