(19)
(11) EP 1 068 539 A1

(12)

(43) Veröffentlichungstag:
17.01.2001  Patentblatt  2001/03

(21) Anmeldenummer: 99915498.2

(22) Anmeldetag:  26.02.1999
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7G01R 15/24, G02F 1/03
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE9900/590
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 9945/401 (10.09.1999 Gazette  1999/36)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
CH DE FR GB LI

(30) Priorität: 06.03.1998 DE 19810781

(71) Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
80333 München (DE)

(72) Erfinder:
  • HÜCKER, Thomas
    D-14624 Dallgow (DE)
  • KIMMEL, Michael
    D-68165 Mannheim (DE)

   


(54) VORRICHTUNG ZUM MESEN EINER ELEKTRISCHEN SPANNUNG ODER EINES ELEKTRISCHEN FELDES MITTELS EINES ELEKTROOPTISCHEN KRISTALLS MIT EINER VERJUNGUNG IM QUERS