(19)
(11) EP 1 095 406 A2

(12)

(88) Veröffentlichungstag A3:
16.03.2000

(43) Veröffentlichungstag:
02.05.2001  Patentblatt  2001/18

(21) Anmeldenummer: 99942752.9

(22) Anmeldetag:  01.07.1999
(51) Internationale Patentklassifikation (IPC)7: H01L 27/108, H01L 21/8242, H01L 29/04
(86) Internationale Anmeldenummer:
PCT/DE9901/934
(87) Internationale Veröffentlichungsnummer:
WO 0002/249 (13.01.2000 Gazette  2000/02)
(84) Benannte Vertragsstaaten:
AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE

(30) Priorität: 02.07.1998 DE 19829629

(71) Anmelder: Infineon Technologies AG
81669 München (DE)

(72) Erfinder:
  • STENGL, Reinhard
    D-86391 Stadtbergen (DE)
  • FRANOSCH, Martin
    D-81739 München (DE)
  • SCHÄFER, Herbert
    D-85635 Höhenkirchen-Siegertsbrunn (DE)
  • LEHMANN, Volker
    D-80689 München (DE)
  • REISINGER, Hans
    D-82031 Grünwald (DE)
  • WENDT, Hermann
    D-85630 Grasbrunn (DE)

(74) Vertreter: Barth, Stephan Manuel, Dr. 
Reinhard-Skuhra-Weise & Partner Gbr,PatentanwälteFriedrichstrasse 31
80801 München
80801 München (DE)

   


(54) INTEGRIERTE SCHALTUNGSANORDNUNG MIT P-N-ÜBERGÄNGEN MIT REDUZIERTEN DEFEKTEN