(19)
(11) EP 1 080 358 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
28.12.2000

(43) Veröffentlichungstag:
07.03.2001  Patentblatt  2001/10

(21) Anmeldenummer: 00929207.9

(22) Anmeldetag:  08.03.2000
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: G01N 1/06
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE0000/727
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 0054/020 (14.09.2000 Gazette  2000/37)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE
Benannte Erstreckungsstaaten:
AL LT LV MK RO SI

(30) Priorität: 12.03.1999 DE 19911005

(71) Anmelder: Leica Microsystems Nussloch GmbH
69226 Nussloch b. Heidelberg (DE)

(72) Erfinder:
  • GÜNTHER, Bernd
    D-74933 Neidenstein (DE)
  • HOLTERMÜLLER, Siegbert
    D-69123 Heidelberg (DE)
  • LAUDAT, Andreas
    D-74909 Meckesheim (DE)
  • METZNER, Rolf
    D-69221 Dossenheim (DE)
  • WALTER, Roland
    D-68804 Altlussheim (DE)

(74) Vertreter: Reichert, Werner F., Dr. 
Leica Microsystems AG,Konzernstelle Patente + Marken,Postfach 20 20
35530 Wetzlar
35530 Wetzlar (DE)

   


(54) VERFAHREN ZUR ZUSTELLUNG EINER PROBE ODER EINES SCHNEIDMESSERS IN EINE SCHNITTEBENE EINES MIKROTOMS